[發明專利]位置識別

無效

• 申請號: 201180059679.6
• 申請日: 2011-12-08
• 公開（公告）號: CN103261837A
• 公開（公告）日: 2013-08-21
• 發明（設計）人: M·格里克;A·貝克爾;S·霍夫;T·比爾策恩;C·羅思;S·塔巴舒斯;W·斯佩思;R·伊姆豪澤
• 申請（專利權）人: 拜耳知識產權有限責任公司
• 主分類號: G01B11/25
• 分類號: G01B11/25
• 代理公司: 北京北翔知識產權代理有限公司 11285
• 代理人: 鄭建暉;楊勇

本發明涉及用于記錄物品以及再次找到物品的片段的方法。

很多工業貨物和產品的生產和加工過程中的自動化需要物品和/或物品片段的自動化的識別和再次找到。

例如，公開的專利申請DE3704313A1涉及識別物品的非接觸的光學方法。在物品上施加全息圖。將全息圖用相干光照射并將從全息圖返回的射線用相機捕獲。從返回的射線可以得出關于物品的種類、它在空間中的位置、形態變化和動態行為的結論。

該方法的缺點是需要必須施加于物品上的媒介（全息圖）。因此該方法不適用于不能提供相應的媒介的物品。此外，必須為物品提供多個全息圖，以便能夠識別和再次找到物品的不同片段。

在膜和涂層的生產過程中，例如會發生雜質的納入或者一般地說產生缺陷，其必須在進一步的加工之前被識別并在合適的情況下被去除。在很多工藝中，將可能在加工步驟過程中產生的缺陷在該加工步驟過程中進行標記是不可能的。

因此，本發明解決如下問題：識別和/或再次找到物品的片段，而不必為該片段提供標記。所尋求的方法應當非接觸地實施，以允許在識別和/或再次找到過程中高的速度，并且實施起來簡單且需要少的維護。

該問題通過根據獨立權利要求1、2和3的方法得到解決。優選的實施方案存在于從屬權利要求中。

本發明基于如下發現：物品的固有結構性質，特別是物品的表面結構，產生用于物品片段的明確識別和/或再次找到的特征。然而，在這種情況下，如下所述將是太復雜的：通過圖像處理系統檢測物品完整的固有結構性質并儲存于數據庫中，以便能夠在隨后的時間點再次找到特定的片段。

出人意料地發現，用具有線性束輪廓的電磁輻射進行的物品掃描簡單且快速地產生足夠的信息，以便以高的精確度并且同樣快速地再次找到物品的各個片段。

因而，本發明的第一個主題是物品的記錄方法，其特征在于，用電磁輻射掃描物品的一個區域并將由于掃描而從物品發射的電磁輻射的至少一部分捕獲，并將獲得的掃描信號在合適的情況下在信號處理后與物品的各個片段有關的其它參數一起以參考輪廓的形式儲存于數據庫中，其中用于掃描的電磁輻射具有線性束輪廓。

本發明的另一個主題是用于識別和/或再次找到物品的片段的方法，包括下列步驟：

-基于關于物品的參考輪廓，確定預定的參數存在于物品的哪一個片段中，

-用電磁輻射掃描所確定的片段，將由于掃描而從物品發射的電磁輻射的至少一部分捕獲，并由獲得的掃描信號產生局部輪廓，在合適的情況下使用信號處理方法，其中用于掃描的電磁輻射具有線性束輪廓，

-將局部輪廓與參考輪廓的與所確定的片段相對應的那部分進行比較。

本發明的另一個主題是用于將處理過的物品的片段分配至未處理的物品的相應片段的方法，包括下列步驟：

-用電磁輻射掃描處理過的物品的片段，將由于掃描而從處理過的物品發射的電磁輻射的至少一部分捕獲，并由獲得的掃描信號產生局部輪廓，在合適的情況下使用信號處理方法，其中用于掃描的電磁輻射具有線性束輪廓，

-逐段地將局部輪廓與未處理的物品的參考輪廓進行比較，并識別與局部輪廓具有最大相似性的參考輪廓的那個片段。

本發明可以在形式上細分為兩個階段。在一個第一階段（下文也稱為第一階段）將物品記錄。在該記錄過程中產生參考輪廓，該參考輪廓被儲存于數據庫中。該參考輪廓含有關于物品的固有結構性質以及固有結構性質出現的物品位置的信息。

該參考輪廓在一定程度上代表物品的一種地圖，在該地圖上將關于固有結構性質的信息標記為位置的函數。

此外，參考輪廓含有關于物品的各個片斷的參數。這些參數與關于物品的固有結構性質的信息一起記錄在參考輪廓中。這意味著，關于通過一個或多個參數表征的各個片斷，參考輪廓含有關于在所述片斷中物品的固有結構性質的信息。

為了繼續以上使用的地圖的比喻，參數標出地圖上的特定特征，例如燈塔。

在本發明的一個隨后的第二階段（下文也稱為第二階段），物品的一部分被識別和/或再次找到。

在基于優選實施方案更詳細地解釋本發明之前，將給出本發明的具體的應用可能性，以便使以上使用的術語更清楚。