[發(fā)明專利]用于集成電路芯片的角結(jié)構(gòu)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201180057047.6 | 申請日: | 2011-08-05 |
| 公開(公告)號: | CN103229285A | 公開(公告)日: | 2013-07-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 摩森·H·馬帝;大衛(wèi)·M·馬哈尼 | 申請(專利權(quán))人: | 吉林克斯公司 |
| 主分類號: | H01L21/56 | 分類號: | H01L21/56;H01L23/00 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243 | 代理人: | 許靜;黃燦 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 集成電路 芯片 結(jié)構(gòu) | ||
1.一種集成電路(IC),其特征在于,其包含:
基板;
集成電路芯片,所述集成電路芯片是以倒裝芯片方式連附于所述基板的第一表面,其中所述集成電路芯片具有第一角、第二角、第三角及第四角;
接點(diǎn)陣列,所述接點(diǎn)陣列位于該基板的第二表面上;
第一角結(jié)構(gòu),所述第一角結(jié)構(gòu)接附于所述集成電路芯片且覆蓋至少所述第一角;以及
第二角結(jié)構(gòu),所述第二角結(jié)構(gòu)接附于所述集成電路芯片且覆蓋至少所述第二角,以使集成電路芯片的中央?yún)^(qū)域不被所述第一角結(jié)構(gòu)與所述第二角結(jié)構(gòu)所覆蓋。
2.如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的集成電路,其特征在于,其中所述第一角結(jié)構(gòu)也覆蓋所述第三角且所述第二角結(jié)構(gòu)也覆蓋所述第四角。
3.如權(quán)利要求第1或2項(xiàng)所述的集成電路,其特征在于,其中所述第一角結(jié)構(gòu)為含有第一側(cè)壁局部的第一邊緣角結(jié)構(gòu),該第二角結(jié)構(gòu)為含有第二側(cè)壁局部的第二邊緣角結(jié)構(gòu)。
4.如權(quán)利要求第3項(xiàng)所述的集成電路,其特征在于,其中所述第一側(cè)壁局部及所述第二側(cè)壁局部分別延伸至所述基板的第一表面。
5.如權(quán)利要求第1至4項(xiàng)中任一項(xiàng)所述的集成電路,其特征在于,進(jìn)一步包含位于所述第一角結(jié)構(gòu)上的產(chǎn)品標(biāo)記。
6.如權(quán)利要求第1至5項(xiàng)中任一項(xiàng)所述的集成電路,其特征在于,進(jìn)一步包含覆蓋所述第三角的第三角結(jié)構(gòu)以及覆蓋所述第四角的第四角結(jié)構(gòu)。
7.如權(quán)利要求第1至6項(xiàng)中任一項(xiàng)所述的集成電路,其特征在于,進(jìn)一步包含電性元件,所述電性元件位于所述第一角結(jié)構(gòu)與所述第二角結(jié)構(gòu)之間且架置在所述集成電路芯片上。
8.如權(quán)利要求第7項(xiàng)所述的集成電路,其特征在于,其中所述電性元件為第二集成電路芯片。
9.如權(quán)利要求第1至8項(xiàng)中任一項(xiàng)所述的集成電路,其特征在于,其中所述基板為硅質(zhì)介置板,并且進(jìn)一步包含:
封裝基板;以及
另一集成電路芯片,所述另一集成電路芯片是以倒裝芯片方式連附于硅質(zhì)介置板的第一表面,其中所述硅質(zhì)介置板架置于該封裝基板上。
10.如權(quán)利要求第9項(xiàng)所述的集成電路,其特征在于,進(jìn)一步包含:
第三角結(jié)構(gòu),所述第三角結(jié)構(gòu)接附于所述集成電路芯片;
第四角結(jié)構(gòu),所述第四角結(jié)構(gòu)接附于所述集成電路芯片;
第五角結(jié)構(gòu),所述第五角結(jié)構(gòu)接附于所述另一集成電路芯片;
第六角結(jié)構(gòu),所述第六角結(jié)構(gòu)接附于所述另一集成電路芯片;
第七角結(jié)構(gòu),所述第七角結(jié)構(gòu)接附于所述另一集成電路芯片;以及
第八角結(jié)構(gòu),所述第八角結(jié)構(gòu)接附于所述另一集成電路芯片。
11.一種制造集成電路(IC)的方法,其特征在于,其包含:
將集成電路芯片以倒裝芯片方式連附于基板的第一側(cè),其中所述集成電路芯片具有第一角、第二角、第三角及第四角;
將第一角結(jié)構(gòu)接附于所述集成電路芯片以覆蓋至少所述第一角;以及
將第二角結(jié)構(gòu)接附于所述集成電路芯片以覆蓋至少所述第二角,使所述集成電路芯片的中央?yún)^(qū)域不被所述第一角結(jié)構(gòu)與所述第二角結(jié)構(gòu)所覆蓋。
12.如權(quán)利要求第11項(xiàng)所述的方法,其特征在于,進(jìn)一步包含:
將另一集成電路芯片以倒裝芯片方式連附于所述基板的第一側(cè);以及
將所述基板架置于封裝基板。
13.如權(quán)利要求第12項(xiàng)所述的方法,其特征在于,進(jìn)一步包含:
將第三角結(jié)構(gòu)接附于所述集成電路芯片;
將第四角結(jié)構(gòu)接附于所述集成電路芯片;
將第五角結(jié)構(gòu)接附于所述另一集成電路芯片;
將第六角結(jié)構(gòu)接附于所述另一集成電路芯片;
將第七角結(jié)構(gòu)接附于所述另一集成電路芯片;以及
將第八角結(jié)構(gòu)接附于所述另一集成電路芯片。
14.如權(quán)利要求第11至13項(xiàng)中任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,進(jìn)一步包含:
在所述第一角結(jié)構(gòu)與該第二角結(jié)構(gòu)之間將電性元件架置于所述集成電路芯片上。
15.如權(quán)利要求第11至14項(xiàng)中任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,進(jìn)一步包含:
將所述集成電路放置在檢測固架的檢測固架插槽內(nèi);以及
令所述集成電路的角結(jié)構(gòu)接觸于檢測固架的工作壓機(jī),以將封裝基板的第二側(cè)上的接點(diǎn)陣列壓置抵靠檢測固架的電性檢測接點(diǎn)陣列。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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