[發明專利]一種對數據進行查錯的方法和裝置

有效

• 申請號: 201210006428.8
• 申請日: 2012-01-10
• 公開（公告）號: CN103197984A
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發明（設計）人: 鄭觀東
• 申請（專利權）人: 炬力集成電路設計有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

技術領域

本發明涉及到數據校驗技術領域，特別涉及到一種對數據進行查錯的方法和裝置。

背景技術

ECC(Error?Correcting?Code，錯誤檢查和糾正)是一種實現數據錯誤檢查和糾正的技術，廣泛使用于數據傳輸。

目前常用的糾錯碼查錯或糾錯方法是，根據移動產業處理器接口提供的糾錯解碼表(如表1所示)，采用查找解碼表的方法完成糾錯碼的查錯和糾錯，其過程如圖1所示：

表1糾錯解碼表

步驟S10、對接收的數據進行檢驗：數據接收端將接收到的6位糾錯碼與24位數據生成的6位糾錯碼進行位異或操作，結果標識為Syndrome，位寬為6位。

步驟S11、根據糾錯解碼表查錯：Syndrome的位的值為1則表示數據出錯，移動產業處理器接口對Syndrome的值的定義情況如下：

如果Syndrome的值為0，那么接收的24位數據沒有出現出錯的情況；

如果Syndrome的值不為0，且在糾錯解碼表中，那么接收的數據有1位出錯；

如果Syndrome的值不為0，且不在糾錯解碼表中，那么接收的數據有2位出錯。

其中，d5、d4、d3、d2、d1和d0表示24位數據中被糾錯的位置的二進制碼，d5為高位，d0為低位，表內數據是Syndrome的值。

步驟S12、根據上述查錯結果再對接收的24位數據進行輸出、糾錯或報錯。

參照圖2，圖2所示為上述方法的電路圖，可以看出，上述方法由于使用表1所示的ECC解碼表，使得實現的電路面積較大，而且對EDA(Electronic?DesignAutomation，電子設計自動化)工具的語法解釋的依賴性比較大。

發明內容

本發明的主要目的為提供一種對數據進行查錯的方法和裝置，旨在節約電路面積。

本發明提出一種對數據進行查錯的方法，包括：

對接收到的數據進行ECC檢驗，得到檢驗值；

對所述檢驗值中出錯位的位數進行計數；

根據計數值判斷所述接收數據的出錯情況。

優選地，所述接收數據的位寬為24位，所述檢驗值的位寬為6位。

優選地，所述根據計數值判斷接收數據的出錯情況包括：

當計數值為0時，判定所述24位數據正確；

當計數值為3或5時，判定所述24位數據出現1位錯誤；

當計數值非0、3和5時，判定所述24位數據出現2位錯誤。

優選地，在執行所述判定24位數據出現1位錯誤之后，還包括：

對所述24位數據進行1位糾錯。

優選地，所述對24位數據進行1位糾錯包括：

當計數值為3時，對所述24位數據的前20位進行糾錯，后4位不變；

當計數值為5時，對所述24位數據的后4位進行糾錯，前20位不變。

優選地，所述對24位數據進行1位糾錯具體包括：

通過與運算定位所述24位數據的出錯位置；

對所述出錯位置的數據進行求反運算，得到正確的數據。

本發明還提出一種對數據進行查錯的裝置，包括：

檢驗模塊，用于對接收到的數據進行ECC檢驗，得到檢驗值；

計數模塊，用于對所述檢驗值中出錯位的位數進行計數；

判斷模塊，用于根據計數值判斷所述接收數據的出錯情況。

優選地，所述接收數據的位寬為24位，所述檢驗值的位寬為6位。

優選地，所述判斷模塊包括：

第一判定單元，用于當計數值為0時，判定所述24位數據正確；

第二判定單元，用于當計數值為3或5時，判定所述24位數據出現1位錯誤；

第三判定單元，用于當計數值非0、3和5時，判定所述24位數據出現2位錯誤。

優選地，所述裝置還包括：

糾錯模塊，用于對所述24位數據進行1位糾錯。

優選地，所述糾錯模塊包括：

第一糾錯單元，用于當計數值為3時，對所述24位數據的前20位進行糾錯，后4位不變；

第二糾錯單元，用于當計數值為5時，對所述24位數據的后4位進行糾錯，前20位不變。

優選地，所述第一糾錯單元包括：

第一定位子單元，用于通過與運算定位所述24位數據的前20位的出錯位置；

第一校正子單元，用于對所述出錯位置的數據進行求反運算，得到正確的數據；