[發明專利]影像處理方法、影像處理電路、液晶顯示裝置以及電子設備有效
| 申請號: | 201210007587.X | 申請日: | 2012-01-11 |
| 公開(公告)號: | CN102622977A | 公開(公告)日: | 2012-08-01 |
| 發明(設計)人: | 保坂宏行;北川拓 | 申請(專利權)人: | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號: | G09G3/36 | 分類號: | G09G3/36;G02F1/133 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 李偉;王軼 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 影像 處理 方法 電路 液晶 顯示裝置 以及 電子設備 | ||
技術領域
本發明涉及減少液晶面板顯示上的問題的技術。
背景技術
液晶面板是由保持一定間隙的一對基板夾持液晶而構成。詳細地,液晶面板具有如下構成:在一個基板上像素電極以像素為單位矩陣狀地排列,在另一個基板上公共電極對于各個像素而言以共用的方式進行設置,利用像素電極和公共電極來夾持液晶。如果在像素電極與公共電極之間施加/保持與灰階對應的電壓,則液晶的取向狀態會以像素為單位被確定,以此來對透射率或者反射率進行控制。因此,在上述構成中,可以說,只有作用于液晶分子的電場中的、從像素電極朝向公共電極的方向(或者其相反方向),即相對于基板面垂直方向(縱向)的分量才對顯示控制有效。
然而,近幾年,為了小型化、高精度化縮小了像素間距,如此則會在相互鄰接的像素電極彼此之間產生電場,即相對于基板面平行方向(橫方向)上產生電場,其影響越發無法忽略。例如產生了如下之類的問題:如果對于如VA(Vertical?Alignment)方式、TN(Twisted?Nematic)方式等基于縱向電場進行驅動的液晶施加橫向電場,則會產生液晶取向不良(換句話說,反向偏轉區域),從而在顯示上出現問題。
為了減少該反向偏轉區域的影響,提出了如下的多種技術:配合像素電極而規定遮光層(開口部)的形狀等對液晶面板構造下功夫的技術(例如參照專利文獻1);當根據影像信號計算出的平均亮度值在閾值以下時判斷為產生了反向偏轉區域,從而截斷設定值以上的影像信號的技術(例如參照專利文獻2);針對矩陣驅動方式的顯示裝置中的由橫向電場導致的畫質不良,僅對現象產生像素施加校正電壓來改善畫質不良的技術(例如參照專利文獻3),等等。
專利文獻1:日本特開平6-34965號公報(圖1)
專利文獻2:日本特開2009-69608號公報(圖2)
專利文獻3:日本特開2009-237366號公報(圖14)
然而,在專利文獻1所公開的改進液晶面板的構造來減少反向偏轉區域的技術中,存在開口率易于降低,另外,無法適用于未對構造進行改進的已經制作好的液晶面板的缺點。在如專利文獻2所公開的剪切設定值以上的影像信號的技術中,也存在著待顯示的圖像的亮度受設定值所限的缺點。在如專利文獻3所公開的技術中,需要進行如下順序的處理:在一個幀期間內對輸入到相鄰的2個像素中的影像信號的電位差進行檢測,在針對相鄰的2個像素的輸入影像信號存在電位差的情況下,基于2個像素之間的電位差、掃描方向尤其取向膜的蒸鍍方向來選擇成為校正對象的像素,利用2個像素之間的電位差以及基于與校正對象像素對應的輸入影像信號的電位的校正量來校正驅動電壓。
發明內容
本發明鑒于上述情形而完成,其目的之一在于,提供消除這些缺點,并且減少反向偏轉區域的技術。
為了實現上述目的,本發明的影像處理方法,特征在于,按每個像素對指定液晶元件的施加電壓的輸入影像信號進行校正,并基于上述校正后的影像信號來分別規定上述液晶元件的施加電壓,該影像處理方法具有:風險邊界檢測步驟,檢測由上述液晶的偏轉方位決定的風險邊界,該風險邊界是由輸入影像信號指定的施加電壓低于第1電壓的第1像素與上述施加電壓超過大于上述第1電壓的第2電壓的第2像素之間的邊界的一部分;和校正步驟,在構成1幀的多個場的至少任意一個場中,對以下影像信號、即指定向對應于與上述風險邊界檢測步驟中檢測到的風險邊界相接的上述第1像素以及第2像素中的至少一方的液晶元件施加的施加電壓的影像信號進行校正,以便使該風險邊界在1幀期間內所存在的期間變短。
根據本發明,風險邊界在1幀期間存在于相同位置的期間變短,抑制了液晶分子的取向不良狀態持續的情形,因此能夠預先避免由反向偏轉區域所導致的顯示上的問題的出現。另外,無需變更由液晶元件構成的液晶面板的構造,因此也不會導致開口率的降低,另外,還能夠適用于未對構造進行改進的已經制作出的液晶面板。并且,由于基于是風險邊界的相鄰像素這樣的條件來決定作為校正對象的像素,因此易于確定作為校正對象的像素,并且,也能夠從較寬的范圍選擇可采用的影像信號的校正值。
另外,在本發明的影像處理方法中,也可以在上述校正步驟中,將指定對與上述風險邊界檢測步驟中檢測到的風險邊界相接的上述第1像素、或者從該第1像素向該風險邊界的相反側連續的r個與上述第1像素所對應的液晶元件施加的施加電壓的影像信號,校正成在任意一個場中指定上述第1電壓以上的電壓的影像信號,其中,r為2以上的整數。
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