[發明專利]一種線性坐標校正方法有效
| 申請號: | 201210048541.2 | 申請日: | 2012-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN102788552B | 公開(公告)日: | 2016-04-06 |
| 發明(設計)人: | 王錦峰;劉濤 | 申請(專利權)人: | 王錦峰 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 線性 坐標 校正 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種線性坐標校正方法,尤其是涉及一種校正線性變化的X-Y平臺坐標的方法。
背景技術
隨著越來越小的貼片元器件大規模地出現在貼裝工藝中,機器的X-Y平臺對精度的要求越來越高,只有精度達到了要求,才能實現對元器件的定位和檢測。
如圖1所示,在載物臺上方設置X方向導軌和Y方向導軌,且X方向導軌能夠沿著Y方向導軌來回移動;在X方向導軌上設置一個可以在X方向導軌上來回移動的作業機器,由作業機器在載物臺上作業。
X方向導軌代表X軸,Y方向導軌代表Y軸。X-Y平臺由于構件的比例關系、或是X方向與Y方向之間導軌裝配夾角不夠精確等原因,導致作業機器的坐標位置(以下稱為機器坐標)與載物臺上的坐標位置(以下稱為標準坐標)之間存在一定的線性偏差。
因此,為了不增加機器成本,需要設計一種在現有的硬件基礎上實現對X-Y平臺坐標的校正方法,需要以載物臺上的坐標為參考對機器坐標進行校正。
發明內容
本發明提出一種校正非線性變化的X-Y平臺坐標的方法,以解決目前機器坐標與標準坐標之間存在偏差的技術問題。
本發明采用如下技術方案實現:一種線性坐標校正方法,其包括步驟:
在X-Y平臺的X方向導軌上設置一個在X方向導軌上可來回移動且鏡頭垂直向下拍攝的相機;
在X-Y平臺的載物臺上設置圓黑點的點陣,建立與X-Y平臺具有共同原點的標準坐標;
X-Y平臺依據建立的標準坐標進行走位,使黑圓點能被相機拍攝到,然后由相機采用光學中心逼近法測量出每個黑圓點對應在X-Y平臺中的機器坐標,建立每個黑圓點的標準坐標與機器坐標之間的對應關系表;
對各個黑圓點的標準坐標與對應的機器坐標進行線性擬合,得到X-Y平臺中任何一點的機器坐標與標準坐標之間的換算公式;
在X-Y平臺中任意點的機器坐標,通過上述換算公式換算出對應的標準坐標,實現對機器坐標的校正。
其中,在載物臺上放置一塊透明材質的標定板,并在標定板上建立所述標準坐標。
其中,以標定板上的其中一個圓黑點作為標準坐標和機器坐標的共同原點。
其中,標定板為玻璃或透明樹脂材料制成。
其中,所述光學逼近法包括步驟:
選取相機的鏡頭視野中的一個目標黑圓點作為逼近的目標;
將相機拍攝的圖像傳入與相機連接的計算機進行處理,求得鏡頭視野中心和目標黑圓點中心的坐標差;
將坐標差傳輸給X-Y平臺的執行機構,以此獲得X-Y平臺下次逼近走位的機器坐標;
循環往復上述步驟,直到圓黑點中心與鏡頭視野中心重合。
與現有技術相比,本發明具有如下有益效果:
本發明通過建立機器坐標與標準坐標之間的換算公式,既可以由X-Y平臺中的任一點的機器坐標計算出對應的理論坐標,也可以給出任一點的標準坐標換算得到該點的機器位置,由此可以實現對于X-Y平臺用線性方式校正方式進行校正,且校正簡便。
附圖說明
圖1是X-Y平臺的示意圖;
圖2是本發明的流程示意圖;
圖3是在X-Y平臺中設置一個相機的示意圖;
圖4是相機、標定板與載物三者位置關系示意圖;
圖5是標定板上建立標準坐標的示意圖;
圖6是相機的鏡頭視野與標定板上圓黑點之間光學逼近的示意圖;
圖7是機器坐標中X軸、Y軸存在單軸線性縮放的示意圖。
具體實施方式
如圖2所示,為了校正作業機器的坐標位置(以下稱為機器坐標)與載物臺上的坐標位置(以下稱為標準坐標)之間存在的偏差,在一個優選實施例中,通過如下步驟實現對機器坐標的校正:
步驟S1、在X-Y平臺中作業機器的位置,即在X方向導軌上設置一個可以在X方向導軌上來回移動、且鏡頭垂直向下拍攝的相機(根據環境光線,可選擇配置配合相機工作的光源),其中,且X方向導軌能夠沿著Y方向導軌來回移動,如圖3所示。
步驟S2、在載物臺上設置便于相機識別的標準坐標。
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