[發明專利]影像處理方法、影像處理電路、液晶顯示裝置以及電子設備有效
| 申請號: | 201210007587.X | 申請日: | 2012-01-11 | 
| 公開(公告)號: | CN102622977A | 公開(公告)日: | 2012-08-01 | 
| 發明(設計)人: | 保坂宏行;北川拓 | 申請(專利權)人: | 精工愛普生株式會社 | 
| 主分類號: | G09G3/36 | 分類號: | G09G3/36;G02F1/133 | 
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 李偉;王軼 | 
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 影像 處理 方法 電路 液晶 顯示裝置 以及 電子設備 | ||
1.一種影像處理方法,特征在于,按每個像素對指定液晶元件的施加電壓的輸入影像信號進行校正,并基于上述校正后的影像信號來分別規定上述液晶元件的施加電壓,該影像處理方法具有:
風險邊界檢測步驟,檢測由上述液晶的偏轉方位決定的風險邊界,該風險邊界是由輸入影像信號指定的施加電壓低于第1電壓的第1像素與上述施加電壓超過大于上述第1電壓的第2電壓的第2像素之間的邊界的一部分;和
校正步驟,在構成1幀的多個場的至少任意一個場中,對以下影像信號、即指定向對應于與上述風險邊界檢測步驟中檢測到的風險邊界相接的上述第1像素以及第2像素中的至少一方的液晶元件施加的施加電壓的影像信號進行校正,以便使該風險邊界在1幀期間內所存在的期間變短。
2.根據權利要求1所述的影像處理方法,其特征在于,
在上述校正步驟中,
將指定對與上述風險邊界檢測步驟中檢測到的風險邊界相接的上述第1像素、或者從該第1像素向該風險邊界的相反側連續的r個與上述第1像素所對應的液晶元件施加的施加電壓的影像信號,校正成在任意一個場中指定上述第1電壓以上的電壓的影像信號,其中,r為2以上的整數。
3.根據權利要求2所述的影像處理方法,其特征在于,
在上述校正步驟中,
將與作為校正對象的上述第1像素所對應的影像信號校正成最大灰度的影像信號。
4.根據權利要求1所述的影像處理方法,其特征在于,
在上述校正步驟中,
將指定對與上述風險邊界檢測步驟中檢測到的風險邊界相接的上述第2像素、或者從該第2像素向該風險邊界的相反側連續的s個與上述第2像素所對應的液晶元件施加的施加電壓的影像信號,校正成在任意一個場中指定上述第2電壓以下的電壓的影像信號,其中,s為2以上的整數。
5.根據權利要求4所述的影像處理方法,其特征在于,
在上述校正步驟中,
將與作為校正對象的上述第2像素所對應的影像信號校正成最小灰度的影像信號。
6.根據權利要求1所述的影像處理方法,其特征在于,
在上述校正步驟中,
將指定對與上述風險邊界檢測步驟中檢測到的風險邊界相接的上述第1像素、或者從該第1像素向該風險邊界的相反側連續的r個與上述第1像素所對應的液晶元件施加的施加電壓的影像信號,校正成在任意一個場中指定上述第1電壓以上的電壓的影像信號,其中,r為2以上的整數;
將指定對與上述檢測到的風險邊界相接的上述第2像素、或者從該第2像素向該風險邊界的相反側連續的s個與上述第2像素所對應的液晶元件施加的施加電壓的影像信號,校正成在該場中指定上述第2電壓以下的電壓的影像信號,其中,s為2以上的整數。
7.根據權利要求1~6中的任意一項所述的影像處理方法,其特征在于,
具有移動檢測步驟,在該移動檢測步驟中,對上述第1像素與上述第2像素之間的邊界中的、從前幀向當前幀變化的邊界進行檢測,其中,前幀是當前幀的前一幀,
在上述校正步驟中,
對由上述移動檢測步驟中檢測到的邊界中的、在上述風險邊界檢測步驟中檢測到的風險邊界決定的校正對象的像素所對應的上述影像信號進行校正。
8.根據權利要求7所述的影像處理方法,其特征在于,
在上述校正步驟中,
對由上述移動檢測步驟中檢測到的邊界中的、從前幀向當前幀移動了1個像素后的風險邊界決定的校正對象的像素所對應的上述影像信號進行校正。
9.根據權利要求1~8中的任意一項所述的影像處理方法,其特征在于,
在上述校正步驟中,
在上述多個場的任意一個場中,不對與作為校正對象的像素對應的上述影像信號進行校正。
10.根據權利要求1~8中的任意一項所述的影像處理方法,其特征在于,
在上述校正步驟中,
針對上述多個場中的各個場,對與作為校正對象的像素對應的上述影像信號進行校正。
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