[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置及其加速抹除驗證程序的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210006126.0
• 申請日: 2012-01-10
• 公開（公告）號: CN103198853A
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳敦仁
• 申請（專利權(quán)）人: 宜揚科技股份有限公司
• 主分類號: G11C7/10
• 分類號: G11C7/10;G11C7/12
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 任默聞

1.一種可加速抹除驗證程序的半導(dǎo)體裝置，包含一頁緩沖器及內(nèi)含多條位線的一存儲單元陣列，所述多條位線接收一抹除驗證指令，其特征在于，更包含：

一抹除驗證修正單元，連接于所述位線與所述頁緩沖器之間，所述抹除驗證修正單元具有對應(yīng)地連接所述位線的多個接地開關(guān)，所述接地開關(guān)被設(shè)定為在接收所述抹除驗證指令時使所述位線中已毀損的位線連接至接地電壓。

2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于，所述接地開關(guān)被設(shè)定為在接收該抹除驗證指令時，其余未毀損的位線亦連接至所述接地電壓。

3.一種加速半導(dǎo)體裝置的抹除驗證程序的方法，其特征在于，所述半導(dǎo)體裝置包含一頁緩沖器及內(nèi)含多條位線的一存儲單元陣列，所述方法包含：

取得所述存儲單元陣列中已毀損的位線的地址；

將一抹除驗證修正單元連接于所述位線與所述頁緩沖器之間，并使所述抹除驗證修正單元中的多個接地開關(guān)對應(yīng)地連接所述位線；及

根據(jù)所述地址，設(shè)定所述接地開關(guān)，以在所述抹除驗證修正單元接收到一抹除驗證指令時，使連接至已毀損的位線的接地開關(guān)連接至接地電壓。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，在所述抹除驗證修正單元接收到所述抹除驗證指令時，使連接至其余位線的接地開關(guān)亦連接至接地電壓。