[發(fā)明專利]一種雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210007412.9
• 申請(qǐng)日: 2012-01-11
• 公開（公告）號(hào): CN102568997A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃正旭;董俊國(guó);李梅;高偉;李磊;朱輝;周振
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海大學(xué);廣州禾信分析儀器有限公司
• 主分類號(hào): H01J49/10
• 分類號(hào): H01J49/10;H01J49/40
• 代理公司: 廣州市華學(xué)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245
• 代理人: 楊曉松

1.一種雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器，包括電離引出區(qū)、正離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器、負(fù)離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器，其特征在于：所述電離引出區(qū)位于正離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器與負(fù)離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器的之間；電離引出區(qū)及正離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器、負(fù)離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器呈“Z”型組合排列，形成反射式結(jié)構(gòu)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器，其特征在于：所述電離引出區(qū)位于整個(gè)裝置對(duì)稱中心。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器，其特征在于：所述正離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器由正離子加速區(qū)、正離子聚焦透鏡、正離子反射區(qū)、正離子漂移區(qū)及正離子檢測(cè)區(qū)相連接組成；所述負(fù)離子飛行時(shí)間質(zhì)量分析器由負(fù)離子加速區(qū)、負(fù)離子聚焦透鏡、負(fù)離子反射區(qū)、負(fù)離子漂移區(qū)及負(fù)離子檢測(cè)區(qū)相連接組成。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器，其特征在于：所述正離子聚焦透鏡、負(fù)離子聚焦透鏡分別置于正離子漂移區(qū)、負(fù)離子漂移區(qū)內(nèi)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器，其特征在于：所述正離子反射區(qū)、負(fù)離子反射區(qū)分別與正離子加速區(qū)、負(fù)離子加速區(qū)成大于0°且小于45°的夾角放置。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器，其特征在于：所述正離子反射區(qū)、負(fù)離子反射區(qū)分別與正離子加速區(qū)、負(fù)離子加速區(qū)成4.5°夾角，偏轉(zhuǎn)方向相反，使離子成相反方向偏轉(zhuǎn)約9°反射。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器，其特征在于：所述正離子檢測(cè)區(qū)和負(fù)離子檢測(cè)區(qū)分別置于正、負(fù)離子的反射路徑上；正離子檢測(cè)區(qū)與正離子加速區(qū)成5度夾角放置，負(fù)離子檢測(cè)區(qū)與負(fù)離子加速區(qū)成5度夾角放置。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器，其特征在于：所述正、負(fù)離子加速區(qū)及反射區(qū)是有網(wǎng)的或無(wú)網(wǎng)的。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器，其特征在于：所述正、負(fù)離子聚焦透鏡是一維或二維靜電透鏡，或?yàn)殡p片微通道板組成的離子檢測(cè)器。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙極性反射式飛行時(shí)間質(zhì)量分析器，其特征在于：所述正、負(fù)離子聚焦透鏡分別由正離子加速區(qū)和負(fù)離子加速區(qū)通過(guò)在極片上施加聚焦透鏡電場(chǎng)來(lái)實(shí)現(xiàn)。