[發(fā)明專利]分子結(jié)構(gòu)和功能的測(cè)定方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210003078.X
• 申請(qǐng)日: 2012-01-06
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102590525A
• 公開(kāi)（公告）日: 2012-07-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: J.弗勒斯;M.D.貝拉爾迪諾;K.蘇基哈拉;T.扎貝利
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 阿克塞特里斯股份公司
• 主分類號(hào): G01N33/68
• 分類號(hào): G01N33/68;G01N21/33;G01N21/64
• 代理公司: 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 李連濤;劉健

1.測(cè)量細(xì)胞膜或脂雙層的轉(zhuǎn)運(yùn)性質(zhì)的方法，包括

提供芯片（1），其至少具有具有頂面和背面和至少一個(gè)納米孔或微孔（3）的基底（2）和覆蓋所述至少一個(gè)孔（3）的膜（4）；

至少在所述至少一個(gè)孔（3）的區(qū)域中提供材料層（6）以在所述至少一個(gè)孔（3）處支承該膜（4）以允許穿過(guò)該膜（4）和所述至少一個(gè)孔（3）轉(zhuǎn)運(yùn)；

將含有至少一種分子（5）或離子的流體（8）施加至該膜（4）的頂面以使該分子（5）或離子穿過(guò)該膜（4）、至少一個(gè)孔（3）和該材料層（6）移動(dòng)；和

通過(guò)使用光學(xué)檢測(cè)法監(jiān)測(cè)已穿過(guò)該材料層（6）的該分子（5）或離子。

2.權(quán)利要求1的方法，其特征在于通過(guò)UV/VIS吸收或熒光光譜學(xué)進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)。

3.權(quán)利要求1或2的方法，其特征在于提供材料層（6），其由充分支承該膜（4）但足夠多孔以允許穿過(guò)該膜（4）的物質(zhì)也穿過(guò)該材料層（6）的任何種類的多孔材料，如聚合物、凝膠或多孔疏松材料制成。

4.權(quán)利要求3的方法，其特征在于該聚合物是聚合電解質(zhì)或親水聚合物。

5.權(quán)利要求3的方法，其特征在于該凝膠是水凝膠。

6.權(quán)利要求3的方法，其特征在于該疏松材料是微米-/納米-多孔硅或金屬或陶瓷。

7.前述權(quán)利要求任一項(xiàng)的方法，其特征在于通過(guò)旋涂或噴涂沉積該材料層（6）。

8.前述權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)的方法，其特征在于通過(guò)燒結(jié)制造該材料層（6）。

9.前述權(quán)利要求任一項(xiàng)的方法，其特征在于提供被該芯片（1）隔開(kāi)的兩個(gè)隔室（A，B）以直接測(cè)量一個(gè)隔室（B）中的化合物濃度、用于研究或宏觀檢測(cè)所述兩個(gè)隔室（A，B）之間的分子過(guò)程（molecular?processes）。

10.前述權(quán)利要求任一項(xiàng)的方法，其特征在于在短和長(zhǎng)持續(xù)時(shí)間內(nèi)光學(xué)實(shí)時(shí)測(cè)量穿過(guò)該芯片（1）的分子（5）或離子。