[發明專利]一種無機納米顆粒復合聚酰亞胺薄膜原料分散性的檢測方法有效
| 申請號： | 201210009376.X | 申請日： | 2012-01-12 |
| 公開（公告）號： | CN102590047A | 公開（公告）日： | 2012-07-18 |
| 發明（設計）人： | 杜伯學;李杰;胡文佳;劉勇;高宇 | 申請（專利權）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | G01N15/00 | 分類號： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人： | 曹玉平 |
| 地址： | 300072*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 無機 納米 顆粒 復合 聚酰亞胺 薄膜 原料 分散性 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種無機納米顆粒復合聚酰亞胺薄膜原料分散性的檢測方法，具有如下步驟：
(1)取待測無機納米復合聚酰亞胺薄膜原料倒入檢測容器中，將容器倒滿，并在真空環境下去除氣泡，再向此試樣中放入金屬平板電極；
(2)向兩極板施加0-10kV交流電壓，按0.5kV/s速率從0kV開始增大電壓幅值，直至極板間的無機納米顆粒復合聚酰亞胺薄膜原料放電擊穿，記錄其擊穿電壓作為實驗檢測值；
(3)將步驟(2)的擊穿電壓檢測值與選定的標準值進行比較；該標準值為通過上述實驗方法對未添加納米顆粒的聚酰亞胺原料及標準的分散優良的無機納米顆粒復合聚酰亞胺薄膜原料進行標準實驗測定，多次測量取平均值，將所得實驗結果作為標準值；
(4)檢測結果分析：檢測值與標準值越接近，說明試樣中納米顆粒分散越均勻，無機納米顆粒復合聚酰亞胺薄膜原料分散性越好。
2.根據權利要求1的一種無機納米顆粒復合聚酰亞胺薄膜原料分散性的檢測方法，其特征在于，所述步驟(3)標準值確定中所用分散優良聚酰亞胺薄膜原料是通過掃描電子顯微鏡測量確定其分散性優良。
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