[發明專利]大平片光譜測試儀

有效

• 申請號: 201210081417.6
• 申請日: 2012-03-23
• 公開（公告）號: CN102621087A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發明（設計）人: 馮邁東
• 申請（專利權）人: 上海欣茂儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31
• 代理公司: 上海伯瑞杰知識產權代理有限公司 31227
• 代理人: 吳澤群

技術領域

本發明涉及用于物質成分分析的光譜儀器領域，具體講就是涉及一種可以對大尺寸樣品小通光孔進行垂直測試的大平片光譜測試儀。?

背景技術

大平片光譜測試儀的基本工作原理是溶液中的物質在光的照射激發下，產生了對光的吸收效應，物質對光的吸收是具有選擇性的，各種不同的物質都具有其各自的吸收光譜，因此當某單色光通過溶液時，其能量就會被吸收而減弱，光能量減弱的程度和物質的濃度有一定的比例關系，大平片光譜測試儀就是利用這一原理來對被分析樣品和標樣光強度的對比來分析物質成分的。?

大平片光譜測試儀在農產品、食品、衛生、醫藥、化工、人民生活等各個領域都有著廣泛的應用，是現代工業、農業、科學研究不可缺少的分析儀器。大平片光譜測試儀基本結構由光源、單色器、樣品室、光電檢測裝置和信號指示裝置五部分組成。

大平片光譜測試儀有一個超大樣品室是放置被檢測樣品的地方，傳統的測試儀器樣品室體積較小，一旦待測試樣品為板型樣品時，樣品只能豎立在測試平臺上，不利于樣品的定位，嚴重地的影響了測試精度和測試準確性，如果需要測試尺寸大于80mm×100mm的樣品時，還需要將大塊樣品進行破壞，裁剪成小于80mm×100mm的尺寸才能測試，操作復雜，無法測試尺寸較大且不允許破壞的樣品。?

同時目前傳統的測試儀器在測試過程中，測試光斑較大，不適用于現有越來越多科學技術領域對測試光斑的要求。?

發明內容

本發明的目的提供一種大平片光譜測試儀，通過對傳統測試儀器中光路傳輸方向的改變，同時設計了超大的樣品室，以及可選擇不同大小的四檔測試光斑，縮小測試光斑，實現了大尺寸待測樣品的小通光孔測試，使待測樣品可以直接放在工作臺上測試，保證了測試精度和測試準確性，操作簡便，又可以不破壞測試樣品，節約了成本。?

技術方案?

為了實現上述的技術目的，本發明設計一種大平片光譜測試儀，包括外殼、底板、光源燈室、單色器、出射光狹縫組件、入射光狹縫組件、樣品室、檢測裝置、測試平臺、按鍵、顯示器、儀器面板和通訊接口，所述光源燈室裝在底板內，底板上光源燈室下方裝有單色器，出射光出狹縫組件和入射光狹縫組件分別安裝在單色器底座上互成90°垂直的相鄰二側面上，樣品室裝在底板的右側，檢測裝置和測試平臺都設置在樣品室內，外殼罩在底板上，外殼的正面上還設有儀器面板，儀器面板上設有顯示器和按鍵，外殼后側下部設有通訊接口，其特征在于：?

所述出射光狹縫組件和入射光狹縫組件各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6.6nm、10nm。?

所述外殼由工程塑料制成。?

所述底板由2.0mm鈑金材料制成。?

所述光源燈室中光源為鎢燈。?

所述樣品室由1.0mm鈑金材料制成，尺寸規格為300mm×400mm。?

有益效果?

本發明大平片光譜測試儀進行了新的設計，單色光經透鏡再經45°的反射鏡將單色光垂直穿透過樣品再射到光電接收器，從而實現了樣品可以直接平放在放在工作臺上進行測試，確保了小孔徑樣品的定位，同時采用可調狹縫，減小了測試光斑，實現對大尺寸樣品小通光孔進行垂直測試，保證了測試精度和準?確性。?

附圖說明

附圖1是發明的立體結構圖。?

附圖2是本發明的俯視方向示意圖。?

附圖3是本發明的外形示意圖。?

具體實施方式

下面結合附圖和實施例，對本發明做進一步說明。?

如附圖1、2和3所示，一種大平片光譜測試儀，包括工程塑料制成的外殼1、2.0mm鈑金材料制成底板2、光源燈室3、單色器4、出射光狹縫組件5、入射光狹縫組件6、樣品室7、檢測裝置8、測試平臺9、按鍵10、顯示器11、儀器面板12和通訊接口13，所述光源燈室3裝在底板2內，底板2上光源燈室3下方裝有單色器4，出射光出狹縫組件5和入射光狹縫組件6分別安裝在單色器4底座上互成90°垂直的相鄰二側面上，樣品室7裝在底板2的右側，檢測裝置80和測試平臺90都設置在樣品室7內，外殼1罩在底板2上，外殼1的正面上還設有儀器面板12，儀器面板12上設有顯示器11和按鍵10，外殼1后側下部設有通訊接口13，其特征在于：?

所述出射光狹縫組件5和入射光狹縫組件6各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6.6nm、10nm。?

所述光源燈室3中光源為鎢燈。?

所述超大樣品室由1.0mm鈑金材料制成，尺寸規格為300mm×400mm。?