[發明專利]高壓成型基質薄膜輔助-激光解析離解質譜定量分析方法

無效

• 申請號: 201210029189.8
• 申請日: 2012-02-10
• 公開（公告）號: CN103245717A
• 公開（公告）日: 2013-08-14
• 發明（設計）人: 鐘鴻英;黃璐璐;肖瀟;鄭石
• 申請（專利權）人: 華中師范大學
• 主分類號: G01N27/64
• 分類號: G01N27/64
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 張安國;伍見

技術領域

本發明涉及一種高壓成型基質薄膜輔助-激光解析離解質譜定量分析方法，尤其涉及均勻、大小厚度可控基質薄膜制備方法，以及樣品定量分析方法。本發明的原理基于將能夠吸收激光能量的有機分子在恒定高壓下壓縮成薄膜(Compressed?Matrix?Thin?Film，簡稱為CMTF)，所制得的基質薄膜既能實現普通方法所得基質吸收激光能量的功能，又能作為疏水薄膜吸附樣品分子，而使無機鹽原位水洗除去，并且消除樣品在靶上的擴散，提高方法的靈敏度。該方法還能處理固體樣品，提高了應用范圍。

背景技術

基質輔助激光解析離解質譜是廣泛應用的一種分析技術，該技術利用可吸收激光能量的有機小分子基質與樣品混合，并將能量傳遞給樣品分子，使之汽化并離子化，再被質量分析器檢測。在該技術中，有機小分子基質與樣品分子混合模式是關鍵，因為它直接影響分析結果的準確度、分辨率以及實驗結果的重現性和定量分析的能力。

現有的技術中，常常采用有機溶劑先溶解基質，再讓基質溶液與樣品溶液混合，待溶劑揮發后，樣品與基質分子形成混晶。現有技術的主要缺點在于很難形成大小均勻，形貌可控的晶體，從而使得激光在不同掃描時間所獲得的圖譜不具有重現性，信號強度與樣品量之間沒有定量關系。并且，由于晶體大小和形貌的差異，造成激光轟擊樣品分子之后所得離子的初速度和方向不同，影響實驗結果的分辨率和質量準確度。

發明內容

本發明目的旨在提供一種高壓成型基質薄膜(CMTF)輔助-激光解析離解質譜定量分析方法，具體為將有機小分子基質在高壓下壓制成均勻、大小厚度可控的薄膜，避免溶劑重結晶過程的不確定性，獲得的基質薄膜既能吸收紫外光，又能作為反相疏水層吸附樣品分子，而使無機鹽被原位水洗除去。同時，本方法提供的疏水表面還能避免樣品溶液在樣品靶表面的擴散，提高方法的靈敏度。本方法無需有機溶劑重結晶過程，可以處理固體樣品，擴大應用范圍。本方法所獲得的譜圖信號穩定，信號強度與樣品量之間有良好的線性關系，重現性好，靈敏度高。

實現本發明的技術方案：

一種高壓成型基質薄膜輔助-激光解析離解質譜定量分析方法，該方法將有機小分子基質在高壓下壓制成薄膜，再將薄膜粘在質譜儀的樣品靶上，樣品點在薄膜上并自然風干，將樣品原位洗滌除去無機鹽，自然風干后放入質譜儀進行分析。

本發明的技術方案中，所述的有機小分子基質包括：α-氰基-4-羥基肉桂酸(，α-cyano-4-hydroxycinnamic?acid，CHCA)，2，5二羥基苯甲酸(2，5-dihydroxybenzoic?acid，DHB)。

本發明的技術方案中，所述的有機小分子基質在高壓下壓制成薄膜，是將有機小分子基質單獨壓制成薄膜，或者與固體樣品混合后壓制成薄膜。

本發明的技術方案中，基質單獨壓制成薄膜的方法步驟包括：

1)、稱取基質α-氰基-4-羥基肉桂酸或2，5二羥基苯甲酸，基質的種類和量根據不同的樣品而定；

2)、將步驟1)得到的基質用瑪瑙研缽磨細，使其顆粒大小小于2μm；

3)、將步驟2)得到的基質粉末放入壓片機的模具，模具面積50×70mm，再放入壓片機，施加4800kg壓力，并在此壓力下保持1分鐘；

4)、將步驟3)壓制的基質薄膜取出，保存在室溫即可。

本發明的技術方案中，基質與固體樣品混合后壓制成薄膜的方法步驟包括：

1)、稱取基質α-氰基-4-羥基肉桂酸或2，5二羥基苯甲酸，基質的種類和量據不同的樣品而定；稱取固體樣品；

2)、將步驟1)得到的基質和固體樣品用瑪瑙研缽磨細，使其顆粒大小小于2μm，以便使壓制得到的基質薄膜大小和厚度均勻；

3)、將步驟2)得到的基質和固體樣品粉末，按基質與固體樣品摩爾比為300∶1比例混合，放入壓片機的模具，模具面積50×70mm，再放入壓片機，施加4800kg壓力，并在此壓力下保持1分鐘；

4)、將步驟3)壓制的薄膜取出，所得薄膜可直接進行激光解析離解質譜分析。

本發明的技術方案中，所述的樣品原位洗滌除去無機鹽的方法是，使用移液器將10μl或更多濃度0.1wt％TFA(三氟乙酸)水溶液將樣品點完全覆蓋，保持2秒鐘，再用無塵紙吸取樣品上的水，樣品中所含的無機鹽被除去，重復洗2-3次。