[發(fā)明專利]一種新型的超高分辨光電融合顯微成像系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210069941.1 | 申請(qǐng)日: | 2012-03-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103308496A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-09-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐濤;羅志勇;紀(jì)偉;倉(cāng)懷興;孟濤;張翔;季剛;付彥輝;賈策 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 徐濤;羅志勇;紀(jì)偉 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/64 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/64;G02B21/36;G02B21/06 |
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| 地址: | 100101*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 新型 超高 分辨 光電 融合 顯微 成像 系統(tǒng) | ||
1.一種高分辨熒光顯微鏡和掃描電鏡結(jié)合的光電融合熒光顯微成像系統(tǒng)。其特征在于,該光電融合顯微成像系統(tǒng)包括:熒光顯微鏡系統(tǒng)、樣品轉(zhuǎn)移系統(tǒng)、樣品切片系統(tǒng)和掃描電鏡系統(tǒng),其中:
熒光顯微鏡系統(tǒng):用于激發(fā)樣品熒光,獲取高分辨率的熒光圖像,獲得被探測(cè)分子的精確定位。
樣品轉(zhuǎn)移系統(tǒng):用于樣品在熒光顯微鏡系統(tǒng)和掃描電鏡系統(tǒng)之間轉(zhuǎn)移,實(shí)現(xiàn)高分辨率熒光成像和掃描電子成像。
樣品切片系統(tǒng):對(duì)樣品進(jìn)行超薄切片,使電鏡和熒光顯微鏡能對(duì)樣品內(nèi)部成像,獲得樣品的三維圖像信息。
掃描電鏡系統(tǒng):用于進(jìn)行樣品掃描電子成像,獲取樣品的結(jié)構(gòu)信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電融合顯微成像系統(tǒng),其特征在于:熒光顯微鏡系統(tǒng)主體部分、樣品切片系統(tǒng)位于掃描電鏡樣品室,三者在計(jì)算機(jī)的控制下有序工作。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熒光顯微鏡系統(tǒng),其特征在于:所述的熒光顯微鏡系統(tǒng)可以是光激活定位顯微鏡(photoactivated?localization?microscopy),或者是隨機(jī)光學(xué)重構(gòu)顯微鏡(stochastic?optical?reconstruction?microscopy),或者是雙光子激發(fā)熒光顯微鏡,或者是共聚焦熒光顯微鏡,或者是全內(nèi)反射熒光顯微鏡,或者是受激發(fā)射損耗顯微鏡(stimulated?emission?depletion),或者是飽和結(jié)構(gòu)照明顯微鏡(saturated?structure?illumination?microscopy)等超高分辨熒光顯微技術(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熒光顯微鏡系統(tǒng),其特征在于:所述熒光顯微鏡系統(tǒng)包括光源系統(tǒng)、掃描擴(kuò)束系統(tǒng)、熒光成像系統(tǒng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的熒光顯微鏡系統(tǒng),其特征在于:掃描擴(kuò)束系統(tǒng)位于光源系統(tǒng)與熒光成像系統(tǒng)之間,包括掃描器和擴(kuò)束器。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的熒光顯微鏡系統(tǒng),其特征在于:所述的熒光成像系統(tǒng)包括照明物鏡、成像物鏡和成像設(shè)備。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的熒光顯微鏡系統(tǒng),其特征在于:所述的照明物鏡,用于激發(fā)樣品產(chǎn)生熒光。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的熒光顯微鏡系統(tǒng),其特征在于:所述的成像物鏡,可以和照明物鏡為同一個(gè)物鏡,也可以是不同的物鏡。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的熒光顯微鏡系統(tǒng),其特征在于:所述的成像物鏡和照明物鏡為不同物鏡時(shí),成像物鏡和照明物鏡的焦點(diǎn)重合且焦平面相互垂直。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的熒光顯微鏡系統(tǒng),其特征在于:所述的成像物鏡,用于收集、放大樣品的熒光圖像。
11.根據(jù)權(quán)利要求6中所述的熒光顯微鏡系統(tǒng),其特征在于:所述成像設(shè)備用于對(duì)成像物鏡放大了的樣品熒光圖像進(jìn)行成像。
12.根據(jù)權(quán)利要求4至11所述的熒光顯微鏡系統(tǒng),其特征在于:所述掃描器的光軸、照明物鏡光軸重合或平行。
13.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的熒光顯微鏡系統(tǒng),其特征在于:所述的熒光顯微鏡系統(tǒng)主要部分、樣品切片系統(tǒng)以及樣品轉(zhuǎn)移系統(tǒng)均位于掃描電鏡樣品倉(cāng)內(nèi)部,樣品通過(guò)樣品轉(zhuǎn)移系統(tǒng)依次在熒光顯微鏡系統(tǒng)和掃描電鏡、樣品切片系統(tǒng)間移動(dòng),實(shí)現(xiàn)光學(xué)成像、電子成像和樣品切片。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣品轉(zhuǎn)移系統(tǒng),其特征在于樣品可傾斜移動(dòng)、旋轉(zhuǎn)移動(dòng)或、平動(dòng)或多種移動(dòng)方式的結(jié)合,實(shí)現(xiàn)在熒光顯微鏡系統(tǒng)、掃描電鏡和切片系統(tǒng)間移動(dòng)。
15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電融合顯微成像系統(tǒng),其特征在于:所述的樣品切片系統(tǒng)包括鉆石刀切片系統(tǒng)或離子束切片系統(tǒng)。
16.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電融合顯微成像系統(tǒng),其特征在于:根據(jù)熒光染料的不同、光源的不同、入射光角度的不同,可以方便地構(gòu)成多種熒光顯微鏡-掃描電鏡融合成像系統(tǒng)。
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