[實用新型]消除LCM關機殘影的測試裝置

有效

• 申請號: 201120445511.6
• 申請日: 2011-11-11
• 公開（公告）號: CN202385228U
• 公開（公告）日: 2012-08-15
• 發明（設計）人: 丁學文
• 申請（專利權）人: 星源電子科技（深圳）有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識產權事務所 44248
• 代理人: 孫偉

1.一種消除LCM關機殘影的測試裝置，其特征在于：該測試裝置包括連接被測液晶模組LCM的測試單元（10），該測試單元至少第一至第五、輸出端口，其中第一輸出端口（11）連接液晶模組LCM，第二輸出端口（12）通過電阻R接LCM驅動芯片IO輸入，所述電阻R還并聯有電容C，該第二輸出端口（12）還通過第一電子開關S₁以及復位開關K₂接地；第三輸出端口（13）連接有雙擲開關K₁，該雙擲開關K₁的一路連接LCM驅動芯片IO輸入，另外一路接地；該測試裝置還包括有或門芯片U，該或門芯片U的一個輸入端連接第四輸出端口（14），另外的一個輸入端連接第三輸出端口（13），或門芯片U的輸出端連接第一電子開關S₁的控制端；所述第五輸出端口（15）連接第二電子開關S₃，該第二電子開關S₃串聯在液晶模組LCM的電源輸入上。

2.根據權利要求1所述消除LCM關機殘影的測試裝置，其特征在于：所述測試單元（10）為芯片。

3.根據權利要求1所述消除LCM關機殘影的測試裝置，其特征在于：所述測試單元（10）為單板機。