[發(fā)明專利]大平片光譜測試儀

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210081417.6
• 申請日: 2012-03-23
• 公開（公告）號: CN102621087A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 馮邁東
• 申請（專利權(quán)）人: 上海欣茂儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31
• 代理公司: 上海伯瑞杰知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31227
• 代理人: 吳澤群

1.一種大平片光譜測試儀，包括外殼(1)、底板(2)、光源燈室(3)、單色器(4)、出射光狹縫組件(5)、入射光狹縫組件(6)、樣品室(7)、檢測裝置(8)、測試平臺(9)、按鍵(10)、顯示器(11)、儀器面板(12)和通訊接口(13)，所述光源燈室(3)裝在底板(2)內(nèi)，底板(2)上光源燈室(3)下方裝有單色器(4)，出射光出狹縫組件(5)和入射光狹縫組件(6)分別安裝在單色器(4)底座上互成90°垂直的相鄰二側(cè)面上，樣品室(7)裝在底板(2)的右側(cè)，檢測裝置(8)和測試平臺(9)都設(shè)置在樣品室(7)內(nèi)，外殼(1)罩在底板(2)上，外殼(1)的正面上還設(shè)有儀器面板(12)，儀器面板(12)上設(shè)有顯示器(11)和按鍵(10)，外殼(1)后側(cè)下部設(shè)有通訊接口(13)，其特征在于：

所述出射光狹縫組件(5)和入射光狹縫組件(6)各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6.6nm、10nm。

2.如權(quán)利要求1所述的一種大平片光譜測試儀，其特征在于：所述外殼(1)由工程塑料制成。

3.如權(quán)利要求1所述的一種大平片光譜測試儀，其特征在于：所述底板(2)由2.0mm鈑金材料制成。

4.如權(quán)利要求1所述的一種大平片光譜測試儀，其特征在于：所述光源燈室(3)中光源為鎢燈。

5.如權(quán)利要求1所述的一種大平片光譜測試儀，其特征在于：所述樣品室由1.0mm鈑金材料制成，尺寸規(guī)格為300mm×400mm。