[發(fā)明專利]固化代碼參數(shù)表的保存及獲取方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210017067.7
• 申請日: 2012-01-19
• 公開（公告）號: CN102623066A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發(fā)明（設計）人: 袁宏駿;孫紀坤;李相斌
• 申請（專利權）人: 蘇州希圖視鼎微電子有限公司
• 主分類號: G11C29/42
• 分類號: G11C29/42
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責任公司 32102
• 代理人: 陸明耀;姚姣陽

1.一種固化代碼參數(shù)表的保存及獲取方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

將固化代碼的參數(shù)表保存于NAND閃存的第一個可使用的存儲頁中，其中，所述固化代碼的參數(shù)表保存為多個副本，且每個副本內(nèi)容與原參數(shù)表內(nèi)容一致；

采用ECC（Error?Correcting?Code?，數(shù)據(jù)錯誤檢測及數(shù)據(jù)糾錯）方式來讀取參數(shù)表數(shù)據(jù)。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，該方法包括采用MD4或MD5校驗方式對原參數(shù)表及各參數(shù)表副本進行校驗。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述“采用ECC讀取參數(shù)表數(shù)據(jù)”的步驟具體為：

使用所述ECC方式開始讀取參數(shù)表數(shù)據(jù)；

判斷硬件ECC是否失敗，若是，?????則關閉硬件ECC并讀取參數(shù)表數(shù)據(jù)；若否，則采用MD4或MD5校驗方式對原參數(shù)表及各參數(shù)表副本進行校驗；

判斷校驗是否成功，若是，則保存并更新固化代碼的系統(tǒng)參數(shù)表；若否，則

判斷是否完成了所有副本的校驗，若是，讀取閃存參數(shù)表結束；若否，繼續(xù)校驗未完成校驗的副本。

4.?如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述固化代碼支持NAND閃存行業(yè)標準ONFI?2.0（Open?NAND?Flash?Interface?2.0）。

5.?如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述固化代碼參數(shù)保存于一系統(tǒng)參數(shù)表中，所述系統(tǒng)參數(shù)表的參數(shù)獲取方式包括搜索固化代碼內(nèi)部NAND閃存設備參數(shù)表、或者從支持ONFI?2.0標準的NAND閃存獲取、或者讀取NAND閃存首頁保存的參數(shù)表。

6.?如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述固化代碼中包括一保存多種型號NAND閃存參數(shù)的設備參數(shù)表，且固化代碼支持設備參數(shù)表中保存的各型號NAND閃存。

7.?如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述設備參數(shù)表中為每一種型號的NAND分別配置唯一的ID。