[實用新型]消除LCM關機殘影的測試裝置

有效

• 申請號: 201120445511.6
• 申請日: 2011-11-11
• 公開（公告）號: CN202385228U
• 公開（公告）日: 2012-08-15
• 發明（設計）人: 丁學文
• 申請（專利權）人: 星源電子科技（深圳）有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識產權事務所 44248
• 代理人: 孫偉

技術領域

本實用新型涉及檢測技術，特別涉及液晶模組性能測試的裝置。

背景技術

液晶模組LCM在關機時會有殘影，其主要是由模組的顯示電極放電過慢造成電場殘留引起的。雖然現有的驅動IC，在關機時，會把所有的GATE線路置高，以打開TFT，把顯示電極上的電荷通過SOURCE電路放出去，但是速度過慢。這種殘存的電場，對顯示電極間的液晶材料是極其有害的，然而在LCM生產過程中的測試階段，現在還沒有比較可靠的設備對該性能進行測試。

發明內容

本實用新型提供一種測試設備，解決現有技術中不能有效測試關機殘影的技術問題。

本實用新型為解決上述技術問題而提供的這種一種消除LCM關機殘影的測試裝置，其特征在于：該測試裝置包括連接被測液晶模組LCM的測試單元，該測試單元至少第一至第五、輸出端口，其中第一輸出端口連接液晶模組LCM，第二輸出端口通過電阻R接LCM驅動芯片IO輸入，所述電阻R還并聯有電容C，該第二輸出端口還通過第一電子開關S₁以及復位開關K₂接地；第三輸出端口連接有雙擲開關K₁，該雙擲開關K₁的一路連接LCM驅動芯片IO輸入，另外一路接地；該測試裝置還包括有或門芯片U，該或門芯片U的一個輸入端連接第四輸出端口，另外的一個輸入端連接第三輸出端口，或門芯片U的輸出端連接第一電子開關S₁的控制端；所述第五輸出端口連接第二電子開關S₃，該第二電子開關S₃串聯在液晶模組LCM的電源輸入上。

本實用新型的有益效果是：通過將傳統的模組關機模式做了修改，通過程序，在LCM驅動IC斷電前，使顯示電極上的電荷盡量的少，以有效的消除LCM的關機殘影，達到保護LCM的目的。

附圖說明

圖1是本實用新型測試裝置的電路原理圖。

具體實施方式

結合上述附圖說明本實用新型的具體實施例。

由圖1中可知，這種消除LCM關機殘影的測試裝置包括連接被測液晶模組LCM的測試單元10，測試單元10為芯片或單板機，該測試單元至少第一至第五、輸出端口，其中第一輸出端口11連接液晶模組LCM，第二輸出端口12通過電阻R接LCM驅動芯片IO輸入，所述電阻R還并聯有電容C，該第二輸出端口12還通過第一電子開關S₁以及復位開關K₂接地；第三輸出端口13連接有雙擲開關K₁，該雙擲開關K₁的一路連接LCM驅動芯片IO輸入，另外一路接地；該測試裝置還包括有或門芯片U，該或門芯片U的一個輸入端連接第四輸出端口14，另外的一個輸入端連接第三輸出端口13，或門芯片U的輸出端連接第一電子開關S₁的控制端；所述第五輸出端口15連接第二電子開關S₃，該第二電子開關S₃串聯在液晶模組LCM的電源輸入上。

本實用新型改變了LCM的關機模式，并不像傳統方式那樣，立即關掉LCM的電源，而是利用延時程序，在關機時，將各個顯示單元寫入最低灰度（以16位顯示數據為例，常白模組為FFFFH，常黑模組為0000H），使顯示電極與COMMON電極間的電勢差最小，顯示電極上的電荷盡量的少，再關掉電源，這樣，關機后的放電過程會進行的很快，達到消除殘影的目的。

大部分的LCM測試電路板都是由單片機來控制的，如圖1所示，在單片機的外部中斷接上一個單刀雙擲開關，分別連接IOVCC和GND，中斷模式選擇邊沿觸發，開關則設定為按下時，接通IOVCC，彈開時，接通GND，正常工作為按下狀態，此時外部中斷位檢測到的信號為高電平，單片機正常工作，提供LCM驅動所需信號，當需要關閉LCM時，把開關擲向GND，此時外部中斷位變為低電平，中斷位檢測到由高到低的電平變化，中斷開始響應，開始執行中斷程序。

中斷程序為三個部分：

1、從第一行第一列的像素開始，為顯示單元送入FFFFH信號（這里指常白顯示模組，對于常黑顯示模組，送入信號為0000H），當送到最后一行最后一列的像素時為止，即送入一幀信號。這樣可以使各個顯示電極與COMMON電極的電壓最小，便于最終的放電。

2、單片機把控制信號2置低（在單片機開始工作時，通過程序把此位置高），通過電子開關，關掉LCM驅動IC電源。由于第一步的作用，關掉電源后，殘影會很快消失。