[發明專利]光學發送裝置、光學發送/接收裝置、控制方法和控制程序

無效

• 申請號: 201210036289.3
• 申請日: 2012-02-15
• 公開（公告）號: CN102647234A
• 公開（公告）日: 2012-08-22
• 發明（設計）人: 巖永浩平
• 申請（專利權）人: 日本電氣株式會社
• 主分類號: H04B10/155
• 分類號: H04B10/155;H04B10/158;H01S3/04;H01S5/024
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 柳春雷

1.一種光學發送裝置，包括：

光學發送單元，其包括發射激光束的光源，對所述激光束進行調制的調制器，對所述調制器的調制器溫度進行檢測的調制器溫度檢測元件，以及具有加熱和冷卻所述調制器以執行溫度控制的功能的溫度控制元件；主控制單元，其控制所述光學發送單元的各部分的動作；存儲器單元，其記錄用于設定所述調制器所用的偏壓的預先產生的表信息；殼體，其容納所述光學發送單元、所述主控制單元和所述存儲器單元；以及殼體溫度檢測元件，其檢測所述殼體的殼體溫度，其中

所述主控制單元包括如下功能：

當所述殼體溫度處于預先設定的低溫側基準溫度和高溫側基準溫度的范圍內時發揮作用、以停止與所述溫度控制元件對于所述調制器的加熱和冷卻相關的各控制動作的功能；

當所述殼體溫度等于或低于所述低溫側基準溫度時發揮作用、以執行所述溫度控制元件的加熱控制并基于所述表信息將與所述低溫側基準溫度對應的所述偏壓設定給所述調制器的功能；以及

當所述殼體溫度等于或高于所述高溫側基準溫度時發揮作用、以執行所述溫度控制元件的冷卻控制并基于所述表信息將與所述高溫側基準溫度對應的所述偏壓設定給所述調制器的功能。

2.根據權利要求1所述的光學發送裝置，其中，

所述主控制單元包括如下功能：當所述殼體溫度處于所述低溫側基準溫度和所述高溫側基準溫度的范圍內時發揮作用、以基于所述表信息將所述調制器所用的偏壓設定為與所述調制器溫度對應的偏壓。

3.根據權利要求1所述的光學發送裝置，其中，

所述表信息是通過設定根據使用所述調制器的目的預先指定的消光率而產生的、并且是基于所述調制器溫度和能夠獲得所述消光率所用的偏壓之間的對應關系而產生的信息。

4.根據權利要求3所述的光學發送裝置，其中，

所述主控制單元預先包括表產生處理單元，所述表產生處理單元產生所述表信息并將所述信息記錄于所述存儲器單元。

5.根據權利要求1所述的光學發送裝置，其中，

所述主控制單元包括停止判斷控制功能，所述停止判斷控制功能：

當所述殼體溫度等于或低于所述低溫側基準溫度并且在所述溫度控制元件處于加熱控制下時發揮作用，并當所述調制器溫度等于或高于所述低溫側基準溫度時執行所述加熱控制的停止控制；并且

當所述殼體溫度等于或高于所述高溫側基準溫度并且在所述溫度控制元件處于冷卻控制下時發揮作用，并當所述調制器溫度等于或低于所述高溫側基準溫度時執行所述冷卻控制的停止控制。

6.一種光學發送/接收裝置，包括：

根據權利要求1所述的光學發送裝置以及接收經由光纖傳輸的光學信號的光學接收裝置。

7.一種光學發送裝置動作控制方法，其用于光學發送裝置，所述光學發送裝置包括：光學發送單元，其包括發射激光束的光源，對所述激光束進行調制的調制器，對所述調制器的調制器溫度進行檢測的調制器溫度檢測元件，以及具有加熱和冷卻所述調制器以執行溫度控制的功能的溫度控制元件；主控制單元，其控制所述光學發送單元的各部分的動作；存儲器單元，其記錄用于設定所述調制器所用的偏壓的預先產生的表信息；殼體，其容納所述光學發送單元、所述主控制單元和所述存儲器單元；以及殼體溫度檢測元件，其檢測所述殼體的殼體溫度，所述方法包括以下步驟：

當由所述殼體溫度檢測元件檢測到的所述殼體溫度處于預先設定的低溫側基準溫度和高溫側基準溫度的范圍內時，停止與所述溫度控制元件對于所述調制器的加熱和冷卻相關的各控制動作；

當所述殼體溫度等于或低于所述低溫側基準溫度時，執行所述溫度控制元件的加熱控制使得所述調制器溫度成為所述低溫側基準溫度，并基于所述表信息將與所述低溫側基準溫度對應的所述偏壓設定給所述調制器；以及

當所述殼體溫度等于或高于所述高溫側基準溫度時，執行所述溫度控制元件的冷卻控制使得所述調制器溫度成為所述高溫側基準溫度，并基于所述表信息將與所述高溫側基準溫度對應的所述偏壓設定給所述調制器，其中

由所述主控制單元按順序執行各個設定控制動作。

8.根據權利要求7所述的光學發送裝置動作控制方法，其中，

當所述殼體溫度處于預先設定所述低溫側基準溫度和所述高溫側基準溫度的范圍內時，所述主控制單元基于所述表信息將所述調制器所用的偏壓設定為與所述調制器溫度對應的偏壓。