[發明專利]高速測試電路與方法

有效

• 申請號: 201210051692.3
• 申請日: 2012-03-01
• 公開（公告）號: CN102967819A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 丁達剛;王智彬;王明弘;吳俊鵬;田立勤
• 申請（專利權）人: 補丁科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 陳肖梅;謝麗娜

1.一種高速測試電路，其接收自一測試儀而來的測試儀頻率，并對一待測電路進行測試，其特征在于，包含：

一倍頻電路，其接收自該測試儀頻率，產生N倍頻率的頻率輸出，其中N為正實數；

一測試頻率產生器，其根據倍頻電路的輸出及測試儀頻率，產生一測試頻率，此測試頻率在低頻與高頻之間切換；

一測試訊號產生器，其根據該測試頻率而操作，此測試訊號產生器產生測試訊號，以供傳送給待測電路；以及

一比較電路，其根據待測電路對測試訊號的響應訊號，產生比對結果，

其中，此高速測試電路在高頻測試頻率下對待測電路進行高速測試，而在低頻測試頻率下執行低速動作。

2.如權利要求1所述的高速測試電路，其中，在低頻時該測試頻率與測試儀頻率的頻率相同，在高頻時該測試頻率與N倍頻率的頻率相同。

3.如權利要求1所述的高速測試電路，其中，該比較電路產生并列的多位比對結果，且所述高速測試電路更包含有一邏輯電路，與該比較電路耦接，以對并列的多位比對結果作邏輯運算，產生測試結果。

4.如權利要求1所述的高速測試電路，其中，該N值為固定，或為一由所述高速測試電路內部或外部設定的參數。

5.如權利要求1所述的高速測試電路，其中，該測試頻率產生器產生第一測試頻率與第二測試頻率，兩者間具有一可調整的延遲，且該測試訊號產生器根據該第一測試頻率而產生測試訊號，但該測試訊號根據第二測試頻率而取樣入該待測電路。

6.如權利要求5所述的高速測試電路，其中，該倍頻電路產生第一與第二N倍頻率的頻率，兩者間具有可調整的延遲，且該測試頻率產生器根據該第一與第二N倍頻率的頻率而產生所述第一測試頻率與第二測試頻率。

7.如權利要求5或6所述的高速測試電路，其中，該延遲由一外部輸入的參數予以設定。

8.如權利要求5所述的高速測試電路，其中，該測試訊號產生器將所產生的測試訊號傳送給該待測電路中的一閂鎖電路，且該閂鎖電路根據第二測試頻率而進行取樣操作。

9.如權利要求5所述的高速測試電路，其中，該待測電路根據第一測試頻率而將響應訊號傳送給比較電路。

10.如權利要求1所述的高速測試電路，其中，該測試頻率產生器接收一外部命令，并將其轉換為高頻。

11.如權利要求1所述的高速測試電路，其中，該高速測試電路與該待測電路整合于同一芯片中。

12.如權利要求1或11所述的高速測試電路，其中，該待測電路為隨機動態存取內存，其測試頻率在行操作時為低頻，在列操作時為高頻。

13.如權利要求1所述的高速測試電路，其中，該測試訊號產生器產生的該測試訊號包含多個重復出現的數據串；該比較電路確認該響應訊號是否按照該測試訊號中數據串重復出現的規則而呈現數據內容，從而產生該比對結果。

14.一種高速測試方法，用以對一待測電路進行測試，其特征在于，該方法包含：

接收自一測試儀而來的測試儀頻率；

根據該測試儀頻率，產生N倍頻率的頻率，其中N為正實數；

根據該N倍頻率的頻率及測試儀頻率，產生一測試頻率，此測試頻率在低頻與高頻之間切換；

根據該測試頻率的頻率產生測試訊號；

傳送測試訊號給待測電路，以獲得待測電路對測試訊號的響應訊號；以及

根據響應訊號，產生比對結果。

15.如權利要求14所述的高速測試方法，其中，在低頻時該測試頻率與測試儀頻率的頻率相同，在高頻時該測試頻率與N倍頻率的頻率相同。

16.如權利要求14所述的高速測試方法，其中，該比較測試訊號與響應訊號的步驟，產生多個并列的比對結果，且方法更包含：對并列的多個比對結果作邏輯運算，產生測試結果。

17.如權利要求14所述的高速測試方法，其中，還包含：設定該N值。

18.如權利要求14所述的高速測試方法，其中，該產生測試訊號的步驟產生第一測試頻率與第二測試頻率，兩者間具有一可調整的延遲，且該產生測試訊號的步驟根據第一測試頻率而產生測試訊號，但該傳送測試訊號給待測電路的步驟根據第二測試頻率而傳送測試訊號。