[發明專利]測試接口電路

無效

• 申請號: 201210011834.3
• 申請日: 2012-01-16
• 公開（公告）號: CN103207365A
• 公開（公告）日: 2013-07-17
• 發明（設計）人: 黃秋皇
• 申請（專利權）人: 聯詠科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

技術領域

本發明涉及一種測試接口電路，且特別涉及一種源極驅動器的測試接口電路。

背景技術

隨著消費性電子產品的普及化，近年來的顯示器，不論是在于屏幕的尺寸，或是其顯示的解析度，都持續的逐年增加中。因此，用來驅動顯示器的源極驅動器的引腳的數量，也相對應的增加。

在已知技術領域中，要針對高引腳數的源極驅動器進行測試時，由于需要計算多個引腳的輸出信號是否符合規格的需求，所使用的測試機臺需要具備支持高引腳數的測試并快速計算多個輸出信號的能力。也就是說，針對源極驅動器的多引腳特性，在進行源極驅動器的測試時，使用較為昂貴的高階測試機臺是無法避免的。除此之外，在源極驅動器的引腳數量越來越多的情況下，盡管利用高階的測試機臺，每次也僅能測試有限數量的源極驅動器。據此，在進行源極驅動器的量產測試時，總需要很長的測試時間，并進而衍生出測試成本的增加以及產能不足的問題。

發明內容

本發明提供一種測試接口電路，有效提升源極驅動器的測試速率，以降低測試成本。

在本發明的一實施例中，上述的測試接口電路適用于耦接在源極驅動器及測試機臺間。測試接口包括多個測試接口模塊以及邏輯運算電路。其中，各測試接口模塊接收并判斷源極驅動器的多個輸出引腳的一對應引腳所輸出的輸出信號是否落于規格范圍中，并藉以產生偏差信號。邏輯運算電路則是依據上述的測試接口模塊所產生的偏差信號以產生偏差測試輸出信號。

在本發明的一實施例中，上述的測試接口模塊還包含運算源極驅動器的輸出引腳的輸出信號平均值的功能。

在本發明的一實施例中，上述的邏輯運算電路包括一或多個與門，彼此串接或并接于多個偏差信號輸入端與偏差信號輸出端之間，并藉以在偏差信號輸入端接收偏差信號，并于偏差輸出端輸出偏差測試輸出信號。

在本發明的一實施例中，上述的規格范圍介于規格上限以及規格下限之間。并且，各測試接口模塊是將其對應的輸出引腳的輸出信號分別與規格上限以及規格下限進行比較，以產生偏差信號。

在本發明的一實施例中，上述的測試接口模塊包括第一比較電路、第二比較電路以及與門。第一比較電路接收并比較與各測試接口模塊對應的各輸出引腳的輸出信號以及規格上限，藉以產生第一比較輸出信號。第二比較電路接收并比較與各測試接口模塊對應的各輸出引腳的輸出信號以及規格下限，藉以產生第二比較輸出信號。與門則耦接第一及第二比較器，以依據第一及第二比較信號來產生偏差信號。

在本發明的一實施例中，上述的測試接口模塊還包括開關以及保持電容。開關具有第一端耦接至各測試接口模塊對應的各輸出引腳。開關另具有第二端耦接至第一及第二比較電路。保持電容耦接至開關的第二端，用以保持各輸出信號的電壓電平。

在本發明的一實施例中，上述的測試接口模塊還包括切換電容電路(switched?capacitor?circuit)。切換電容電路耦接于各測試接口模塊對應的各輸出引腳與平均信號輸出端之間，用以傳送對應的輸出引腳的輸出信號至平均信號輸出端。

在本發明的一實施例中，上述的測試接口模塊的平均信號輸出端共同耦接至測試接口電路的一平均信號產生端。

在本發明的一實施例中，上述的各測試接口模塊的切換電容電路包括第一開關、保持電容以及第二開關。第一開關的第一端耦接至各測試接口模塊對應的輸出引腳。保持電容則耦接至第一開關的第二端。第二開關耦接在第一開關的第二端與各測試接口模塊的平均信號輸出端間。

基于上述，本發明通過多個測試接口模塊以判斷源極驅動器的輸出引腳的輸出信號否落于規格范圍以產生偏差信號，并通過上述的偏差信號來產生偏差測試輸出信號。其中，測試接口模塊被配置在源極驅動器及測試機臺間，取代原本高階測試機臺方能執行的測試動作。如此一來，可以通過低階測試機臺來執行源極驅動器的測試動作，有效降低測試成本。

為讓本發明的上述特征和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合附圖作詳細說明如下。

附圖說明

圖1繪示本發明的測試接口電路100施例的示意圖。

圖2繪示本發明實施例的測試接口模塊111的實施方式的示意圖。

圖3A以及3B分別繪示本發明實施例的邏輯運算電路120的實施方式的示意圖。

圖4繪示本發明的測試接口電路的一實施范例。

圖5繪示本發明的測試接口電路的另一實施范例。

【主要元件符號說明】

100、411、421、431、511、521、531、541：測試接口電路