[發(fā)明專利]光電轉(zhuǎn)換元件無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201180051703.1 | 申請(qǐng)日: | 2011-11-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103201846A | 公開(公告)日: | 2013-07-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 小林宏之;福永敏明;村上直樹 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 富士膠片株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L31/04 | 分類號(hào): | H01L31/04 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明 |
| 地址: | 日本東京港區(qū)*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光電 轉(zhuǎn)換 元件 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種光電轉(zhuǎn)換元件,該光電轉(zhuǎn)換元件使用于太陽電池、電荷耦合器件(Charge?Coupled?Device,CCD)感測器(sensor)等。
背景技術(shù)
包括光電轉(zhuǎn)換層及與該光電轉(zhuǎn)換層導(dǎo)通的電極的光電轉(zhuǎn)換元件,被使用于太陽電池等的用途。從前,于太陽電池中,使用有塊狀(bulk)的單晶Si或多晶Si、或者薄膜的非晶(amorphous)Si的Si系太陽電池為主流,但已研究開發(fā)出不依賴Si的化合物半導(dǎo)體系太陽電池。作為化合物半導(dǎo)體系太陽電池,GaAs系等的塊狀系太陽電池、與包含Ib族元素、IIIb族元素、及VIb族元素的CIGS系等的薄膜系太陽電池已為人所知。CIGS是由通式Cu1-zIn1-xGaxSe2-ySy(式中,0≤x≤1、0≤y≤2、0≤z≤1)表示的化合物半導(dǎo)體,當(dāng)x=0時(shí)為CIS,當(dāng)x>0時(shí)為CIGS。于本說明書中,CIGS包含CIS。
每當(dāng)制造CIGS系光電轉(zhuǎn)換元件時(shí),重要的是已積層的層之間的剝離的問題。尤其當(dāng)藉由輥到輥(roll-to-roll)方式來進(jìn)行制造時(shí),因搬送時(shí)施加于膜的負(fù)載,更容易產(chǎn)生剝離。若剝離減輕,則不僅有助于使制造時(shí)的良率提高,而且亦有助于使光電轉(zhuǎn)換效率特性提高。
一般認(rèn)為CIGS系光電轉(zhuǎn)換元件中的剝離的原因主要在于:光電轉(zhuǎn)換層(即CIGS)與背面電極(即Mo層)的界面上所形成的MoSe2層是以對(duì)于背面電極層c軸取向的層狀而形成(參照?qǐng)D5)。
非專利文獻(xiàn)1中提及:形成為層狀的MoSe2層的層之間的鍵結(jié)是由凡得瓦力(Van?Der?Waals?force)產(chǎn)生的弱鍵結(jié),因此,呈層狀地形成有MoSe2層的Mo層與CIGS膜的密著性(adhesion)變?nèi)酢?/p>
因此,為了使剝離減輕,于專利文獻(xiàn)1、專利文獻(xiàn)2、以及專利文獻(xiàn)3等中,已研究了抑制MoSe2層的形成的方法。
于專利文獻(xiàn)1~專利文獻(xiàn)3中,揭示有于藉由硒化法(selenization?method)來形成CIGS層時(shí)的MoSe2層的抑制方法。
另一方面,已報(bào)告:由于在Mo層與CIGS層之間存在MoSe2層,因此,于Mo層與MoSe2層之間形成歐姆(ohmic)接觸,使太陽電池的效率提高。又,亦已提出:代替所述MoSe2層,于Mo層上形成ZnO等的半導(dǎo)體層,而試圖將轉(zhuǎn)換效率提高(專利文獻(xiàn)4、專利文獻(xiàn)5等)。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
[特午文獻(xiàn)1]日本專利特開平6-188444號(hào)公報(bào)
[專利文獻(xiàn)2]日本專利特開平9-321326號(hào)公報(bào)
[專利文獻(xiàn)3]日本專利特開2009-289955號(hào)公報(bào)
[專利文獻(xiàn)4]日本專利特開2006-13028號(hào)公報(bào)
[專利文獻(xiàn)5]日本專利特開2007-335625號(hào)公報(bào)
非專利文獻(xiàn)
[非專利文獻(xiàn)1]《薄售出膜》第480-481期的第433頁-第438頁(Thin?Sold?Films?Vol480-481p.433-438)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明解決的問題
然而,尚未確立藉由蒸鍍法而于包含過渡金屬的背面電極上形成CIGS層時(shí)的MoSe2層的抑制方法,重要的課題在于:在使用蒸鍍法來形成CIGS層而成的光電轉(zhuǎn)換元件中抑制剝離。
再者,當(dāng)藉由Mo以外的過渡金屬來構(gòu)成背面電極,且藉由Ib-IIIb-VIb化合物半導(dǎo)體來構(gòu)成光電轉(zhuǎn)換層時(shí),過渡金屬二硫?qū)倩铮╠ichalcogenide)層會(huì)于背面電極與光電轉(zhuǎn)換層之間生成,從而會(huì)產(chǎn)生同樣的問題。
本發(fā)明是鑒于上述情形而成的發(fā)明,本發(fā)明的目的在于提供密著性高,且不易產(chǎn)生剝離的光電轉(zhuǎn)換元件。
解決問題的手段
一種光電轉(zhuǎn)換元件,于基板上具有包含過渡金屬元素的導(dǎo)電層、包含化合物半導(dǎo)體的光電轉(zhuǎn)換層、以及透明電極的積層構(gòu)造,所述化合物半導(dǎo)體含有Ib族元素、IIIb族元素及VIb族元素,所述光電轉(zhuǎn)換元件的特征在于:
于所述導(dǎo)電層與所述光電轉(zhuǎn)換層之間包括過渡金屬二硫?qū)倩锉∧?,該過渡金屬二硫?qū)倩锉∧ぐ鲞^渡金屬元素與所述VIb族元素,
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于富士膠片株式會(huì)社,未經(jīng)富士膠片株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201180051703.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
- 圖像轉(zhuǎn)換設(shè)備、圖像轉(zhuǎn)換電路及圖像轉(zhuǎn)換方法
- 數(shù)模轉(zhuǎn)換電路及轉(zhuǎn)換方法
- 轉(zhuǎn)換設(shè)備和轉(zhuǎn)換方法
- 占空比轉(zhuǎn)換電路及轉(zhuǎn)換方法
- 通信轉(zhuǎn)換方法、轉(zhuǎn)換裝置及轉(zhuǎn)換系統(tǒng)
- 模數(shù)轉(zhuǎn)換和模數(shù)轉(zhuǎn)換方法
- 轉(zhuǎn)換模塊以及轉(zhuǎn)換電路
- 熱電轉(zhuǎn)換材料、熱電轉(zhuǎn)換元件和熱電轉(zhuǎn)換模塊
- 熱電轉(zhuǎn)換材料、熱電轉(zhuǎn)換元件及熱電轉(zhuǎn)換模塊
- 熱電轉(zhuǎn)換材料、熱電轉(zhuǎn)換元件及熱電轉(zhuǎn)換模塊





