[發(fā)明專利]磁控管濺射設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201180034051.0 | 申請(qǐng)日: | 2011-07-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103109344A | 公開(公告)日: | 2013-05-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | H.羅爾曼;M.杜布斯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | OC歐瑞康巴爾斯公司 |
| 主分類號(hào): | H01J37/34 | 分類號(hào): | H01J37/34 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 蔣駿;李浩 |
| 地址: | 列支敦士*** | 國省代碼: | 列支敦士登;LI |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁控管 濺射 設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及依照權(quán)利要求1的前序的一種磁控管濺射設(shè)備,其中該設(shè)備包括基板支承件,其在基板平面內(nèi)限定了平面基板表面,其中縱向中心平面沿縱向中心線垂直地與基板表面相交,用于承載基板,該設(shè)備包括標(biāo)靶組件,其具有兩個(gè)基本上長方形的標(biāo)靶,該標(biāo)靶被平行地布置在縱向中心平面的相對(duì)側(cè)處的基板支承件上方,每個(gè)標(biāo)靶具有標(biāo)靶板,其中標(biāo)靶表面面向基板表面且在縱向上延伸超過該基板表面的邊界,以及磁鐵構(gòu)造被布置在與標(biāo)靶表面相對(duì)的標(biāo)靶板的背側(cè)處。
這種類型的設(shè)備被用來利用從標(biāo)靶組件的標(biāo)靶表面釋放出的材料的薄膜來覆蓋基板的表面。然后,基板通常被切成被使用在半導(dǎo)體裝置的產(chǎn)品及其他物品中的矩形芯片。
背景技術(shù)
一般類型的磁控管濺射設(shè)備是從US5,415,757?A得知的。此類型的濺射設(shè)備的一般問題在于形成在基板的表面上的薄膜的厚度傾向于相當(dāng)大地變化,經(jīng)常變化達(dá)10%,且此外,標(biāo)靶具有例如200mm的直徑,導(dǎo)致了從基板切割的產(chǎn)品的可變性質(zhì)。在某種程度上,厚度可通過永久旋轉(zhuǎn)基板而被均等化,然而,這需要可旋轉(zhuǎn)的支承件且尤其導(dǎo)致設(shè)備更復(fù)雜和昂貴,因?yàn)榛寮皹?biāo)靶組件必須被收容在真空室中。
也已知的是,在單個(gè)標(biāo)靶與基板之間提供準(zhǔn)直器,以便形成具有例如在WO?2008/080?244?A1中所解釋的磁化的優(yōu)選方向的磁層。然而,與已知的標(biāo)靶組件一起使用的準(zhǔn)直器對(duì)薄膜層的均勻性,尤其是相對(duì)于其厚度并未引起顯著的改良。
本發(fā)明的目的在于提供一種磁控管濺射設(shè)備,其允許了在基板表面上厚度的變化比較小的薄膜的形成,而不需要在濺射過程中永久地旋轉(zhuǎn)或者以其他方式使基板相對(duì)于標(biāo)靶移動(dòng)。
發(fā)明內(nèi)容
該目的由包含于權(quán)利要求1的特征部分的附加特征所實(shí)現(xiàn),即每個(gè)標(biāo)靶板相對(duì)于基板平面朝向縱軸附近的中心平面傾斜,使得在標(biāo)靶表面的中心點(diǎn)處的標(biāo)靶表面的面法線在所有情況下都被基本上指引向基板表面,標(biāo)靶板的標(biāo)靶表面圍成小于180°的角度,且提供了至少一個(gè)準(zhǔn)直器,該至少一個(gè)準(zhǔn)直器具有在與該縱向中心平面基本上垂直的側(cè)向上延伸的基本上平面的平行準(zhǔn)直器板,該至少一個(gè)準(zhǔn)直器被置于每個(gè)標(biāo)靶表面與基板表面之間。
已發(fā)現(xiàn)的是,利用根據(jù)本發(fā)明的磁控管濺射設(shè)備,可能將薄膜置放在相對(duì)大的基板上,例如,如上述提到的直徑200mm的圓盤上,其厚度取決于各種參數(shù)僅與平均值偏差2至4%或更小。還已經(jīng)證明的是,厚度分布在標(biāo)靶壽命期間幾乎不改變。這種結(jié)果通常在濺射過程期間不需要永久旋轉(zhuǎn)基板支承件的情況下是可實(shí)現(xiàn)的,在許多情況下基板支承件甚至保持固定,減少了設(shè)備的復(fù)雜性。
附圖說明
在以下參照僅示出實(shí)施例的附圖來更詳細(xì)地解釋本發(fā)明。
圖1a示意性示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的磁控管濺射設(shè)備的正視圖;
圖1b意義性示出了圖1a的實(shí)施例的俯視圖;
圖2a示意性示出了根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的磁控管濺射設(shè)備的正視圖;
圖2b示意性示出了圖2a的實(shí)施例的俯視圖;
圖3示意性示出了圖2a和2b的實(shí)施例的局部截面圖;以及
圖4示出了說明利用圖2a、2b、2c的實(shí)施例所執(zhí)行的濺射過程的結(jié)果的示圖。
具體實(shí)施方式
磁控管濺射設(shè)備包括真空室1以及靠近真空室底部的基板支承件2,該基板支承件2優(yōu)選本質(zhì)上是固定的,但是也可被安裝以便在側(cè)向上可位移且可旋轉(zhuǎn)。其被配置成保持基板3,該基板3展示了平面基板表面4,該平面基板表面4限定了基板平面且具有特定形狀。在所描述的情況中,基板3是具有例如200mm的直徑的圓盤且基板表面因此是具有相同直徑的圓形。但是其他形狀的平面基板(例如四邊形平面基板)也同樣可能。基板的直徑通常在100mm與305mm之間。
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