[實用新型]FTIR分析檢測儀光路保護裝置

有效

• 申請號: 201120301350.3
• 申請日: 2011-08-18
• 公開（公告）號: CN202204765U
• 公開（公告）日: 2012-04-25
• 發明（設計）人: 宋津京;郝俊勝
• 申請（專利權）人: 三星高新電機（天津）有限公司
• 主分類號: G01N21/15
• 分類號: G01N21/15
• 代理公司: 天津市三利專利商標代理有限公司 12107
• 代理人: 閆俊芬

技術領域

本實用新型涉及一種FTIR分析檢測儀，尤其是一種FTIR分析檢測儀光路保護裝置。

背景技術

對有機物質的分析檢測經常用到FTIR分析檢測儀。在對有機物質進行分析時，分析樣品放置于樣品固定臺上，FTIR分析檢測儀的光路位于顯微主體與放置樣品的固定臺之間，通過透射法進行成分分析。由于光路的外部由膠性物質保護，密封性不佳，長期使用中容易引起灰塵進入，導致聚光鏡被污染，影響聚光鏡的照明作用，使儀器無法正常使用。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是提供一種能夠有效的防止灰塵進入光路底部的聚光鏡，避免對透射檢測造成影響，提高了準確性及減少儀器故障的FTIR分析檢測儀光路保護裝置。

為解決上述問題，本實用新型的一種FTIR分析檢測儀光路保護裝置，包括顯微主體，聚光鏡位于顯微主體上，顯微主體上方一定距離設置有放置樣品的固定臺，光路位于顯微主體與固定臺之間，其特征在于：所述顯微主體與固定臺之間還設置有防塵罩，光路位于該防塵罩中。

所述防塵罩通過螺栓固定在顯微主體上。

所述防塵罩與顯微主體之間以及防塵罩與固定臺之間的接觸端部氣密封。

采用本實用新型結構的FTIR分析檢測儀光路保護裝置，能夠更好地確保光路通透，有效地防止灰塵進入，使光路底部的聚光鏡保持清潔，對透射樣品有良好的照明作用，提高樣品檢測的準確性，減少因灰塵擋住聚光鏡而引起的儀器故障。

附圖說明

圖1為本實用新型FTIR分析檢測儀光路保護裝置的結構示意圖。

具體實施方式

為了使本技術領域的人員更好地理解本實用新型技術方案，下面結合附圖和實施方式對本實用新型作進一步的詳細說明。

如圖1所示，本實用新型的FTIR分析檢測儀光路保護裝置，包括顯微主體1，聚光鏡(圖中未示出)位于顯微主體1上，顯微主體1上方一定距離設置有放置樣品的固定臺2，光路3位于顯微主體1與固定臺2之間。

所述顯微主體1與固定臺2之間還設置有防塵罩4，光路3位于該防塵罩4中。

所述防塵罩4通過螺栓固定在顯微主體1上。

所述防塵罩4與顯微主體1之間以及防塵罩4與固定臺2之間的接觸端部氣密封。