[實(shí)用新型]芯片封裝結(jié)構(gòu)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201120486647.1 | 申請日: | 2011-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN202384328U | 公開(公告)日: | 2012-08-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 彭蘭蘭 | 申請(專利權(quán))人: | 彭蘭蘭 |
| 主分類號: | H01L23/498 | 分類號: | H01L23/498;H01L23/31 |
| 代理公司: | 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214 | 代理人: | 吳世民 |
| 地址: | 523000 廣東省東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 芯片 封裝 結(jié)構(gòu) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種芯片封裝結(jié)構(gòu),尤其是一種可靠性高的芯片封裝結(jié)構(gòu)。?
背景技術(shù)
目前可撓性電路板與芯片的接合多事采用卷帶式自動接合封裝結(jié)合來達(dá)成,其中又分為卷帶承載封裝及薄膜覆晶封裝。?
然而這兩種封裝結(jié)構(gòu)的這些引腳與這些導(dǎo)電凸塊之間易有接合強(qiáng)度不足的情形發(fā)生,以至于引腳與導(dǎo)電凸塊之間產(chǎn)生剝離的現(xiàn)象,進(jìn)而導(dǎo)致改兩種封裝結(jié)構(gòu)的制造良率下降。?
因此,現(xiàn)有技術(shù)有待于改進(jìn)和提高。?
發(fā)明內(nèi)容
為克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足之處,本實(shí)用新型的目的是提供一種可有效地加強(qiáng)引腳與導(dǎo)電凸塊之間的結(jié)合力的芯片封裝結(jié)構(gòu)。?
本實(shí)用新型是通過以下技術(shù)手段來達(dá)到上述目的:一種芯片封裝結(jié)構(gòu),包括可撓性基材,芯片和封膠體,所述的可撓性基材上表面設(shè)有多個引腳,該些引腳的部分區(qū)域覆蓋有焊罩層,所述的引腳的內(nèi)端面上設(shè)有凸起部,該凸起部與芯片下表面設(shè)置的導(dǎo)電凸塊相適配;所述的封膠體包覆芯片、導(dǎo)體凸塊、焊罩層以及引腳的部分區(qū)域。?
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果是:由于采用上述結(jié)構(gòu),本實(shí)用新型可增加導(dǎo)電凸塊與引腳之間的接觸面積,進(jìn)而使得引腳與導(dǎo)電凸塊之間結(jié)合力增加。?
附圖說明
附圖1為本實(shí)用新型芯片封裝結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。?
圖中各標(biāo)號分別是:(1)可撓性基材,(2)引腳,(3)焊罩層,(4)凸起部,(5)導(dǎo)電凸塊,(6)芯片,(7)封膠體。?
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明:?
參看圖1,本實(shí)用新型一種芯片封裝結(jié)構(gòu),包括可撓性基材1,芯片6和封膠體7,所述的可撓性基材1上表面設(shè)有多個引腳2,該些引腳2的部分區(qū)域覆蓋有焊罩層3,所述的引腳2的內(nèi)端面上設(shè)有凸起部4,該凸起部4與芯片6下表面設(shè)置的導(dǎo)電凸塊5相適配;所述的封膠體7包覆芯片6、導(dǎo)體凸塊5、焊罩層3以及引腳2的部分區(qū)域。
以上所述,僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并非對本實(shí)用新型作任何形式上的限制,任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員可能利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容加以變更或修飾為等同變化的等效實(shí)施例,但是凡未脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案內(nèi)容,依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾,均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。?
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