[發(fā)明專利]軟板檢測分區(qū)對位的校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210015749.4 | 申請日: | 2012-01-19 |
| 公開(公告)號: | CN103217421B | 公開(公告)日: | 2017-09-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 魏志凌;寧軍;龔關(guān) | 申請(專利權(quán))人: | 昆山思拓機(jī)器有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/84 | 分類號: | G01N21/84 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215347 江蘇省蘇州市昆山*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測 分區(qū) 對位 校正 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種軟板檢測自適應(yīng)分區(qū)對位校正方法。
背景技術(shù)
在使用平板掃描設(shè)備進(jìn)行軟板檢測過程中,將軟板放置在檢測儀平板玻璃上,通過線性掃描相機(jī)結(jié)合步進(jìn)電機(jī)獲取軟板圖像。經(jīng)過對圖像的特征識(shí)別,獲取軟板上開口和劃線的位置,生成數(shù)據(jù)文件并與原始設(shè)計(jì)文件對比判別開口和劃線是否準(zhǔn)確。但是由于軟板放置過程中本身不平整,在掃描過程時(shí)無法完全貼緊平板玻璃面,如圖1所示,所以容易造成局部圖形扭曲變形。在大面積對位識(shí)別過程中,采用對角兩點(diǎn)對位,變形區(qū)域隨著距離增加誤差累計(jì)也在不斷增加,如圖2所示,最終會(huì)引起圖形偏位,在部分圖形變形區(qū)域會(huì)因?yàn)槲恢闷钸^大而無法正確識(shí)別和匹配開口或劃線,導(dǎo)致識(shí)別錯(cuò)誤。
中國專利CN101249590公開了一種用于R&F板的紫外激光切割機(jī),包括:激光聚焦掃描系統(tǒng)、軟件控制系統(tǒng)及定位R&F板的抽真空平臺(tái)系統(tǒng),其中,R&F板包括硬板部分和軟板部分,所述軟件控制系統(tǒng)分別將控制R&F板的硬板部分和軟板部分的程序設(shè)定為硬板控制模組程序和軟板控制模組程序,所述激光聚焦掃描系統(tǒng)分別根據(jù)軟件控制系統(tǒng)的硬板控制模組程序和軟板控制模組程序?qū)Τ檎婵掌脚_(tái)系統(tǒng)上的硬板部分和軟板部分進(jìn)行切割加工。
中國專利CN101742822A公開了一種在軟硬板的軟板區(qū)剝離硬板的方法,主要是以一道壓合步驟使一軟板與至少一內(nèi)層硬板壓合,并使軟板局部外露而形成一軟板區(qū),利用該技術(shù)可通過簡易的機(jī)械性動(dòng)作移除軟硬板上待移除的硬板部分,解決傳統(tǒng)技藝須經(jīng)過激光切割、曝光顯影、蝕刻、去膜等工藝流程所衍生的耗時(shí)費(fèi)工問題。
上述專利都沒有公開軟板的檢測校正方法。本專利提出一種檢測方法,通過自適應(yīng)分區(qū)對位識(shí)別消除累計(jì)誤差,降低錯(cuò)誤識(shí)別率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是現(xiàn)有技術(shù)中存在的軟板檢測過程中因變形偏位無法正確識(shí)別的問題。本發(fā)明提供一種新的用于激光切割后,軟板檢測的分區(qū)對位校正方法。該方法具有準(zhǔn)確識(shí)別消除累計(jì)誤差,降低錯(cuò)誤識(shí)別率的優(yōu)點(diǎn)。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:一種軟板檢測分區(qū)對位檢測方法,包括如下以下幾個(gè)步驟:
a) 使用線性ccd設(shè)備與步進(jìn)電機(jī)結(jié)合逐行掃描,獲取軟板圖像;
b) 通過識(shí)別算法,將圖像中開口和劃線轉(zhuǎn)化為圖形;
c) 在軟板的兩對角頂點(diǎn)位置上,設(shè)置P1和P2兩點(diǎn)圖形標(biāo)記,通過P1和P2圖形標(biāo)記進(jìn)行兩點(diǎn)初對位;
d) 設(shè)置分區(qū)圖形數(shù)量上限值N,和分區(qū)Y方向高度Y1以及X方向步進(jìn)值X’距離;
e) 從左上角第一個(gè)圖形位置開始,Y方向固定為Y1,X方向向右擴(kuò)大分區(qū)范圍,每次擴(kuò)大X’距離,當(dāng)X擴(kuò)大到X1時(shí),分區(qū)內(nèi)圖形數(shù)量達(dá)到或剛好超過N時(shí),確定第一個(gè)分區(qū)的范圍Z1;
f) 在Z1區(qū)域內(nèi)選取對角兩個(gè)點(diǎn)P1和P3進(jìn)行兩點(diǎn)定位,然后進(jìn)行設(shè)計(jì)圖形與識(shí)別圖形的比較;
g) 從上步驟f)的X方向結(jié)束位置開始,繼續(xù)向右擴(kuò)大分區(qū)范圍,每次擴(kuò)大X’距離,Y方向固定為Y1,X方向當(dāng)X擴(kuò)大到X2時(shí),分區(qū)內(nèi)圖形數(shù)量達(dá)到或剛好超過N時(shí),確定第二個(gè)分區(qū)的范圍Z2,選取Z1區(qū)域中距離Z2區(qū)域最近的一個(gè)圖形P3和Z2區(qū)域中距離Z1最遠(yuǎn)的一個(gè)圖形P4作為基準(zhǔn)點(diǎn)進(jìn)行重定位,然后進(jìn)行設(shè)計(jì)圖形與識(shí)別圖形的比較;
h) 重復(fù)步驟g),直到本行最后一個(gè)區(qū)域比較完成;
i) 下一行X起始位置從上一行結(jié)束位置開始,反向擴(kuò)大范圍搜索開口,區(qū)域高度保持Y1,分區(qū)內(nèi)圖形數(shù)量達(dá)到或剛好超過N時(shí),確定第一個(gè)分區(qū)的范圍Z2,在Z1區(qū)域內(nèi)選取對角兩個(gè)點(diǎn)P2和P3進(jìn)行兩點(diǎn)重定位,然后進(jìn)行設(shè)計(jì)圖形與識(shí)別圖形的比較;
j) 重復(fù)步驟g)至步驟i),S型連續(xù)進(jìn)行區(qū)域掃描,直到整幅面掃描完成為止;完成軟板分區(qū)對位檢測;
其中,每行的第一個(gè)分區(qū)中,采用多次校正檢測方法,包括如下以下幾個(gè)步驟:
Ⅰ)使用線性ccd設(shè)備與步進(jìn)電機(jī)結(jié)合逐行掃描,獲取軟板圖像;
Ⅱ)通過識(shí)別算法,將圖像中開口和劃線轉(zhuǎn)化為圖形;
Ⅲ)在軟板的兩對角頂點(diǎn)位置上,設(shè)置P1和P2兩點(diǎn)圖形標(biāo)記,通過P1和P2圖形標(biāo)記進(jìn)行兩點(diǎn)初對位;
Ⅳ)設(shè)定一個(gè)參數(shù)D的范圍,代表設(shè)計(jì)圖形中心和相應(yīng)識(shí)別的圖形中心位置偏差距離的最小值Dmin和最大值Dmax,其中Dmin和Dmax都大于0;
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





