[發(fā)明專利]欠壓檢測電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210008135.3
• 申請日: 2012-01-12
• 公開（公告）號: CN102565516A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 程晉
• 申請（專利權(quán)）人: 上海山景集成電路技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01R19/165
• 分類號: G01R19/165
• 代理公司: 上海光華專利事務(wù)所 31219
• 代理人: 李儀萍

1.一種欠壓檢測電路，應(yīng)用于能提供基準(zhǔn)電壓的電路，其特征在于，所述欠壓檢測電路基于所述能提供基準(zhǔn)電壓的電路包含的晶體管是否處于飽和區(qū)，來輸出所述基準(zhǔn)電壓是否有效的指示信號。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的欠壓檢測電路，其特征在于：當(dāng)所述能提供基準(zhǔn)電壓的電路連接有啟動電路時，所述欠壓檢測電路連接所述啟動電路輸出端，用于當(dāng)所述啟動電路啟動所述能提供基準(zhǔn)電壓的電路的啟動作業(yè)完成后，基于所述能提供基準(zhǔn)電壓的電路包含的晶體管是否處于飽和區(qū)來輸出所述基準(zhǔn)電壓是否有效的指示信號。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的欠壓檢測電路，其特征在于：所述欠壓檢測電路為具有正反饋的電路。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的欠壓檢測電路，其特征在于：所述晶體管包括NMOS管、PMOS管中的一種或兩種。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的欠壓檢測電路，其特征在于：所述能提供基準(zhǔn)電壓的電路包括帶隙電壓基準(zhǔn)源。