[發明專利]一種陣列基板及其制造方法和顯示設備有效
| 申請號: | 201210038729.9 | 申請日: | 2012-02-17 |
| 公開(公告)號: | CN102646684A | 公開(公告)日: | 2012-08-22 |
| 發明(設計)人: | 成軍;陳海晶 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/12 | 分類號: | H01L27/12;H01L21/77;H01L27/32 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 李娟 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 陣列 及其 制造 方法 顯示 設備 | ||
技術領域
本發明涉及電子工藝技術,尤其涉及一種陣列基板及其制造方法和顯示設備。
背景技術
有機發光顯示器是新一代的顯示器件,與液晶顯示器相比,具有很多優點,如:自發光,響應速度快,寬視角等等,可以用于柔性顯示,透明顯示,3D顯示等。
在有源矩陣有機發光顯示器中,每一個像素均通過薄膜晶體管控制該像素的開關,因此通過驅動電路,可以獨立控制每一個像素,不會對其他像素造成串擾等影響。
陣列基板中包括薄膜晶體管和柵極引出區或源極引出區,薄膜晶體管至少包含柵極、源極、漏極、柵絕緣層和活化層。目前,活化層主要為硅,可以采用非晶硅或者多晶硅。采用非晶硅作為活化層的薄膜晶體管時,因其特性的限制(如遷移率、開態電流等),難以用于需要較大電流和快速響應的場合,如有機發光顯示器和大尺寸、高分辨率、高刷新頻率的顯示器等。采用多晶硅作為活化層的薄膜晶體管,其特性優于非晶硅,可以用于有機發光顯示器;但是因其均勻性不佳,制備中大尺寸的面板仍有困難。雖然可用增加補償電路的方法處理多晶硅特性不均勻的問題,但同時增加了像素中的薄膜晶體管和電容的數量,增加了掩膜數量和制作難度,造成產量減低和良率下降。另外,如果采用諸如ELA(準分子激光退火)等的LTPS(低溫多晶硅)技術來對非晶硅進行晶化,還需要增加昂貴的設備和維護費用。
因此,氧化物半導體日益受到重視。氧化物半導體為活化層的薄膜晶體管的特性優于非晶硅,如遷移率、開態電流、開關特性等。雖然特性不如多晶硅,但足以用于需要快速響應和較大電流的應用,如高頻、高分比率、大尺寸的顯示器以及有機發光顯示器等。氧化物的均勻性較好,與多晶硅相比,由于沒有均勻性問題,不需要增加補償電路,在掩膜數量和制作難度上均有優勢。在制作大尺寸的顯示器方面難度也較小。而且采用濺射等方法就可以制備,不需增加額外的設備,具有成本優勢。
目前,在氧化物陣列基板的制作過程中,在形成蝕刻阻擋層后形成源電極層和漏電極層,圖1a和圖1b為陣列基板截面圖,包括基板100、柵電極層101、柵極絕緣層102、活化層103、蝕刻阻擋層104、源電極層105a、漏電極層105b、鈍化層106以及透明電極層107,該蝕刻阻擋層104的設計,使得源電極層105a、漏電極層105b與蝕刻阻擋層104搭界的地方多了一次臺階爬坡,在這地方容易造成源電極層105a、漏電極層105b的斷線或活化層103的過蝕刻,影響產品的良率。
發明內容
本發明實施例提供一種陣列基板及其制造方法和顯示設備,以避免源電極層、漏電極層或活化層在與蝕刻阻擋層搭界時出現額外的臺階爬坡,提高產品良率。
一種陣列基板,包括:基板、柵電極層、柵極絕緣層、活化層、蝕刻阻擋層、源電極層、漏電極層、鈍化層以及透明電極層,其中:
所述蝕刻阻擋層的面積大于或等于所述活化層的面積,并設置有用于源電極層、漏電極層與活化層連接的通孔。
一種陣列基板制造方法,包括:
在基板上依次形成柵電極層、柵極絕緣層、活化層以及蝕刻阻擋層,所述蝕刻阻擋層的面積大于或等于所述活化層的面積;
形成用于活化層與源電極層、漏電極層連通的第一通孔;
形成源電極層和漏電極層,所述源電極層和所述漏電極層通過所述第一通孔連接所述活化層;
形成鈍化層,并對所述鈍化層進行蝕刻;
形成透明電極層,所述透明電極層與所述源電極層、所述柵電極層連接。
一種陣列基板制造方法,包括:
在基板上依次形成源電極層、漏電極層、蝕刻阻擋層,所述蝕刻阻擋層的面積大于或等于活化層的面積;
形成用于活化層與源電極層、漏電極層連通的第一通孔;
形成活化層以及柵極絕緣層,所述活化層通過所述第一通孔連接所述源電極層、漏電極層;
形成柵電極層;
形成鈍化層,并對所述鈍化層進行蝕刻;
形成透明電極層,所述透明電極層與所述柵電極層、所述源電極層連接。
一種顯示設備,包括本發明實施例提供的陣列基板。
本發明實施例提供一種陣列基板及其制造方法和顯示設備,通過改善蝕刻阻擋層的設計,使蝕刻阻擋層的面積大于或等于活化層的面積,并在源電極層、漏電極層與活化層的連接處設置有通孔,進而避免源電極層、漏電極層或活化層在與蝕刻阻擋層搭界時出現額外的臺階爬坡。
附圖說明
圖1a和圖1b為現有技術中底柵結構的陣列基板截面圖;
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





