[發明專利]單總線芯片的測試方法有效
| 申請號： | 201210005107.6 | 申請日： | 2012-01-06 |
| 公開（公告）號： | CN103197225B | 公開（公告）日： | 2017-03-29 |
| 發明（設計）人： | 張曉徽 | 申請（專利權）人： | 珠海天威技術開發有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 珠海智專專利商標代理有限公司44262 | 代理人： | 林永協 |
| 地址： | 519060 廣東省珠海*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 總線 芯片 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.單總線芯片的測試方法，其特征在于：包括
將測試主機的第一引腳連接至被測試芯片的第一管腳，所述第一引腳還通過第一電阻連接至直流電源，將所述測試主機的第二引腳連接至所述芯片的第二管腳，所述第二引腳還通過第二電阻連接至所述直流電源，所述第一管腳與所述第二管腳中的一個為數據管腳，所述第一管腳與所述第二管腳中的另一個為接地管腳；
將所述第一引腳設置為數據輸出引腳并輸出接地信號，將所述第二引腳設置為數據輸入引腳；
待所述芯片上電后，所述測試主機讀取所述第二引腳輸入的信號，并判斷所讀取的信號是否為低電平信號，如是，則將所述第一引腳設置為數據輸入引腳，將所述第二引腳設置為數據輸出引腳并輸出接地信號，并通過所述第一引腳與所述芯片進行通信；如否，通過所述第二引腳與所述芯片進行通信。
2.根據權利要求1所述的單總線芯片的測試方法，其特征在于：
所述第一引腳與所述第二引腳均為雙工輸入輸出引腳。
3.根據權利要求1或2所述的單總線芯片的測試方法，其特征在于：
將所述第一引腳設置為數據輸出引腳并輸出接地信號后，所述測試主機延時預定時間后向所述芯片上電。
4.根據權利要求3所述的單總線芯片的測試方法，其特征在于：
所述預定時間為10毫秒。
5.根據權利要求1或2所述的單總線芯片的測試方法，其特征在于：
所述測試主機為單片機。
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