[實用新型]FTIR分析檢測儀光路保護裝置有效
| 申請號： | 201120301350.3 | 申請日： | 2011-08-18 |
| 公開（公告）號： | CN202204765U | 公開（公告）日： | 2012-04-25 |
| 發明（設計）人： | 宋津京;郝俊勝 | 申請（專利權）人： | 三星高新電機（天津）有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/15 | 分類號： | G01N21/15 |
| 代理公司： | 天津市三利專利商標代理有限公司 12107 | 代理人： | 閆俊芬 |
| 地址： | 300385 天津市*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | ftir 分析 檢測 儀光路 保護裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種FTIR分析檢測儀光路保護裝置，包括顯微主體，聚光鏡位于顯微主體上，顯微主體上方一定距離設置有放置樣品的固定臺，光路位于顯微主體與固定臺之間，其特征在于：所述顯微主體與固定臺之間還設置有防塵罩，光路位于該防塵罩中。
2.如權利要求1所述FTIR分析檢測儀光路保護裝置，其特征在于：所述防塵罩通過螺栓固定在顯微主體上。
3.如權利要求1或2所述FTIR分析檢測儀光路保護裝置，其特征在于：所述防塵罩與顯微主體之間以及防塵罩與固定臺之間的接觸端部氣密封。
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