[發(fā)明專利]酸法后制絨無死層發(fā)射極的制備工藝有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210083892.7 | 申請日: | 2012-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN102623558A | 公開(公告)日: | 2012-08-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 程亮;張黎明;劉鵬;姜言森;賈河順;任現(xiàn)坤;姚增輝;張春艷 | 申請(專利權(quán))人: | 山東力諾太陽能電力股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 濟南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205 | 代理人: | 宋玉霞 |
| 地址: | 250103 山東省濟南*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 酸法后制絨無死層 發(fā)射極 制備 工藝 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于晶體硅太陽能電池的制作技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種酸法后制絨無死層發(fā)射極的制備工藝。
背景技術(shù)
隨著化石能源的枯竭,太陽能電池作為一種綠色能源,得到快速的發(fā)展。晶體硅太陽能電池成為目前太陽能電池領(lǐng)域的主流,如何降低太陽能電池的成本,提高太陽能電池的效率成為國內(nèi)外晶體硅太陽能電池研究的重點。
發(fā)射極作為太陽能電池的關(guān)鍵組成部分,其表面摻雜濃度,直接影響太陽能電池的效率。因為當摻雜濃度大于1020/cm3時,將成為死層區(qū),因此,通過降低發(fā)射極表面的摻雜濃度,提高電池片對短波段的響應,以及降低暗電流,提高開路電壓,成為目前提高電池效率的主要方法。然而傳統(tǒng)的發(fā)射極的制備,硅片表面的摻雜濃度都高于1020/cm3,因此表面會形成幾十納米的死層區(qū),影響電池的效率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是針對上述存在的缺陷,提供一種酸法后制絨無死層發(fā)射極的制備工藝,采用先擴散后制絨的方法,制備具有優(yōu)良性能的無死層發(fā)射極,其工序包括,傳統(tǒng)擴散低方阻發(fā)射極的制備,表面酸制絨同時去除高摻雜死層發(fā)射極區(qū),清洗。本發(fā)明可以有效地去除電池片表面的死層發(fā)射極區(qū),提高太陽能電池的短波響應,減小暗電流,有效提高電池片的開路電壓,并且易于工業(yè)化生產(chǎn)。
本發(fā)明的技術(shù)方案為:一種酸法后制絨無死層發(fā)射極的制備工藝,包括以下步驟:
(1)將硅片放入擴散爐,進行擴散制備低方阻為0—20ohm/sq的發(fā)射極;
(2)表面酸制絨同時去除高摻雜死層發(fā)射極區(qū):將硅片放入HNO3和HF溶液中,浸泡1—30min,完成表面制絨,同時得到方阻為50—150ohm/sq的無死層發(fā)射極,所述的HNO3和HF溶液的溫度為5—15℃,其中HNO3的濃度為20—500g/L,HF的濃度為5—200g/L;
(3)清洗:將硅片放入濃度為1—5%KOH溶液中,清洗0.5—5分鐘,然后再放入濃度為5—15%的HCl和濃度為2%—10%的HF酸混合溶液中清洗0.5—5分鐘,清洗后,無死層發(fā)射極表面的摻雜濃度低于1020/cm3。
本發(fā)明所述的硅片為多晶或類單晶硅。
本發(fā)明的有益效果為:本發(fā)明的一種酸法后制絨無死層發(fā)射極的制備工藝,采用先擴散后制絨的方法,制備具有優(yōu)良性能的無死層發(fā)射極,其工序包括,傳統(tǒng)擴散低方阻發(fā)射極的制備,表面酸制絨同時去除高摻雜死層發(fā)射極區(qū),清洗。本發(fā)明應用于多晶硅或類單晶硅,可以有效地去除電池片表面的死層發(fā)射極區(qū),能更徹底得進行吸雜和去除死層發(fā)射極區(qū),提高太陽能電池的短波響應,減小暗電流,有效提高電池片的開路電壓,并且易于工業(yè)化生產(chǎn)。
附圖說明:
圖1所示為晶體硅傳統(tǒng)擴散結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2所示為本發(fā)明無死層發(fā)射極結(jié)構(gòu)示意圖;
圖中,1.擴散源原子,2.含摻雜源的硅玻璃,3.死層發(fā)射極,4.無死層發(fā)射極,5.硅片。
具體實施方式:
為了更好地理解本發(fā)明,下面結(jié)合附圖來詳細說明本發(fā)明的技術(shù)方案,但是本發(fā)明并不局限于此。
本發(fā)明是一種酸法后制絨無死層發(fā)射極的制備工藝,技術(shù)方案為,包含以下工藝步驟:傳統(tǒng)擴散低方阻發(fā)射極的制備,表面制絨同時去除高摻雜死層發(fā)射極3區(qū),清洗。
具體步驟為:
(1)將硅片5放入擴散爐,進行擴散制備低方阻為0—20ohm/sq的發(fā)射極;
(2)表面酸制絨同時去除高摻雜死層發(fā)射極3區(qū):將硅片5放入HNO3和HF溶液中,浸泡1—30min,完成表面制絨,同時得到方阻為50—150ohm/sq的無死層發(fā)射極4,所述的HNO3和HF溶液的溫度為5—15℃,其中HNO3的濃度為20—500g/L,HF的濃度為5—200g/L;
(3)清洗:將硅片5放入濃度為1—5%KOH溶液中,清洗0.5—5分鐘,然后再放入濃度為5—15%的HCl和濃度為2%—10%的HF酸混合溶液中清洗0.5—5分鐘,清洗后,發(fā)射極表面的摻雜濃度低于1020/cm3。
本發(fā)明所述的硅片5為多晶或類單晶硅。
實施例1
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





