[發(fā)明專利]致密碳酸鹽巖氣層初始產能預測方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210037282.3
• 申請日: 2012-02-17
• 公開（公告）號: CN102536200A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發(fā)明（設計）人: 魏大農;馮愛國;石元會;葉應貴;陳強;黃強;趙紅燕
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石化集團江漢石油管理局測錄井工程公司
• 主分類號: E21B47/00
• 分類號: E21B47/00;E21B49/00
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 朱盛華

1.致密碳酸鹽巖氣層產能預測方法，其特征在于具體步驟如下：

1)建立碳酸鹽巖氣層地區(qū)錄井解釋數(shù)據庫，

2)利用數(shù)據庫數(shù)據分地區(qū)繪制Ig-Qg產能預測圖版和建立Qg＝A×Ig+B產能預測方程，利用數(shù)據庫數(shù)據分地區(qū)繪制Ig-Qg產能預測圖版和建立Qg＝A×Ig+B產能預測方程預測碳酸鹽巖氣層地區(qū)初始穩(wěn)定產能，

Ig-Qg產能預測圖版的繪制方法是：通過氣測儀、綜合錄井儀、測井儀等裝置采集并記錄的相關信息，利用氣層有效垂直厚度H、地層壓力系數(shù)Kf、孔隙度Φ、含氣飽和度Sg和井型系數(shù)α五項關鍵參數(shù)確定儲層含氣指數(shù)Ig，Ig＝α×H×Kf×Φ×Sg；利用同一地區(qū)相同類型或儲層特征相近并已獲試氣證實的氣層含氣指數(shù)Ig與氣層初始穩(wěn)定產能Qg在散點圖上呈線性關系的特點，制作Ig-Qg產能預測圖版；

建立產能預測線性回歸方程Qg＝A×Ig+B，A、B為產能預測回歸系數(shù)，采用最小二乘法求取，線性回歸方程的相關系數(shù)R的平方應大于0.5；

3)選取同一地區(qū)相同類型或儲層特征相近的待預測產能的氣層含氣指數(shù)Ig，投點到Ig-Qg產能預測圖版上，Ig對應的Qg值即為該氣層初始穩(wěn)定產能，或代入該地區(qū)產能預測方程Qg＝A×Ig+B，計算待預測氣層的產能；

4)輸出預測結果，并與實測結果進行對比，若相對誤差＜20％，則將預測結果輸入錄井解釋數(shù)據庫；

5)若相對誤差＞20％，則重復步驟2)、3)至步驟4)的相對誤差＜20％，再將預測結果輸入錄井解釋數(shù)據庫。

2.根據權利要求1所述的致密碳酸鹽巖氣層產能預測方法，其特征在于有效垂直厚度H、地層壓力系數(shù)K_f、孔隙度Φ、含氣飽和度Sg和井型系數(shù)α五項關鍵參數(shù)的確定與求取：

根據目標井氣層錄井氣測全烴曲線峰形狀確定氣層厚度H_a，H_a＝H₂-H₁，起始井深H₁為氣層全烴曲線起峰處對應的地層深度，結束井深H₂為單一顯示峰峰頂或連續(xù)脈狀顯示峰的最后一個峰頂處對應的地層深度；

確定井型系數(shù)α，斜度大于60°的大斜度井和水平井α值一般取0.54，直井α值取1；選取致待預測氣層段內錄井地層壓力梯度的最大值做為氣層地層壓力系數(shù)K_f；選取待預測氣層段內測井或錄井、室內通過巖樣測量的孔隙度的平均值做為氣層孔隙度Φ，選取待預測氣層段內測井或錄井測量的含氣飽和度的平均值做為氣層含氣飽和度S_g。

3.根據權利要求2述的致密碳酸鹽巖氣層產能預測方法，其特征在于氣層含氣指數(shù)I_g＝α?×H×K_f×Φ×S_g中，氣層為直井段，α＝1；氣層為水平或井斜大于60°的大斜度井段，α＝0.50～0.58。

4.根據權利要求3述的致密碳酸鹽巖氣層產能預測方法，其特征在于氣層為水平或井斜大于60°的大斜度井段，α＝0.54。

5.根據權利要求2述的致密碳酸鹽巖氣層產能預測方法，其特征在于多個氣層合層預測時，將每個氣層的含氣指數(shù)I_gn(n＝1，2，…)累加做為總的含氣指數(shù)I_g，即I_g＝I_g1+I_g2+…。