[發明專利]話音業務質量關聯分析方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 201210008523.1
• 申請日: 2012-01-11
• 公開（公告）號: CN102546965A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 陳宇山
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04M3/22
• 分類號: H04M3/22;G10L11/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

技術領域

本發明涉及移動通信技術，尤其涉及一種話音業務質量關聯分析方法、裝置及系統。

背景技術

某運營商調研某年度用戶的滿意度發現，話音業務和數據業務對網絡質量滿意度的影響力分別為89％和11％，而在話音業務影響用戶滿意度的關鍵因素中，話音業務質量所占比重最高，可達28％。但是，目前網絡的關鍵性能指標(Key?Performance?Indicator，KPI)關鍵質量指標(Key?Quality?Indicator，KQI)是很優異的，為什么會有眾多用戶的投訴呢？經過分析發現，主要是因為表征用戶感知的關鍵質量指標(Key?Quality?Indicator，KQI)與KPI之間的關系不明朗，無法明確用戶感知是受哪些KPI的影響。

目前，運營商對網絡的分析，在空間粒度上有整個地區(例如城市)、區域(例如機關、商業中心等)、最小到小區(cell)級別的統計，在時間上有時分析、周分析、月分析等，在分析維度上有對單個對象在一段時間上的KPI分析、多個不同對象在同一時間上KPI的橫向比較分析等。在進行測試時，測試系統首先指定要測量的對象、要測量的質量指標、統計周期等創建測量任務，然后執行測量任務完成測量并存儲測量結果。在分析測量結果時，首先用戶要輸入要查詢的對象、要查詢的質量指標、統計周期等查詢條件，然后測試系統將查詢到的該對象的每個質量指標分別顯示在一張數據列表或一張數據圖上提供給用戶。

由于與話音業務質量、用戶感知有關的各種KPI和KQI之間的單位不同，且各KPI和KQI的取值范圍差異也很大，目前這種顯示方式不能有效地進行各種KPI和KQI的關聯分析，從而無法準確找出KPI對用戶感知(或KQI)的影響關系。

發明內容

本發明提供一種話音業務質量聯合分析方法、裝置及系統，用以對KPI和KQI進行聯合分析，獲取KPI對用戶感知的影響。

本發明提供一種話音業務質量聯合分析方法，包括：

獲取分析對象的第一原始話音測量數據；

根據所獲取的第一原始話音測量數據進行數據統計分析，獲取各項話音指標的數據，所述各項話音指標包括關鍵性能指標KPI和關鍵質量指標KQI；

同時顯示所述各項話音指標的數據和由所述各項話音指標的數據生成的所述各項話音指標的趨勢曲線，根據顯示結果對所述各項話音指標進行關聯分析。

本發明提供一種話音業務質量聯合分析裝置，包括：

第一獲取模塊，用于獲取分析對象的第一原始話音測量數據；

第二獲取模塊，用于根據所獲取的第一原始話音測量數據進行數據統計分析，獲取各項話音指標的數據，所述各項話音指標包括關鍵性能指標KPI和關鍵質量指標KQI；

顯示分析模塊，用于同時顯示所述各項話音指標的數據和由所述各項話音指標的數據生成的所述各項話音指標的趨勢曲線，根據顯示結果對所述各項話音指標進行關聯分析。

本發明提供一種話音業務質量聯合分析系統，包括：部署在測量區域和業務網元下的撥測探針和本發明提供的任一話音業務質量聯合分析裝置。

本發明提供的話音業務質量聯合分析方法、裝置及系統，獲取分析對象的原始話音測量數據之后，根據獲取的原始話音測量數據進行數據統計分析，獲取包括KPI和KQI的各項話音指標的數據，然后同時顯示各項話音指標的數據和各項話音指標的趨勢曲線，根據顯示結果對各項話音指標進行關聯分析，與現有技術中每個話音指標的數據或曲線圖單獨顯示并單獨分析的方案相比，便于從各項話音指標中獲取對MOS的有影響的話音指標，使KPI和KQI的關系明朗化，便于分析各種KPI對用戶感知帶來的影響及影響程度。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明一實施例提供的話音業務質量聯合分析方法的流程圖；

圖2為本發明另一實施例提供的話音業務質量聯合分析方法的流程圖；

圖3為本發明另一實施例提供的同時顯示趨勢圖和數據表格的一種顯示結果示意圖；

圖4為本發明又一實施例提供的話音業務質量聯合分析方法的流程圖；

圖5為本發明一實施例提供的語音業務質量聯合分析裝置的結構示意圖；

圖6為本發明另一實施例提供的語音業務質量聯合分析裝置的結構示意圖；