[發明專利]一種偏光片的外觀缺陷檢測系統及檢測方法

無效

• 申請號: 201210043724.5
• 申請日: 2012-02-24
• 公開（公告）號: CN102590221A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 鄧元龍;李學金;劉飛飛
• 申請（專利權）人: 深圳大學
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所 44268
• 代理人: 劉文求;楊宏

1.一種偏光片的外觀缺陷檢測系統，其特征在于，包括：

用于發光的光源；

用于透過光源發出的光線，放大偏光片的外觀缺陷特征的缺陷放大裝置；

所述缺陷放大裝置位于光源和偏光片之間。

2.根據權利要求1所述的偏光片的外觀缺陷檢測系統，其特征在于，還包括：

用于采集放大外觀缺陷特征后的偏光片圖像的圖像采集裝置；

用于對圖像采集裝置采集的偏光片圖像進行處理，并判斷偏光片是否存在缺陷的圖像處理裝置；

所述圖像采集裝置位于偏光片的一側，并與所述圖像處理裝置連接。

3.根據權利要求1所述的偏光片的外觀缺陷檢測系統，其特征在于，所述缺陷放大裝置為狹縫板，在所述狹縫板上設置至少一條用于顯示明暗過渡條紋的狹縫。

4.根據權利要求3所述的偏光片的外觀缺陷檢測系統，其特征在于，所述狹縫為多條，在偏光片表面形成多條明暗過渡條紋，所述狹縫的間距與狹縫的寬度之比為：1：1～3：1。

5.根據權利要求3所述的偏光片的外觀缺陷檢測系統，其特征在于，所述缺陷放大裝置產生的明暗條紋覆蓋所述偏光片。

6.根據權利要求2所述的偏光片的外觀缺陷檢測系統，其特征在于，還包括：

用于調節圖像采集裝置與偏光片之間的距離的第一調節裝置；

用于調節缺陷放大裝置與偏光片之間的距離，及控制調節缺陷放大裝置沿其長度方向移動的第二調節裝置；

用于調節光源與缺陷放大裝置之間的距離的第三調節裝置。

7.根據權利要求2所述的偏光片的外觀缺陷檢測系統，其特征在于，還包括用于根據圖像處理裝置的處理結果分揀偏光板的分揀裝置，所述分揀裝置與圖像處理裝置連接。

8.一種采用權利要求1所述偏光片的外觀缺陷檢測系統的檢測方法，其特征在于，所述的檢測方法包括：

光源發射的光線照射在缺陷放大裝置上；

由缺陷放大裝置透過光源發出的光線，放大偏光片的外觀缺陷特征。

9.根據權利要求8所述的檢測方法，其特征在于，所述的檢測方法還包括：

由圖像采集裝置采集放大外觀缺陷特征后的偏光片圖像，并將圖像發送給圖像處理裝置；

由圖像處理裝置對圖像采集裝置采集的偏光片圖像進行處理，并判斷偏光片是否存在缺陷。

10.根據權利要求8所述的檢測方法，其特征在于，所述的檢測方法還包括：

控制缺陷放大裝置沿其長度方向定點移動預設距離。