[發明專利]光纖彎曲性能的測量方法

無效

• 申請號: 201210066688.4
• 申請日: 2012-03-14
• 公開（公告）號: CN102680210A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 中西哲也;樽稔樹;永島拓志;小西達也;桑原一也;市川真
• 申請（專利權）人: 住友電氣工業株式會社
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 顧紅霞;何勝勇

1.一種光纖彎曲性能的測量方法，包括：

第一步，在所述光纖沒有出現彎曲損耗的狀態下，在使光入射至所述光纖的一端的情況下，測量從所述光纖的另一端射出的光的功率P₀；

第二步，圍繞直徑為2R的心軸纏繞所述光纖并用折射率匹配片材覆蓋如此纏繞的光纖的整個外周，隨后在使光入射至所述光纖的一端的情況下，測量從所述光纖的另一端射出的光的功率P₁，所述折射率匹配片材的折射率與所述光纖的最外層中的樹脂的折射率基本匹配；以及

第三步，基于在所述第一步中測得的功率P₀與在所述第二步中測得的功率P₁，測量在所述光纖以直徑2R彎曲的情況下所述光纖的彎曲損耗。

2.根據權利要求1所述的光纖彎曲性能的測量方法，其中，

所述折射率匹配片材的折射率與所述光纖的最外層中的樹脂的折射率之間的差值為±0.3或更小。

3.根據權利要求2所述的光纖彎曲性能的測量方法，其中，

所述折射率匹配片材的折射率與所述光纖的最外層中的樹脂的折射率之間的差值為±0.1或更小。

4.根據權利要求1或2所述的光纖彎曲性能的測量方法，其中，

所述折射率匹配片材的壓縮彈性模量為50N/mm²或更小。

5.根據權利要求4所述的光纖彎曲性能的測量方法，其中，

所述折射率匹配片材的壓縮彈性模量為30N/mm²或更小。

6.根據權利要求1所述的光纖彎曲性能的測量方法，其中，

所述折射率匹配片材由選自包括聚氨酯凝膠、聚氨酯彈性材料和UV樹脂的群組的任一者制成。