[發明專利]光纖彎曲性能的測量方法

無效

• 申請號: 201210066688.4
• 申請日: 2012-03-14
• 公開（公告）號: CN102680210A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 中西哲也;樽稔樹;永島拓志;小西達也;桑原一也;市川真
• 申請（專利權）人: 住友電氣工業株式會社
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 顧紅霞;何勝勇

技術領域

本發明涉及一種涂覆有樹脂的光纖的彎曲性能的測量方法。

背景技術

近年來隨著FTTH(光纖到戶)的發展，彎曲損耗小的光纖的使用越來越普及。光纖的彎曲損耗因為光纖的彎曲而產生。光纖彎曲損耗的測量方法在ITU-T?G.650.1?5.6“Test?methods?for?the?macrobend?loss(宏彎曲損耗的測量方法)”有規定，在日本專利申請公開No.H1-203938、日本專利申請公開No.2002-310850和日本專利申請公開No.2009-229120中也有所描述。根據這些文獻，通過評估光纖未彎曲時得到的透射功率與光纖彎曲時得到的透射功率之間的差值來測量彎曲損耗。

在R.Morgan等人的“Wavelength?dependence?of?bend?loss?in?monomode?optical?fibers：effect?of?the?fiber?buffer?coating(單模光纖中的彎曲損耗的波長相關性：光纖緩沖涂層的影響)”，Vol.15，No.17，Optics?Lett.P.947(1990)(非專利文獻1)中指出，彎曲損耗出于如下原因而產生：當光纖彎曲時，在彎曲部分處纖芯模的一部分射出到包層，已經泄漏到包層的一部分光(回廊模)與纖芯模通過涂層與空氣之間的界面處的菲涅耳反射而再次組合。在進行這種再次組合時，在纖芯模與回廊模之間產生干涉，從而產生在彎曲光纖的透射譜中具有相等光頻間隔的振蕩分量。結果，難以實現對彎曲損耗的準確測量。

光纖的彎曲半徑越小，回廊模的產生越顯著。近年來，隨著FTTH的發展，在諸如5mm或7.5mm等小曲率半徑下保證小衰減的光纖的應用越來越廣泛。然而，在這種曲率半徑小的情況下，難以用簡單的方式準確地測量彎曲損耗。

公知的是，如果通過將光纖浸入折射率匹配液中而在空氣與光纖的涂層之間的界面處抑制菲涅耳反射和全反射，則回廊模可以從圍繞心軸纏繞的光纖逃逸到外部。然而，與通常的測量方法相比，將光纖浸入折射率匹配液中費時費力，從而導致工時延長、成本增加。此外，還會出現另外的問題：例如，因為折射率匹配液，可能容易弄臟產品。

發明內容

本發明的目的是提供一種光纖彎曲性能的簡易測量方法。

本發明的光纖彎曲性能的測量方法包括：(1)第一步，在所述光纖沒有出現彎曲損耗的狀態下，在使光入射至所述光纖的一端的情況下，測量從所述光纖的另一端射出的光的功率P₀；(2)第二步，圍繞直徑為2R的心軸纏繞所述光纖并用折射率匹配片材覆蓋如此纏繞的光纖的整個外周，隨后在使光入射至所述光纖的一端的情況下，測量從所述光纖的另一端射出的光的功率P₁，所述折射率匹配片材的折射率與所述光纖的最外層中的樹脂的折射率基本匹配；以及(3)第三步，基于在所述第一步中測得的功率P₀與在所述第二步中測得的功率P₁，測量在所述光纖以直徑2R彎曲的情況下所述光纖的彎曲損耗。

根據本發明的光纖彎曲性能的測量方法，所述折射率匹配片材的折射率與所述光纖的最外層中的樹脂的折射率之間的差值優選地為±0.3或更小，更優選地所述差值為±0.1或更小。所述折射率匹配片材的壓縮彈性模量優選地為50N/mm²或更小，更優選地所述壓縮彈性模量為30N/mm²或更小。所述折射率匹配片材可以由選自包括聚氨酯凝膠、聚氨酯彈性材料和UV樹脂的群組的任一者制成。

本發明的效果

根據本發明，可以簡易地測量光纖的彎曲性能。

附圖說明

圖1A和1B是示出光纖彎曲損耗的測量方法的概念示意圖。

圖2是示出比較例中在第一步中測量的光纖1的透射功率P₀的波長相關性以及在第二步中測量的光纖1的透射功率P₁的波長相關性的曲線圖。

圖3是示出比較例中光纖1的透射功率P₀與透射功率P₁之間的差值P_Bend的波長相關性的曲線圖。

圖4是示出本發明實施例的光纖彎曲性能的測量方法中的第二步的示意圖。

圖5是示出差值P_Bend的波長相關性的曲線圖，其中實線示出根據該實施例的光纖彎曲性能的測量方法得到的測量結果，虛線示出采用現有方法得到的測量結果。