[發明專利]分析裝置

有效

• 申請號: 201210006886.1
• 申請日: 2012-01-11
• 公開（公告）號: CN102590106A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 金山省一;多田友行;岡田直忠
• 申請（專利權）人: 株式會社東芝;東芝醫療系統株式會社
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/47;G01N35/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 楊謙;胡建新

本申請基于日本申請2011-003622(申請日：2011年1月12日)并要求該申請的優先權。本申請通過參考該申請而包括其全部內容。

技術領域

本發明的實施方式涉及分析裝置。

背景技術

作為分析被檢試樣的分析裝置，有各種各樣的裝置。

例如，自動分析裝置是一種在反應管內分注人的血液或尿等被檢試樣和試劑，攪拌混和后，在一定溫度下使其反應，通過測量該反應產生的變化，來測量被檢試樣中的被測量物質或者酶的濃度/活性的裝置。

作為這種自動分析裝置中應用的測量方法，有比色測量和比濁測量。

比色測量是通過將來自光源的光(從近紫外波段到近紅外波段為止的波長的光)向反應管內的混合液(混合有被檢試樣和試劑的反應液)照射，對經由混合液所得到的光分光后，用光檢測器進行檢測，來檢測被反應液吸收的特定波長成分的變化(吸光度)的方法。

此外，比濁測量一般是向含有膠乳粒子的試劑與被檢試樣攪拌混和后的混合液照射來自光源的光，然后，通過對經由該混合液所得到的光分光后，用光檢測器進行檢測，來檢測伴隨著膠乳粒子凝集作用的混合液濁度(透射度)的方法。

發明內容

在此，在比濁測量的情況下，混合液內存在散射體。從而，在利用使用了透鏡的光學系統進行比濁測量的情況下，會產生由散射體導致的多次散射的問題。即，由于在檢測光中混入了多次散射所產生的光，因此對檢測的精度、準確度帶來壞影響。

此外，象透鏡這樣的光學元件，根據光的波長而折射率不同。從而，在利用使用了透鏡的光學系統進行比色測量或比濁測量的情況下，會產生因為色差而在期望的成像位置上按照每個波長而像不同等問題。

在這樣地利用使用了透鏡的光學系統進行比色測量或比濁測量的情況下，存在妨礙測量的主要因素。

因而，在實施方式中，為了解決上述問題，對在使用了透鏡的光學系統中使比濁測量的測量性能提高的結構進行說明。

實施方式中記載的分析裝置具有對反應管內的混合液照射來自光源的光的照射光學部。此外，檢測光學部對透射了混合液后的光進行檢測。此外，照射光學部在前側焦點位置上配置光源，具有會聚來自光源的光的第一光學元件。此外，第二光學元件將通過了第一光學元件后的光引導到反應管。此外，在第一光學元件的后側設置入射數值孔徑調整部件，對使來自光源的光入射到反應管時的數值孔徑進行調整。

根據實施方式記載的分析裝置，通過調整入射數值孔徑，能夠抑制比濁測量中的散射光的影響。從而能夠使比濁測量的測量性能提高。

附圖說明

圖1是第一實施方式和第二實施方式涉及的自動分析裝置的外觀圖。

圖2是示出第一實施方式和第二實施方式涉及的自動分析裝置的測光單元的結構的框圖。

圖3是示出第一實施方式涉及的照射光學部的結構的框圖。

圖4是示出第一實施方式涉及的檢測光學部的結構的框圖。

圖5是示出第一實施方式涉及的測光單元的光學系統的圖。

圖6是示出第一實施方式涉及的效果的圖。

圖7是示出第一實施方式涉及的效果的圖。

圖8是示出第一實施方式的變形例涉及的效果的圖。

圖9是示出第二實施方式涉及的照射光學部的結構的框圖。

圖10是示出第二實施方式涉及的測光單元的光學系統的圖。

具體實施方式

(裝置結構)

首先，使用圖1，關于第一和第二實施方式中通用的自動分析裝置進行說明。再有，實施方式是關于自動分析裝置的結構，但是不限于此。也可以將本實施方式的結構適用于各種分光分析裝置。

自動分析裝置具有試劑瓶1、試劑架2a·2b、試劑庫3a·3b、反應管4、反應盤5、被檢試樣容器6、盤采樣器7、分注臂8a·8b、采樣臂9、攪拌單元10、測光單元11和清洗單元12。

試劑瓶1是裝有與被檢試樣的各種成分進行反應的試劑的容器。將試劑架2a以收納了多個試劑瓶1的狀態設置在試劑庫3a中。同樣，將試劑架2b以收納了多個試劑瓶1的狀態設置在試劑庫3b中。

反應管4是在使被檢試樣與試劑反應時所使用的容器。在反應盤5的圓周上配置多個反應管4。

被檢試樣容器6是裝有被檢試樣的容器。在盤采樣器7上配置多個被檢試樣容器6。

利用分注臂8a或分注臂8b，將試劑瓶1內的試劑分注到反應管4內。此外，還利用采樣臂9，將被檢試樣容器6內的被檢試樣分注到反應管4內。