[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210071400.2 | 申請日: | 2012-03-16 |
| 公開(公告)號: | CN103022098A | 公開(公告)日: | 2013-04-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 大田剛志;三須伸一郎;新井雅俊 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社東芝 |
| 主分類號: | H01L29/41 | 分類號: | H01L29/41 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 陳萍 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 | ||
1.半導(dǎo)體器件,其特征在于,具備:
襯底;
第1導(dǎo)通部,在與上述襯底的主面正交的第1方向上延伸;
第2導(dǎo)通部,在上述第1方向上延伸,沿著與上述第1方向正交的第2方向而與上述第1導(dǎo)通部分離設(shè)置;
半導(dǎo)體部,設(shè)置在上述第1導(dǎo)通部和上述第2導(dǎo)通部之間,包括基于第1雜質(zhì)濃度的第1導(dǎo)電型的第1半導(dǎo)體區(qū)域;
第1電極部,在上述第1導(dǎo)通部和上述第2導(dǎo)通部之間于上述第1方向延伸;
第2電極部,在上述第1電極部和上述第2導(dǎo)通部之間于上述第1方向延伸,與上述第1電極部分離設(shè)置;
第1絕緣部,設(shè)置在上述第1電極部和上述半導(dǎo)體部之間,在上述第1電極部的邊界面的法線方向上具有第1厚度;及
第2絕緣部,設(shè)置在上述第2電極部和上述半導(dǎo)體部之間,在上述第2電極部的邊界面的法線方向上具有比上述第1厚度還厚的第2厚度。
2.如權(quán)利要求1記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述第1電極部沿著上述第2方向從上述第1導(dǎo)電部的中途到上述半導(dǎo)體部的中途設(shè)置。
3.如權(quán)利要求1記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述第2厚度從上述第1導(dǎo)通部向上述第2導(dǎo)通部逐漸增大。
4.如權(quán)利要求1記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述第2厚度從上述第1導(dǎo)通部向上述第2導(dǎo)通部反復(fù)增減。
5.如權(quán)利要求1記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述第2電極部包括在上述第2方向上分別分離配置的多個電極區(qū)域。
6.如權(quán)利要求5記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述第1絕緣部和上述第2絕緣部在上述第2方向上分離設(shè)置,
上述第2絕緣部在上述多個電極區(qū)域的每個電極區(qū)域分離設(shè)置。
7.如權(quán)利要求1記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述第1厚度之中,沿著上述第1方向的厚度比沿著上述第2方向的厚度還厚。
8.如權(quán)利要求1記載的半導(dǎo)體器件,其中,
還具備第3絕緣部,該第3絕緣部設(shè)置在上述第1電極部和上述第1導(dǎo)通部之間,在上述第1電極部的邊界面和上述第1導(dǎo)通部的邊界面對置的方向上具有比上述第1厚度還厚的第3厚度。
9.如權(quán)利要求1記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述半導(dǎo)體部包括設(shè)置在上述第1導(dǎo)通部和上述第1半導(dǎo)體區(qū)域之間的第2導(dǎo)電型的第2半導(dǎo)體區(qū)域,
上述第1電極部及上述第1絕緣部沿著上述第2方向而貫穿上述第2半導(dǎo)體區(qū)域。
10.如權(quán)利要求9記載的半導(dǎo)體器件,其中,
沿著上述第1方向的上述第2電極部的長度,比沿著上述第1方向的上述第1電極部的長度還長。
11.如權(quán)利要求1記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述第1電極部與上述第1導(dǎo)通部導(dǎo)通,
上述第1導(dǎo)通部與上述半導(dǎo)體部被肖特基接合。
12.如權(quán)利要求11記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述半導(dǎo)體部在上述半導(dǎo)體部的上述第1導(dǎo)通部側(cè),具有為上述第1導(dǎo)電型、且雜質(zhì)濃度低于上述第1雜質(zhì)濃度的第1濃度區(qū)域。
13.如權(quán)利要求11記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述半導(dǎo)體部在上述半導(dǎo)體部的上述第1導(dǎo)通部側(cè),具有為上述第1導(dǎo)電型、且雜質(zhì)濃度高于上述第1雜質(zhì)濃度的第2濃度區(qū)域。
14.如權(quán)利要求11記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述半導(dǎo)體部在上述襯底和上述第1導(dǎo)通部之間,在上述第1導(dǎo)通部側(cè)包括第2導(dǎo)電型的第3濃度區(qū)域。
15.如權(quán)利要求11記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述半導(dǎo)體部在上述襯底和上述第1導(dǎo)通部之間,在上述第1導(dǎo)通部側(cè)包括為上述第1導(dǎo)電型、且雜質(zhì)濃度低于上述第1雜質(zhì)濃度的第4濃度區(qū)域。
16.如權(quán)利要求11記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述第1電極部與上述第1導(dǎo)通部和上述半導(dǎo)體部之間的邊界面分離設(shè)置。
17.如權(quán)利要求1記載的半導(dǎo)體器件,其中,
上述第1絕緣部和上述第2絕緣部在上述第2方向上分離設(shè)置。
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H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





