[發明專利]分光光度計

無效

• 申請號: 201180054895.1
• 申請日: 2011-11-14
• 公開（公告）號: CN103221802A
• 公開（公告）日: 2013-07-24
• 發明（設計）人: 松井繁;山村周平;秋山秀之;江畠佳定
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27;G01J3/02;G01J3/36
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;郭鳳麟

技術領域

本發明涉及測量試樣的透過光譜或吸收光譜的分光光度計，尤其涉及單光束方式的分光光度計。

背景技術

以往，作為測定透過光譜或吸收光譜的分光光度計，已知所謂雙光束方式的分光光度計。在雙光束方式的分光光度計中，通過設置試樣池和參照池兩個池，測量通過各池的光的光量，并求出其比值從而得到透過光譜。此外，通過對透過光譜的縱軸進行對數變換，從而得到吸收光譜。在雙光束方式的分光光度計中，由于同時測量試樣池用光束和參照池用光束，因此具有即使光源的光量隨時間變動，也能得到試樣的準確透過光譜的優點。

在日本特開昭59-230124號公報及日本特開昭63-198832號公報中，記載了使用圖像傳感器的雙光束方式的分光光度計的例子。使用圖像傳感器的雙光束方式的分光光度計存在構造復雜化、體積增大、制造成本增大的問題。因此，在裝配有圖像傳感器的分光光度計中，一般采用單光束方式。

在日本特開平11-108830號公報中，記載了通過色散元件對來自光源的光進行波長色散，并通過陣列式光檢測元件對其進行檢測的單光束方式的吸光度測定器。

并且，在日本特開昭61-53527號公報中，記載了搭載有紫外區用氘放電管和可視區用鹵素燈2種光源的分光光度計。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開昭59-230124號公報

專利文獻2：日本特開昭63-198832號公報

專利文獻3：日本特開平11-108830號公報

專利文獻4：日本特開昭61-53527號公報

發明內容

發明所要解決的課題

單光束方式的分光光度計具有構造簡單、體積小、制造成本低等優點。但是，當光源的光量隨時間變動時，單光束方式的分光光度計難以得到試樣的準確透過光譜。

本發明的目的在于，在單光束方式的分光光度計中，即使光源的光量隨時間變動，也能得到高S/N且能長時間抑制漂移的高穩定透過光譜及吸收光譜。

用于解決課題的手段

根據本發明，分光光度計具備：光源；試樣池；多色儀，其通過將來自上述光源的光中的透過上述試樣池的光分光為多個波長成分，來生成上述試樣池內的試樣的透過光譜；圖像傳感器，其檢測上述試樣的透過光譜；光源監視用光檢測器，其檢測來自上述光源的光中的沒有透過上述試樣池的光；以及運算部，其使用上述光源監視用光檢測器的輸出信號修正上述試樣的透過光譜。

上述運算部通過用上述透過光譜除以根據上述光源監視用光檢測器的輸出信號求出的修正系數來對其進行修正。

發明效果

根據本發明，在單光束方式的分光光度計中，即使光源的發光強度隨時間變動，也能得到高S/N且能長時間抑制漂移的高穩定透過光譜及吸收光譜。

附圖說明

圖1是表示根據本發明的分光光度計的第1例的結構的附圖。

圖2是對鹵素燈和氘放電燈的發光強度的波長光譜的例子進行說明的圖。

圖3是對鹵素燈和氘放電燈的發光強度的時間變動進行說明的圖。

圖4A是對鹵素燈和氘放電燈的發光強度的時間變動進行說明的另一圖。

圖4B是對鹵素燈和氘放電燈的發光強度的時間變動進行說明的又一圖。

圖5是表示根據本發明的分光光度計的第2例的結構的圖。

圖6是將本發明的分光光度計的第2例的一部分放大后的圖。

具體實施方式

參照圖1，對本發明的分光光度計的第1例進行說明。本示例的分光光度計具有第1及第2光源1,2、試樣池5、檢測光學系統、檢測光學系統運算部、光源監視光學系統、光源監視系統運算部以及計算機17。檢測光學系統具有分色鏡3、成像透鏡7、多色儀10以及一維圖像傳感器12。也可以使用二維圖像傳感器代替一維圖像傳感器12。檢測光學系統運算部具有放大器15及A/D轉換器16。

光源監視光學系統具有第1及第2光纖21A,21B、第1及第2透鏡23A,23B以及第1及第2光源監視用光檢測器24A,24B。光纖21A,21B也可以為光纖束。光源監視光學系統運算部具有第1及第2放大器25A,25B以及A/D轉換器26。