[發明專利]欠壓檢測電路

有效

• 申請號: 201210008135.3
• 申請日: 2012-01-12
• 公開（公告）號: CN102565516A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 程晉
• 申請（專利權）人: 上海山景集成電路技術有限公司
• 主分類號: G01R19/165
• 分類號: G01R19/165
• 代理公司: 上海光華專利事務所 31219
• 代理人: 李儀萍

技術領域

本發明涉及電路領域，特別是涉及一種欠壓檢測電路。

背景技術

帶隙電壓基準源(以下簡稱基準源)是幾乎所有電子系統都要用到的一個部件，其能夠提供不隨溫度、電源電壓和工藝的變化而變化的基準電壓。然而，基準源只有在高于一定的電源電壓下才能夠正常工作，才能輸出正確的基準電壓；當低于規定的電源電壓時，其輸出的基準電壓會隨著電源電壓的降低而降低，最后甚至會停止工作。因為基準電壓決定了電子系統內部穩壓電源的輸出和諸多檢測、判斷機制的工作狀態，因此，過低的基準電壓會使整個電子系統處于不確定狀態、降低產品的可靠性。因此必須有一個欠壓檢測機制來判斷電源電壓是否能夠使基準源處于正常的工作狀態，當電源電壓過低時，鎖定除基準源外的所有電路，當電源電壓足夠高時，解除鎖定，提供一個準確的基準電壓。

目前常用的欠壓檢測方法是用電阻分壓來對電源電壓進行采樣，然后用各種形式的比較器來判斷電源電壓是否達到閾值電壓。由于閾值電壓通常決定于晶體管或二極管的導通電壓，因此會隨著溫度和工藝的變化產生較大的偏差，很難確保可靠性。

此外，美國專利US6842321提出了一種對溫度和工藝變化不敏感的欠壓檢測電路。但是該種電路無法在普通CMOS工藝上應用，而且該電路設定的電源電壓閾值點和保證基準源正常工作所需的電源電壓閾值點并沒有直接的聯系。

發明內容

鑒于以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在于提供一種高可靠性、低功耗的欠壓檢測電路。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種欠壓檢測電路，其應用于能提供基準電壓的電路，用于基于所述能提供基準電壓的電路包含的晶體管是否處于飽和區，來輸出所述基準電壓是否有效的指示信號。

優選地，當所述能提供基準電壓的電路連接有啟動電路時，所述欠壓檢測電路連接所述啟動電路輸出端，用于當所述啟動電路啟動所述能提供基準電壓的電路的啟動作業完成后，基于所述能提供基準電壓的電路包含的晶體管是否處于飽和區來輸出所述基準電壓是否有效的指示信號。

優選地，所述欠壓檢測電路為具有正反饋的電路。

優選地，所述能提供基準電壓的電路包括帶隙電壓基準源。

如上所述，本發明的欠壓檢測電路，具有以下有益效果：能直接判斷能提供基準電壓的電路所提供的基準電壓是否有效；而且，本發明不受溫度和工藝變化的影響，具有較高的可靠性；再有，本發明可以用標準CMOS工藝加以實現，可以整合在各種基準源架構中，并且只需極低的功耗，因而具有廣泛的應用性。

附圖說明

圖1顯示為本發明的欠壓檢測電路的一種優選電路示意圖。

元件標號說明

1???????????帶隙電壓基準源

2???????????啟動電路

3???????????欠壓檢測電路

具體實施方式

以下通過特定的具體實例說明本發明的實施方式，本領域技術人員可由本說明書所揭露的內容輕易地了解本發明的其他優點與功效。本發明還可以通過另外不同的具體實施方式加以實施或應用，本說明書中的各項細節也可以基于不同觀點與應用，在沒有背離本發明的精神下進行各種修飾或改變。

請參閱圖1。需要說明的是，本實施例中所提供的圖示僅以示意方式說明本發明的基本構想，遂圖式中僅顯示與本發明中有關的組件而非按照實際實施時的組件數目、形狀及尺寸繪制，其實際實施時各組件的型態、數量及比例可為一種隨意的改變，且其組件布局型態也可能更為復雜。

本發明提供的欠壓檢測電路應用于能提供基準電壓的電路，其基于所述能提供基準電壓的電路包含的晶體管是否處于飽和區，來輸出所述基準電壓是否有效的指示信號。

優選地，所述能提供基準電壓的電路包括帶隙電壓基準源，其用于提供基準電壓VBG。

例如，如圖1所示，欠壓檢測電路3基于帶隙電壓基準源1包含的晶體管M1、M4等是否處于飽和區，來輸出基準電壓VBG是否有效的指示信號UVLO。

其中，所述欠壓檢測電路3包括PMOS管M8、M9、M10、M11、M12、M13、M14、M16、NMOS管M15、M17、M18、M19、M20、PNP管Q3、反相器INV1及電容C1；