[發(fā)明專利]具有非均勻真空分布的裸芯安裝端部有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201180004373.0 | 申請日: | 2011-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN102782829A | 公開(公告)日: | 2012-11-14 |
| 發(fā)明(設計)人: | P.K.萊;K.伯克;王麗;黃金香;邰恩勇;王健華;K.翁 | 申請(專利權(quán))人: | 晟碟半導體(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/68 | 分類號: | H01L21/68;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 邱軍 |
| 地址: | 200241 中*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 均勻 真空 分布 安裝 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
實施例涉及將切片的半導體裸芯與粘接帶分離的系統(tǒng)。
背景技術(shù)
便攜式消費者電子裝置銷量上的迅猛發(fā)展推動高容量存儲裝置的需求。諸如閃存存儲卡的非易失性半導體存儲裝置正變?yōu)閺V泛用于滿足數(shù)字信息存儲和交換的不斷發(fā)展的需要。它們的便攜性、多功能性以及堅固耐用的設計,伴隨著它們的高可靠性和大容量,已經(jīng)使這樣的存儲裝置理想地用于廣泛種類的電子裝置,所述電子裝置例如包括數(shù)字照相機、數(shù)字音樂播放器、電子游戲機、PDA和移動電話。
盡管已經(jīng)知曉廣泛種類的封裝構(gòu)造,但是閃存存儲卡通常可制作為系統(tǒng)封裝(SiP)或者多芯片模塊(MCM),其中多個裸芯以所謂的三維堆疊構(gòu)造安裝在基板上。傳統(tǒng)半導體封裝體20(沒有模塑化合物)的側(cè)視圖顯示在現(xiàn)有技術(shù)圖1中。典型的封裝體包括安裝在基板26上的多個半導體裸芯22、24。雖然圖1中沒有示出,但是半導體裸芯在裸芯的上表面上形成有引線鍵合焊墊。基板26可由上下導電層之間夾著的電絕緣核形成。上和/或下導電層可被蝕刻以形成導電圖案,導電圖案包括電引線和接觸焊墊。引線鍵合30連接在半導體裸芯22、24的引線鍵合焊墊和基板26的電引線之間,以電連接半導體裸芯到基板。基板上的接觸焊墊進而提供裸芯和主裝置之間的電通道。一旦裸芯和基板之間進行電連接,所述組件然后典型地封入模塑化合物中以提供保護封裝體。
為了形成半導體封裝體,執(zhí)行裸芯安裝(die?attach)工藝,在所述工藝中,半導體裸芯從晶片切片,從粘接帶上拾取,并且接合到基板。現(xiàn)有技術(shù)圖2示出了晶片40,其包括多個半導體裸芯,例如裸芯22(圖2中僅標號了其中的一些)。晶片40上的每個半導體裸芯22已經(jīng)被加工為包括本領(lǐng)域已知的集成電路,其能夠執(zhí)行特定的電子功能。在為不好的裸芯而測試裸芯22后,晶片可設置在粘接劑膜44(稱為裸芯安裝膜(DAF)帶)上,然后例如通過鋸或激光切片。DAF帶可由粘接到帶上的裸芯安裝膜形成,并且在裸芯與所述帶分開時,所述膜可保持固定到裸芯的底表面。切片工藝將晶片分成單獨的半導體裸芯22,其保持固定到DAF帶。圖2示出了固定到DAF帶44的晶片40。
為了分離單獨的裸芯,晶片和DAF帶被設在加工工具中,其一部分顯示于現(xiàn)有技術(shù)圖3中。圖3示出了裸芯脫離工具50,其包括真空卡盤52,在真空卡盤52上支撐晶片40和DAF帶44。為了從DAF帶44剝離裸芯,拾取工具60設置為包括真空端部62。拾取工具60降落在裸芯22上,以使其從DAF帶44上移除,真空施加給端部62,并且裸芯22上拉而離開帶44。拾取工具然后傳輸用于安裝的裸芯22到基板或傳輸?shù)絼e的地方。
圖4示出了傳統(tǒng)真空端部62的仰視圖。端部包括多個真空孔64,在圖4中標出了其中的一些,所述真空孔用于給真空端部62的表面連通負壓。真空孔64上的負壓將裸芯22保持在拾取工具60上。在傳統(tǒng)的真空端部中,真空孔64均勻地分布在端部的表面上,例如如圖4所示。
傳統(tǒng)真空端部的一個缺點是,雖然真空孔64在裸芯的表面上施加均勻的壓強以使裸芯從DAF帶剝離,但是裸芯不是以均勻的壓強從DAF帶剝離。具體地講,在用刀片分割晶片期間,刀片導致在裸芯要切割的邊緣附近的剪切和法向力。剪切和法向力在裸芯的邊緣增加了裸芯和DAF帶之間的粘接力。這些粘接力是距裸芯邊緣的距離x的函數(shù),并且隨著距裸芯邊緣的距離的平方而減小。在一個示例中,DAF帶施加到裸芯的粘接力F(x)與某常數(shù)K成比例,除以距裸芯邊緣的距離x的平方:
F(x):K/(1+x2)
常數(shù)K是不同粘接機制導致的不同常數(shù)的總和。例如,化學接合發(fā)生在粘接劑和切片帶(dicing?tape)之間,其化學接合可在由于用刀片或激光切割引起的加熱時被加強。另外,作為切片的結(jié)果,靜電力也可產(chǎn)生在裸芯邊緣附近。此外,范德瓦爾斯力發(fā)生在DAF和切片帶的分子內(nèi)。
現(xiàn)有技術(shù)圖5顯示了由真空端部62產(chǎn)生在裸芯22上的向上力Fu以及由于裸芯22和DAF帶44之間的粘接產(chǎn)生在裸芯22上的向下力Fd。如上所述,在真空端部的向上力是均勻的情況下,向下力隨著距邊緣的距離的平方變化。現(xiàn)有技術(shù)圖5示出了由于向上力Fu和向下力Fd在裸芯上的所得的凈力Fn。如圖6所示,裸芯22上的凈力從裸芯的邊緣朝著中間變大。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





