[發(fā)明專利]測試接口電路

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210011834.3
• 申請日: 2012-01-16
• 公開（公告）號: CN103207365A
• 公開（公告）日: 2013-07-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃秋皇
• 申請（專利權(quán)）人: 聯(lián)詠科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 史新宏

1.一種測試接口電路，適用于耦接在一源極驅(qū)動器及一測試機臺間，包括：

多個測試接口模塊，各該測試接口模塊接收并判斷該源極驅(qū)動器的多個輸出引腳的一對應(yīng)引腳所輸出的一輸出信號是否落于一規(guī)格范圍中，以產(chǎn)生一偏差信號；以及

一邏輯運算電路，依據(jù)這些測試接口模塊所產(chǎn)生的這些偏差信號以產(chǎn)生一偏差測試輸出信號。

2.如權(quán)利要求1所述的測試接口電路，其中這些測試接口模塊更運算該源極驅(qū)動器的這些輸出引腳的這些輸出信號的平均值。

3.如權(quán)利要求1所述的測試接口電路，其中該邏輯運算電路包括一或多個與門，彼此串接或并接于多個偏差信號輸入端與一偏差信號輸出端之間，以于這些偏差信號輸入端接收這些偏差信號，并于該偏差輸出端輸出該偏差測試輸出信號。

4.如權(quán)利要求1所述的測試接口電路，其中該規(guī)格范圍介于一規(guī)格上限以及一規(guī)格下限之間，以及各該測試接口模塊是將其對應(yīng)的該輸出引腳的該輸出信號分別與該規(guī)格上限以及該規(guī)格下限進行比較，以產(chǎn)生該偏差信號。

5.如權(quán)利要求4所述的測試接口電路，其中各該測試接口模塊包括：

一第一比較電路，接收并比較與各該測試接口模塊對應(yīng)的各該輸出引腳的該輸出信號以及該規(guī)格上限，藉以產(chǎn)生一第一比較輸出信號；

一第二比較電路，接收并比較與各該測試接口模塊對應(yīng)的各該輸出引腳的該輸出信號以及該規(guī)格下限，藉以產(chǎn)生一第二比較輸出信號；以及

一與門，耦接該第一及該第二比較器，以依據(jù)該第一及該第二比較信號來產(chǎn)生該偏差信號。

6.如權(quán)利要求5所述的測試接口電路，其中各該測試接口模塊還包括：

一開關(guān)，其具有第一端耦接至該各該測試接口模塊對應(yīng)的各該輸出引腳，以及第二端耦接至該第一及第二比較電路；以及

一保持電容，耦接至該開關(guān)的第二端，用以保持各該輸出信號的電壓電平。

7.如權(quán)利要求2所述的測試接口電路，其中各該測試接口模塊還包括：

一切換電容電路，耦接于各該測試接口模塊對應(yīng)的各該輸出引腳與一平均信號輸出端之間，用以傳送該對應(yīng)的輸出引腳的該輸出信號至該平均信號輸出端。

8.如權(quán)利要求7所述的測試接口電路，其中這些測試接口模塊的這些平均信號輸出端共同耦接至該測試接口電路的一平均信號產(chǎn)生端。

9.如權(quán)利要求7所述的測試接口電路，其中各該測試接口模塊的該切換電容電路包括：

一第一開關(guān)，其第一端耦接至各該測試接口模塊對應(yīng)的該輸出引腳；

一保持電容，耦接至該第一開關(guān)的第二端；以及

一第二開關(guān)，耦接在該第一開關(guān)的第二端與各該測試接口模塊的該平均信號輸出端間。