[實用新型]一種肖特基二極管有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201120285403.7 | 申請日: | 2011-08-08 |
| 公開(公告)號: | CN202189789U | 公開(公告)日: | 2012-04-11 |
| 發(fā)明(設計)人: | 趙為濤;苗本秀;張錄周 | 申請(專利權(quán))人: | 山東沂光電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L29/872 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 276017 山東省臨*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 肖特基 二極管 | ||
技術領域
本實用新型涉及半導體器件技術領域,特別是涉及一種二極管。
背景技術
肖特基二極管的正向壓降低、反向恢復時間短、開關速度快、噪聲系數(shù)小、串聯(lián)電阻小,被廣泛應用于微波混頻、檢波及高速開關電路等領域,現(xiàn)有的硅肖特基二極管,防靜電放電性能低下,容易因為耐靜電不夠而產(chǎn)生早期失效,從而使其應用場合受到了極大限制。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的是克服現(xiàn)有技術的不足,提供一種低噪聲、低功耗、超高頻、具有優(yōu)良的正向和反向特性的肖特基二極管。
本實用新型包括硅襯底、硅外延層、二氧化硅、P+環(huán)、金屬硅化物、阻擋金屬層、粘附金屬層和金屬電極層,所述硅襯底上生長有硅外延層,硅外延層上沉積有二氧化硅,硅襯底和硅外延層為N型半導體硅材料,在硅外延層中具有P+環(huán),P+環(huán)與硅外延層形成一單邊突變PN結(jié),與肖特基結(jié)并聯(lián),金屬硅化物在二氧化硅的窗口內(nèi),在二氧化硅的窗口上依次覆蓋阻擋金屬層、粘附金屬層和金屬電極層。
阻擋金屬層的厚度為7000~7200?;粘附金屬層的厚度為6800~7200?;金屬電極層的厚度為10000?。
阻擋金屬層是鈦鎢合金,粘附金屬層是鈦,金屬電極層是銀。
本實用新型由于采用以上結(jié)構(gòu),與現(xiàn)有技術相比具有:低噪聲、低功耗、超高頻、具有優(yōu)良的正向和反向特性的優(yōu)點。
附圖說明
附圖為本實用新型一種肖特基二極管的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中:1、硅襯底,2、硅外延層,3、二氧化硅,4、P+環(huán),5、金屬硅化物,6、阻擋金屬層,7、粘附金屬層,8、金屬電極層。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本實用新型作詳細說明:
如附圖所示,其包括硅襯底、硅外延層、二氧化硅、P+環(huán)、金屬硅化物、阻擋金屬層、粘附金屬層和金屬電極層,硅襯底上生長有硅外延層,硅外延層上沉積有二氧化硅,硅襯底和硅外延層為N型半導體硅材料,在硅外延層中具有P+環(huán),P+環(huán)與硅外延層形成一單邊突變PN結(jié),與肖特基結(jié)并聯(lián),金屬硅化物在二氧化硅的窗口內(nèi),在二氧化硅的窗口上依次覆蓋阻擋金屬層、粘附金屬層和金屬電極層。
阻擋金屬層的厚度為7000?,粘附金屬層的厚度為7000?,金屬電極層的厚度為10000?。阻擋金屬層是鈦鎢合金,粘附金屬層是鈦,金屬電極層是銀。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





