[發(fā)明專利]分光光度計(jì)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201180054895.1 | 申請(qǐng)日: | 2011-11-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103221802A | 公開(公告)日: | 2013-07-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 松井繁;山村周平;秋山秀之;江畠佳定 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社日立高新技術(shù) |
| 主分類號(hào): | G01N21/27 | 分類號(hào): | G01N21/27;G01J3/02;G01J3/36 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243 | 代理人: | 許靜;郭鳳麟 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 分光 光度計(jì) | ||
1.一種分光光度計(jì),其特征在于,
具備:光源;
試樣池;
多色儀,其通過將來自上述光源的光中的透過上述試樣池的光分光為多個(gè)波長(zhǎng)成分,來生成上述試樣池內(nèi)的試樣的透過光譜;
圖像傳感器,其檢測(cè)上述試樣的透過光譜;
光源監(jiān)視用光檢測(cè)器,其檢測(cè)來自上述光源的光中的沒有透過上述試樣池的光;以及
運(yùn)算部,其使用上述光源監(jiān)視用光檢測(cè)器的輸出信號(hào)修正上述試樣的透過光譜,
上述運(yùn)算部通過將上述透過光譜除以修正系數(shù)來對(duì)其進(jìn)行修正,該修正系數(shù)表示根據(jù)上述光源監(jiān)視用光檢測(cè)器的輸出信號(hào)求出的光源的光量變動(dòng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分光光度計(jì),其特征在于,
在將時(shí)刻t=0以及t=ti(i=1,2,3,…)的上述光源的發(fā)光強(qiáng)度分別設(shè)為H(0)、H(ti),將時(shí)刻t=ti(i=1,2,3,…)的試樣的透過光譜設(shè)為S(λ,ti)(λ表示波長(zhǎng))時(shí),上述運(yùn)算部通過下述的式1求出修正后的透過光譜S’(λ,ti)。
S’(λ,ti)=S(λ,ti)/(H(ti)/H(0))??式1
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分光光度計(jì),其特征在于,
在時(shí)刻t=0,上述試樣池中不存在分析對(duì)象的試樣的狀態(tài)下,通過上述多色儀取得參照用透過光譜,并使用該參照用透過光譜修正時(shí)刻t=ti(i=1,2,3,…)的上述試樣的透過光譜S(λ,ti)(λ表示波長(zhǎng))。
4.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的分光光度計(jì),其特征在于,
設(shè)有用于將來自上述光源的光中的沒有透過上述試樣池的光導(dǎo)入上述光源監(jiān)視用光檢測(cè)器的光纖。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分光光度計(jì),其特征在于,
將上述圖像傳感器的像素中的一部分作為上述光源監(jiān)視用光檢測(cè)器使用,將其他部分作為用于檢測(cè)上述試樣的透過光譜的光檢測(cè)器使用。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的分光光度計(jì),其特征在于,
在上述圖像傳感器的像素中的作為上述光源監(jiān)視用光檢測(cè)器使用的像素區(qū)域和用于檢測(cè)上述試樣的透過光譜的像素區(qū)域之間,設(shè)置有不檢測(cè)光的像素區(qū)域。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分光光度計(jì),其特征在于,
上述運(yùn)算部通過對(duì)上述透過光譜進(jìn)行對(duì)數(shù)變換來求出吸收光譜,并通過將該吸收光譜減去修正系數(shù)來對(duì)其進(jìn)行修正,該修正系數(shù)表示根據(jù)上述光源監(jiān)視用光檢測(cè)器的輸出信號(hào)的對(duì)數(shù)變換值求出的光源的光量變動(dòng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的分光光度計(jì),其特征在于,
上述光源具有發(fā)光的波長(zhǎng)區(qū)域互不相同的第1及第2光源,
在將時(shí)刻t=0以及t=ti(i=1,2,3,…)的上述第1光源的發(fā)光強(qiáng)度分別設(shè)為H(0)、H(ti),將時(shí)刻t=0以及t=ti的上述第2光源的發(fā)光強(qiáng)度分別設(shè)為D(0)、D(ti),將時(shí)刻t=ti(i=1,2,3,…)的試樣的透過光譜設(shè)為S(λ,ti)(λ表示波長(zhǎng))時(shí),上述運(yùn)算部通過下述的式2求出修正后的透過光譜S’(λ,ti)。
S’(λ,ti)=S(λ,ti)/β=S(λ,ti)/{(H(ti)+D(ti))/(H(0)+D(0))}??式2
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的分光光度計(jì),其特征在于,
上述第1光源為可視區(qū)用鹵素?zé)簦鲜龅?光源為紫外區(qū)用氘放電燈。
10.一種分光光度計(jì),其特征在于,
具備:發(fā)光的波長(zhǎng)區(qū)域互不相同的第1及第2光源;
試樣池;
檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng),其根據(jù)來自上述第1及第2光源的光中的透過上述試樣池的光生成上述試樣池內(nèi)的試樣的透過光譜;
光源監(jiān)視光學(xué)系統(tǒng),其檢測(cè)來自上述第1及第2光源的光中的沒有透過上述試樣池的光;以及
運(yùn)算部,其使用來自上述光源監(jiān)視光學(xué)系統(tǒng)的輸出信號(hào)修正上述試樣的透過光譜,
上述運(yùn)算部通過將上述透過光譜除以修正系數(shù)來對(duì)其進(jìn)行修正,該修正系數(shù)表示根據(jù)上述光源監(jiān)視光學(xué)系統(tǒng)的輸出信號(hào)求出的光源的光量變動(dòng)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會(huì)社日立高新技術(shù),未經(jīng)株式會(huì)社日立高新技術(shù)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201180054895.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





