[發明專利]一種硅基薄膜太陽能電池無效
| 申請號: | 201210047083.0 | 申請日: | 2012-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN102593205A | 公開(公告)日: | 2012-07-18 |
| 發明(設計)人: | 余冬冬;董科研;崔艷峰;陸中丹 | 申請(專利權)人: | 常州天合光能有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0352 | 分類號: | H01L31/0352;H01L31/0216;H01L31/077;H01L31/20 |
| 代理公司: | 常州市維益專利事務所 32211 | 代理人: | 王凌霄 |
| 地址: | 213031 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 薄膜 太陽能電池 | ||
1.一種硅基薄膜太陽能電池,具有硅片,所述的硅片具有P型晶體硅基體,其特征在于:所述的P型晶體硅基體正面生長有2~5nm的SiO2層,所述的P型晶體硅基體背面生長有2~5nm的Al2O3層,所述的SiO2層與P型晶體硅基體通過激光打孔形成點接觸,所述的Al2O3層與P型晶體硅基體通過激光打孔形成點接觸,所述的SiO2層正面依次生長有厚度為5±2nm的第一nc-Si:H(i)層、厚度為10±3nm的a-Si:H(n+)層、厚度為5±2nm的第二nc-Si:H(i)層,所述的Al2O3層背面依次生長有厚度為5±2nm的第三nc-Si:H(i)層、厚度為10±3nm的a-Si:H(p+)、厚度為5±2nm的第四nc-Si:H(i)層。
2.根據權利要求1所述的一種硅基薄膜太陽能電池,其特征在于:所述的第二nc-Si:H(i)層正面沉積有厚度為80~100nm的正面導電膜層,正面導電膜層正面印刷有正面電極,所述的第四nc-Si:H(i)層背面沉積有厚度為80~100nm的背面導電膜層,背面導電膜層背面印刷有背面電極。
3.一種硅基薄膜太陽能電池的制備方法,其特征在于:硅片的襯底采用P型晶體硅基體,所述的P型晶體硅基體正面生長2~5nm的SiO2層,所述的P型晶體硅基體背面生長2~5nm的Al2O3層,所述的SiO2層與P型晶體硅基體通過激光打孔形成點接觸,所述的Al2O3層與P型晶體硅基體通過激光打孔形成點接觸;
所述的SiO2層正面依次生長厚度為5±2nm的第一nc-Si:H(i)層、厚度為10±3nm的a-Si:H(n+)層、厚度為5±2nm的第二nc-Si:H(i)層,所述的第二nc-Si:H(i)層正面沉積厚度為80~100nm的正面導電膜層,正面導電膜層正面印刷正面電極;
所述的Al2O3層背面依次生長厚度為5±2nm的第三nc-Si:H(i)層、厚度為10±3nm的a-Si:H(p+)、厚度為5±2nm的第四nc-Si:H(i)層,所述的第四nc-Si:H(i)層背面沉積厚度為80~100nm的背面導電膜層,背面導電膜層背面印刷有背面電極。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





