[發(fā)明專利]貼片機(jī)檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210070027.9 | 申請(qǐng)日: | 2012-03-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103307973A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-09-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 賴志成 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/00 | 分類號(hào): | G01B11/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 貼片機(jī) 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種貼片機(jī)檢測(cè)裝置,其包括一個(gè)待測(cè)組件、一個(gè)光源、一個(gè)罩體以及一個(gè)照像模塊,所述待測(cè)組件的側(cè)邊設(shè)置所述光源,所述光源被所述罩體所覆蓋,所述罩體的內(nèi)表面具有一個(gè)霧化反射層,所述罩體上端設(shè)置有一個(gè)開(kāi)口,所述開(kāi)口上方設(shè)置所述照像模塊,所述照像模塊通過(guò)所述開(kāi)口對(duì)著所述待測(cè)組件進(jìn)行檢測(cè)。
2.如權(quán)利要求1所述的貼片機(jī)檢測(cè)裝置,其特征在于:所述待測(cè)組件包括一個(gè)電路板以及復(fù)數(shù)個(gè)貼片元件,所述貼片元件黏貼在所述電路板的預(yù)定黏貼位置上。
3.如權(quán)利要求2所述的貼片機(jī)檢測(cè)裝置,其特征在于:所述待測(cè)組件是為L(zhǎng)ED燈條,所述電路板為長(zhǎng)條形狀,所述貼片元件為L(zhǎng)ED芯片。
4.如權(quán)利要求1所述的貼片機(jī)檢測(cè)裝置,其特征在于:所述光源是為側(cè)向光源,分別設(shè)置于所述待測(cè)組件的兩側(cè),所述兩側(cè)向光源之間為所述待測(cè)組件的待檢測(cè)位置。
5.如權(quán)利要求1所述的貼片機(jī)檢測(cè)裝置,其特征在于:所述光源的照明光線向上端發(fā)射,所述待測(cè)組件的所述貼片元件受檢表面與所述光源照明光線同向。
6.如權(quán)利要求1所述的貼片機(jī)檢測(cè)裝置,其特征在于:所述罩體具有一個(gè)弧形殼體,所述弧形殼體位于所述開(kāi)口的兩側(cè),所述弧形殼體對(duì)著所述光源。
7.如權(quán)利要求6所述的貼片機(jī)檢測(cè)裝置,其特征在于:所述光源向上端發(fā)射的照明光線受所述弧形殼體遮蓋而投射在所述弧形殼體的內(nèi)緣面上。
8.如權(quán)利要求1所述的貼片機(jī)檢測(cè)裝置,其特征在于:所述霧化反射層包括有粗糙面以及高反射層,所述霧化反射層形成在所述弧形殼體的內(nèi)緣面上。
9.如權(quán)利要求1所述的貼片機(jī)檢測(cè)裝置,其特征在于:所述罩體的材料為不透光的材質(zhì)或在外表面具有高反射層。
10.如權(quán)利要求8所述的貼片機(jī)檢測(cè)裝置,其中,所述高反射層材料為二氧化鈦(TiO2)。
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