[發(fā)明專利]一種薄膜晶體管陣列基板及其制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210025868.8 | 申請日: | 2012-02-07 |
| 公開(公告)號: | CN102543864A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 賈沛;楊流洋 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/77 | 分類號: | H01L21/77;H01L27/12;G02F1/1362;G02F1/1368 |
| 代理公司: | 深圳翼盛智成知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 歐陽啟明 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 薄膜晶體管 陣列 及其 制作方法 | ||
【技術(shù)領(lǐng)域】
本發(fā)明涉及液晶生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種薄膜晶體管陣列基板及其制作方法。
【背景技術(shù)】
隨著液晶顯示器的不斷推廣和普及,對液晶顯示器的顯示性能提出了很高的要求。
邊界電場切換技術(shù)(Fringe?Field?Switching,F(xiàn)FS)由于具有高穿透性以及大視角的特征,被越來越多地應(yīng)用在液晶顯示領(lǐng)域。
在FFS型液晶顯示器的薄膜晶體管(Thin?Film?Transistor,TFT)陣列基板制程中,需使用多道光罩來進行光刻制程(Photo-litho?graphy),然而,光罩相當(dāng)昂貴,光罩次數(shù)越多則薄膜晶體管制程所需的成本越高,且增加制程時間及復(fù)雜度。
因此,現(xiàn)有技術(shù)中通過多道光罩(譬如四道光罩)形成FFS型液晶顯示器的薄膜晶體管陣列基板的工藝制程較為復(fù)雜,制作難度和制作成本較高,增加了液晶顯示器的生產(chǎn)難度。
【發(fā)明內(nèi)容】
本發(fā)明的一個目的在于提供一種薄膜晶體管陣列基板的制作方法,以解決現(xiàn)有技術(shù)中通過多道光罩形成FFS型液晶顯示器的薄膜晶體管陣列基板的工藝制程較為復(fù)雜,制作難度和制作成本較高,增加了液晶顯示器的生產(chǎn)難度的技術(shù)問題。
為解決上述問題,本發(fā)明提供了一種薄膜晶體管陣列基板的制作方法,所述方法包括以下步驟:
提供基板;
在所述基板上依次沉積透明導(dǎo)電層和第一金屬層,利用第一多段式調(diào)整光罩對所述透明導(dǎo)電層和第一金屬層進行圖案化形成柵極和共通電極,所述柵極包括透明導(dǎo)電層和第一金屬層,所述共通電極由所述透明導(dǎo)電層形成;
在所述基板上繼續(xù)沉積柵絕緣層、半導(dǎo)體層和第二金屬層,利用第二多段式調(diào)整光罩對半導(dǎo)體層和第二金屬層進行圖案化,在所述共通電極對應(yīng)的柵絕緣層上由半導(dǎo)體層和第二金屬層形成像素電極,同時保留位于所述柵極上方的半導(dǎo)體層,并在保留的半導(dǎo)體層上由第二金屬層形成源極和漏極。
在本發(fā)明的薄膜晶體管陣列基板的制作方法中,在形成所述源極、漏極和像素電極后,所述方法還包括以下步驟:
在所述像素電極、以及構(gòu)成薄膜晶體管的所述源極、漏極和半導(dǎo)體層上沉積一平坦化層,所述平坦化層由透明絕緣材質(zhì)形成。
在本發(fā)明的薄膜晶體管陣列基板的制作方法中,所述第一多段式調(diào)整光罩和所述第二多段式調(diào)整光罩為灰階色調(diào)光罩、堆棧圖層光罩或半色調(diào)光罩。
在本發(fā)明的薄膜晶體管陣列基板的制作方法中,所述透明導(dǎo)電層和所述第一金屬層通過濺射法依次沉積形成。
在本發(fā)明的薄膜晶體管陣列基板的制作方法中,所述柵絕緣層和所述半導(dǎo)體層通過化學(xué)氣相沉積法依次沉積形成。
在本發(fā)明的薄膜晶體管陣列基板的制作方法中,所述第二金屬層通過濺射法依次沉積形成。
在本發(fā)明的薄膜晶體管陣列基板的制作方法中,所述第一金屬層依次由第一鋁金屬層和第一鉬金屬層組合形成,所述第二金屬層依次由第二鉬金屬層、第二鋁金屬層以及第三鉬金屬層組合形成。
在本發(fā)明的薄膜晶體管陣列基板的制作方法中,利用所述第一多段式調(diào)整光罩對所述透明導(dǎo)電層和第一金屬層進行圖案化形成柵極和共通電極的過程中,使用硝酸、磷酸以及醋酸的混合液對所述第一金屬層進行濕法刻蝕,使用草酸對所述透明導(dǎo)電層進行濕法刻蝕。
在本發(fā)明的薄膜晶體管陣列基板的制作方法中,利用所述第二多段式調(diào)整光罩形成源極、漏極以及像素電極的過程中,使用硝酸、磷酸以及醋酸的混合液對所述第二金屬層進行濕法刻蝕,使用反應(yīng)離子刻蝕對所述半導(dǎo)體層進行干法刻蝕。
本發(fā)明的另一個目的在于提供一種薄膜晶體管陣列基板,以解決現(xiàn)有技術(shù)中通過多道光罩形成FFS型液晶顯示器的薄膜晶體管陣列基板的工藝制程較為復(fù)雜,制作難度和制作成本較高,增加了液晶顯示器的生產(chǎn)難度的技術(shù)問題。
為解決上述問題,本發(fā)明提供了一種薄膜晶體管陣列基板,所述薄膜晶體管陣列基板包括:
基板;
多個薄膜晶體管,設(shè)置于所述基板上,其中每一所述薄膜晶體管包括柵極、柵絕緣層、半導(dǎo)體層、源極及漏極,所述柵極、所述柵絕緣層、所述半導(dǎo)體層、所述源極及漏極是依序形成于所述基板上;所述柵極包括透明導(dǎo)電層和第一金屬層,所述源極及所述漏極由半導(dǎo)體層上的第二金屬層形成;
共通電極,由所述基板上的透明導(dǎo)電層形成;
多個像素電極,由所述共通電極對應(yīng)的柵絕緣層上的半導(dǎo)體層和第二金屬層形成,并與所述薄膜晶體管的所述漏極連接。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





