[發明專利]非揮發性存儲器棋盤格測試電路及其檢測方法

有效

• 申請號: 201210079098.5
• 申請日: 2012-03-23
• 公開（公告）號: CN103325421A
• 公開（公告）日: 2013-09-25
• 發明（設計）人: 雷冬梅;趙鋒;張愛東
• 申請（專利權）人: 上海華虹NEC電子有限公司
• 主分類號: G11C29/08
• 分類號: G11C29/08
• 代理公司: 上海浦一知識產權代理有限公司 31211
• 代理人: 丁紀鐵

1.一種非揮發性存儲器棋盤格測試電路，用于對容量為2^N個存儲單元的非揮發性存儲器進行棋盤格測試，其特征在于，棋盤格測試電路包括：棋盤格地址產生電路、讀控制信號產生電路、數據比較電路；

所述棋盤格地址產生電路用于輸出測試地址到所述非揮發性存儲器，所述棋盤格地址產生電路包括N位地址寄存器、N位帶進位/借位的加/減法器和加/減控制電路；

每1位加/減法器都能實現1位數據與一位進/借位位或數據相加減，并輸出新的數據和新的進/借位位；

所述N位地址寄存器和N位加/減法器的連接關系為：

第0位加/減法器由第0位地址寄存器的值與1相加/減，產生新的第0位地址送到所述第0位地址寄存器，同時產生一個進位/借位位，送到第1位加法器的輸入端；

第n位加/減法器由第n-1位加/減法器的進位/借位位與第n位地址寄存器的值相加，產生新的第n位地址送到所述第n位地址寄存器，同時產生第n位進位/借位位，其中n為1至N-1之間的值；

以第N-1位加/減法器的進位/借位位作為檢測結束信號，用于控制所述棋盤格測試電路的檢測結束。

2.如權利要求1所述的非揮發性存儲器棋盤格測試電路，其特征在于：當所述檢測結束信號為1時，所述棋盤格測試電路的檢測結束。

3.如權利要求1所述的非揮發性存儲器棋盤格測試電路，其特征在于：所述讀控制信號產生電路產生一讀控制信號，用于控制所述非揮發性存儲器中位于所述測試地址處的數據的讀??；所述檢測結束信號輸入到所述讀控制信號產生電路，當所述檢測結束信號為1時，所述讀控制信號產生電路結束工作。

4.如權利要求1所述的非揮發性存儲器棋盤格測試電路，其特征在于：所述數據比較電路用于檢測從所述非揮發性存儲器中所讀取的數據是否和預期值相同；所述檢測結束信號輸入到所述數據比較電路，當所述檢測結束信號為1時，所述數據比較電路結束工作。

5.一種非揮發性存儲器棋盤格測試電路，用于對容量為2^M+2^M1個存儲單元的非揮發性存儲器進行棋盤格測試，令M大于M1，其特征在于，棋盤格測試電路包括：棋盤格地址產生電路、讀控制信號產生電路、數據比較電路；

所述棋盤格地址產生電路用于輸出測試地址到所述非揮發性存儲器，所述棋盤格地址產生電路包括M+1位地址寄存器、M位帶進位/借位的加/減法器和加/減控制電路；

每1位加/減法器都能實現1位數據與一位進/借位位或數據相加減，并輸出新的數據和新的進/借位位；

所述M+1位地址寄存器和M位加/減法器的連接關系為：

第0位加/減法器由第0位地址寄存器的值與1相加/減，產生新的第0位地址送到所述第0位地址寄存器，同時產生一個進位/借位位，送到第1位加法器的輸入端；

第n位加/減法器由第n-1位加/減法器的進位/借位位與第n位地址寄存器的值相加，產生新的第n位地址送到所述第n位地址寄存器，同時產生第n位進位/借位位，其中n為1至M-1之間的值；

以第M-1位加/減法器的進位/借位位和第M1-1位加/減法器的進位/借位位的與值作為檢測結束信號，用于控制所述棋盤格測試電路的檢測結束。

6.如權利要求5所述的非揮發性存儲器棋盤格測試電路，其特征在于：當所述檢測結束信號為1時，所述棋盤格測試電路的檢測結束。

7.如權利要求5所述的非揮發性存儲器棋盤格測試電路，其特征在于：所述讀控制信號產生電路產生一讀控制信號，用于控制所述非揮發性存儲器中位于所述測試地址處的數據的讀??；所述檢測結束信號輸入到所述讀控制信號產生電路，當所述檢測結束信號為1時，所述讀控制信號產生電路結束工作。

8.如權利要求5所述的非揮發性存儲器棋盤格測試電路，其特征在于：所述數據比較電路用于檢測從所述非揮發性存儲器中所讀取的數據是否和預期值相同；所述檢測結束信號輸入到所述數據比較電路，當所述檢測結束信號為1時，所述數據比較電路結束工作。

9.如權利要求1至8所述的非揮發性存儲器棋盤格測試電路的檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟一、在所述棋盤格地址產生電路中設定所述測試地址的初始值并輸出到所述非揮發性存儲器；

步驟二、所述讀控制信號產生電路產生所述讀控制信號；

步驟三、所述數據比較電路從所述非揮發性存儲器中讀取位于所述測試地址處的數據并檢測所讀取的數據是否和預期值相同；

步驟四、所述棋盤格地址產生電路對所述測試地址進行加操作或減操作；

步驟五、重復步驟三和步驟四，直到所述檢測結束信號為1時，所述數據比較電路結束工作。