[發(fā)明專利]位置識別

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201180059679.6
• 申請日: 2011-12-08
• 公開（公告）號: CN103261837A
• 公開（公告）日: 2013-08-21
• 發(fā)明（設(shè)計）人: M·格里克;A·貝克爾;S·霍夫;T·比爾策恩;C·羅思;S·塔巴舒斯;W·斯佩思;R·伊姆豪澤
• 申請（專利權(quán)）人: 拜耳知識產(chǎn)權(quán)有限責(zé)任公司
• 主分類號: G01B11/25
• 分類號: G01B11/25
• 代理公司: 北京北翔知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11285
• 代理人: 鄭建暉;楊勇

1.用于記錄物品的方法，其特征在于，用電磁輻射掃描物品的一個區(qū)域并將由于掃描而從物品發(fā)射的電磁輻射的至少一部分捕獲，并將獲得的掃描信號在必要時在信號處理后與物品的各個片段有關(guān)的其它參數(shù)一起以參考輪廓的形式儲存于數(shù)據(jù)庫中，其中用于掃描的電磁輻射具有線性束輪廓。

2.用于識別和/或再次找到物品的片段的方法，包括下列步驟：

-基于關(guān)于物品的參考輪廓，確定預(yù)定的參數(shù)存在于物品的哪一個片段中，

-用電磁輻射掃描所確定的片段，將由于掃描而從物品發(fā)射的電磁輻射的至少一部分捕獲，并由獲得的掃描信號在必要時使用信號處理方法產(chǎn)生局部輪廓，其中用于掃描的電磁輻射具有線性束輪廓，

-將局部輪廓與參考輪廓的與所確定的片段相對應(yīng)的那部分進行比較。

3.用于將處理過的物品的片段分配至未處理的物品的相應(yīng)片段的方法，包括下列步驟：

-用電磁輻射掃描處理過的物品的片段，將由于掃描而從處理過的物品發(fā)射的電磁輻射的至少一部分捕獲，并由獲得的掃描信號在必要時使用信號處理方法產(chǎn)生局部輪廓，其中用于掃描的電磁輻射具有線性束輪廓，

-逐段地將局部輪廓與未處理的物品的參考輪廓進行比較，并識別與局部輪廓具有最大相似性的參考輪廓的那個片段。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，線性束輪廓的束寬度比束厚度大得超過50倍。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的方法，其特征在于，束寬度在2mm至7mm范圍內(nèi)，優(yōu)選在3mm至6.5mm范圍內(nèi)，特別優(yōu)選在4mm至6mm范圍內(nèi)，尤其優(yōu)選在4.5mm至5.5mm范圍內(nèi)，而束厚度在5μm至35μm范圍內(nèi)，優(yōu)選在10μm至30μm范圍內(nèi)，特別優(yōu)選在15μm至30μm范圍內(nèi)，尤其優(yōu)選在20μm至27μm范圍內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，具有可見光至紅外光范圍內(nèi)的波長的電磁輻射用于掃描。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項所述的方法，其特征在于，掃描束垂直入射于物品表面上，并且從表面漫反射的輻射相對于掃描束在側(cè)面被捕獲。

8.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項所述的方法，其特征在于，掃描束傾斜地入射于物品的表面上，并且用于捕獲返回的輻射的一個或多個檢測器相對于鏡面反射的束在側(cè)面安裝。