[發明專利]一種對數據進行查錯的方法和裝置

有效

• 申請號: 201210006428.8
• 申請日: 2012-01-10
• 公開（公告）號: CN103197984A
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發明（設計）人: 鄭觀東
• 申請（專利權）人: 炬力集成電路設計有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種對數據進行查錯的方法，其特征在于，包括：

對接收到的數據進行錯誤檢查和糾正ECC檢驗，得到檢驗值；

對所述檢驗值中出錯位的位數進行計數；

根據計數值判斷所述接收數據的出錯情況。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述接收數據的位寬為24位，所述檢驗值的位寬為6位。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據計數值判斷接收數據的出錯情況包括：

當計數值為0時，判定所述24位數據正確；

當計數值為3或5時，判定所述24位數據出現1位錯誤；

當計數值非0、3和5時，判定所述24位數據出現2位錯誤。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，在執行所述判定24位數據出現1位錯誤之后，還包括：

對所述24位數據進行1位糾錯。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述對24位數據進行1位糾錯包括：

當計數值為3時，對所述24位數據的前20位進行糾錯，后4位不變；

當計數值為5時，對所述24位數據的后4位進行糾錯，前20位不變。

6.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述對24位數據進行1位糾錯具體包括：

通過與運算定位所述24位數據的出錯位置；

對所述出錯位置的數據進行求反運算，得到正確的數據。

7.一種對數據進行查錯的裝置，其特征在于，包括：

檢驗模塊，用于對接收到的數據進行ECC檢驗，得到檢驗值；

計數模塊，用于對所述檢驗值中出錯位的位數進行計數；

判斷模塊，用于根據計數值判斷所述接收數據的出錯情況。

8.如權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述接收數據的位寬為24位，所述檢驗值的位寬為6位。

9.如權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述判斷模塊包括：

第一判定單元，用于當計數值為0時，判定所述24位數據正確；

第二判定單元，用于當計數值為3或5時，判定所述24位數據出現1位錯誤；

第三判定單元，用于當計數值非0、3和5時，判定所述24位數據出現2位錯誤。

10.如權利要求9所述的裝置，其特征在于，還包括：

糾錯模塊，用于對所述24位數據進行1位糾錯。

11.如權利要求10所述的裝置，其特征在于，所述糾錯模塊包括：

第一糾錯單元，用于當計數值為3時，對所述24位數據的前20位進行糾錯，后4位不變；

第二糾錯單元，用于當計數值為5時，對所述24位數據的后4位進行糾錯，前20位不變。

12.如權利要求11所述的裝置，其特征在于，所述第一糾錯單元包括：

第一定位子單元，用于通過與運算定位所述24位數據的前20位的出錯位置；

第一校正子單元，用于對所述出錯位置的數據進行求反運算，得到正確的數據；

所述第二糾錯單元包括：

第二定位子單元，用于通過與運算定位所述24位數據的后4位的出錯位置；

第二校正子單元，用于對所述出錯位置的數據進行求反運算，得到正確的數據。