[發(fā)明專利]一種雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器無效
申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210007412.9 | 申請(qǐng)日: | 2012-01-11 |
公開(公告)號(hào): | CN102568997A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃正旭;董俊國;李梅;高偉;李磊;朱輝;周振 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海大學(xué);廣州禾信分析儀器有限公司 |
主分類號(hào): | H01J49/10 | 分類號(hào): | H01J49/10;H01J49/40 |
代理公司: | 廣州市華學(xué)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245 | 代理人: | 楊曉松 |
地址: | 200444*** | 國省代碼: | 上海;31 |
權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索關(guān)鍵詞: | 一種 極性 反射 飛行 時(shí)間 質(zhì)量 分析器 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種分析儀器檢測技術(shù),特別涉及一種雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器。
背景技術(shù)
飛行時(shí)間質(zhì)量分析器(time-of-flight?mass?analyzer)原理為:真空環(huán)境下,獲得相同加速能量的不同離子,將擁有不同的飛行速度,則通過一定長度無場飛行后,離子將按照其質(zhì)荷比的大小得以分離檢測。這種質(zhì)量分離技術(shù)分辨率、靈敏度高,無質(zhì)量檢測上限,具有微秒級(jí)檢測速度,且能在一個(gè)檢測周期內(nèi)完成全譜檢測,被廣泛應(yīng)用于化工、能源、醫(yī)藥、材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。基于其原理及特點(diǎn)可知,單極性的飛行時(shí)間質(zhì)量分析器只能檢測一種極性的離子,如果要實(shí)現(xiàn)雙極性離子同時(shí)檢測,就需要完整的兩套飛行時(shí)間質(zhì)量分析器。常規(guī)直線式雙極性飛行時(shí)間質(zhì)量分析器中,由于直線式的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),正負(fù)離子分析系統(tǒng)只能正對(duì)排列,空間利用率不高;同時(shí),為實(shí)現(xiàn)高分辨和高質(zhì)量檢測范圍,需要較長的離子有效飛行長度,造成了直線式雙極飛行時(shí)間質(zhì)量分析器雖然結(jié)構(gòu)簡單,但性能不高,體積大,重量重,進(jìn)一步影響了真空系統(tǒng)及電系統(tǒng)的配置,使真空及電系統(tǒng)設(shè)計(jì)、制作、維護(hù)更為復(fù)雜且增加了儀器成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器,提高了分析器的空間利用率,縮小了分析器的體積。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:
一種雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器,包括:電離引出區(qū)、正離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器、負(fù)離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器,所述電離引出區(qū)位于正離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器與負(fù)離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器的之間,電離引出區(qū)及正離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器、負(fù)離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器呈“Z”型組合排列,形成反射式結(jié)構(gòu)。
所述電離引出區(qū)位于整個(gè)裝置對(duì)稱中心,正離子及負(fù)離子由此區(qū)域同時(shí)電離產(chǎn)生。電離引出區(qū)電離方式可以是脈沖式激光電離,也可以是其它電離方式如電子轟擊源等。
所述正離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器由正離子加速區(qū)、正離子聚焦透鏡、正離子反射區(qū)、正離子漂移區(qū)及正離子檢測區(qū)相連接組成。
所述負(fù)離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器由負(fù)離子加速區(qū)、負(fù)離子聚焦透鏡、負(fù)離子反射區(qū)、負(fù)離子漂移區(qū)及負(fù)離子檢測區(qū)相連接組成。
所述正離子聚焦透鏡、負(fù)離子聚焦透鏡分別置于正離子漂移區(qū)、負(fù)離子漂移區(qū)內(nèi),用于調(diào)節(jié)離子束寬度。
所述正離子反射區(qū)、負(fù)離子反射區(qū)分別與正離子加速區(qū)、負(fù)離子加速區(qū)成大于0°且小于45°的夾角放置,以控制離子飛行路徑,保證檢測效率;所述正離子反射區(qū)、負(fù)離子反射區(qū)分別與正離子加速區(qū)、負(fù)離子加速區(qū)成4.5°夾角,偏轉(zhuǎn)方向相反,使離子成相反方向偏轉(zhuǎn)約9°反射。
所述正離子檢測區(qū)和負(fù)離子檢測區(qū)分別置于正、負(fù)離子的反射路徑上。
所述正、負(fù)離子加速區(qū)及反射區(qū)可以是有網(wǎng)的或無網(wǎng)的。
所述正、負(fù)離子聚焦透鏡是常規(guī)的一維或二維靜電透鏡。
所述正、負(fù)離子聚焦透鏡可分別由正離子加速區(qū)和負(fù)離子加速區(qū)通過在極片上施加聚焦透鏡電場來實(shí)現(xiàn)。
所述正、負(fù)離子檢測區(qū)為常規(guī)的雙片微通道板組成的離子檢測器。
所述正、負(fù)離子檢測區(qū)分別與正、負(fù)離子加速區(qū)成5度夾角放置。
所述正、負(fù)離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器施加相反極性電壓。
所述電離引出區(qū)施加電壓可以直流的,也可以是脈沖式的。
本發(fā)明的工作原理是:電離引出區(qū)產(chǎn)生的正負(fù)離子,在引出區(qū)強(qiáng)靜電場或脈沖電場的作用下,分別朝相反的方向飛出,針對(duì)其中任一極性的離子而言,離子經(jīng)加速區(qū)后獲得相同的動(dòng)能,則不同質(zhì)荷比的離子將擁有不同的飛行速度,質(zhì)荷比小的離子飛行速度快,質(zhì)荷比大的離子飛行速度慢,通過一定距離的無場飛行,再經(jīng)反射區(qū)反射后,按其質(zhì)荷比大小進(jìn)行分離;最終質(zhì)荷比小的離子先聚焦到達(dá)檢測區(qū)得以檢測,質(zhì)荷比大的離子后聚焦到達(dá)檢測區(qū),得以檢測形成飛行時(shí)間質(zhì)量譜。
本發(fā)明的原理還在于:瞬時(shí)電離生成的正負(fù)離子得以同時(shí)檢測,一個(gè)檢測周期內(nèi)即可得到完整正負(fù)離子質(zhì)量譜。通過靜電聚焦透鏡可以控制離子束寬度,來保證離子的傳輸效率。通過調(diào)節(jié)反射區(qū)放置角度來控制離子飛行路徑,在保證性能的前提下優(yōu)化整個(gè)分析器結(jié)構(gòu)。通過調(diào)節(jié)各加速及反射電極電壓來實(shí)現(xiàn)傳輸過程中相同質(zhì)荷比離子的空間聚焦。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海大學(xué);廣州禾信分析儀器有限公司,未經(jīng)上海大學(xué);廣州禾信分析儀器有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210007412.9/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:除去面板之間氣泡的裝置和方法
- 下一篇:陣列測試裝置
- 時(shí)間同步裝置、時(shí)間同步系統(tǒng)和時(shí)間同步方法
- 時(shí)間校準(zhǔn)裝置和時(shí)間校準(zhǔn)方法
- 時(shí)間同步系統(tǒng)及時(shí)間同步方法
- 時(shí)間同步方法、時(shí)間同步系統(tǒng)、時(shí)間主設(shè)備以及時(shí)間從設(shè)備
- 時(shí)間控制裝置和時(shí)間控制方法
- 時(shí)間測試電路及時(shí)間測試方法
- 時(shí)間的飛行時(shí)間
- 局部激活時(shí)間的時(shí)間變換
- 時(shí)間測量電路、時(shí)間測量芯片及時(shí)間測量裝置
- 時(shí)間同步方法與時(shí)間同步系統(tǒng)